一种感测灵敏度测试装置及方法、电容式感测设备，所述装置包括：感测灵敏度电容阵列、以及耦合于待测试的感测通道和所述感测灵敏度电容阵列之间的感测传感器通道选择开关组；所述感测传感器通道选择开关组用于选择所述待测试的感测通道；所述感测灵敏度电容阵列包括一个或多个灵敏度电容和电容选择开关组，所述电容选择开关组用于控制接入到所述感测通道的灵敏度电容大小。利用本发明专利技术，可以对感测灵敏度测试实现更加灵活、精细的灵敏度测试。精细的灵敏度测试。精细的灵敏度测试。
【技术实现步骤摘要】
感测灵敏度测试装置及方法、电容感测设备
[0001]本专利技术涉及电容式接近传感器设备领域，具体涉及一种感测灵敏度测试装置及方法，还涉及一种电容感测设备。
技术介绍
[0002]电容式传感器越来越广泛地被应用于个人计算机、多媒体播放器、游戏机、消费类电子产品、移动通讯设备、家用电子产品等领域。电容感测设备的感测灵敏度、实现成本是诸多电子系统所注重的因素。
[0003]如图1所示，传统的感测灵敏度测试方法是在电容感测装置10的外部，通过金属连线将电容感测装置10的传感器通道的焊盘11连接至合适大小的电容式传感器20，然后利用如铜柱、手指等物体接触/靠近所述的电容式传感器20，观察电容感测装置10所感测到的信号大小，或观察电容感测装置10有无输出有效的感测结果，以此来测试感测灵敏度。
[0004]传统的感测灵敏度测试方法存在以下缺点：
[0005](1)这种测试方法精度比较低，不能精确地测量感测设备的感测灵敏度。由于铜柱、手指等物体与电容式传感器接近时所增加的电容量是一个较大值(例如0.4pF)，因此只能测出在这种电容增量下的信号强度，而难以测试更细粒度的电容增量(例如0.1pF)下的感测灵敏度。
[0006](2)这种测试方法缺乏灵活性，这主要体现在两个方面。第一，在测试时无法对增加的电容量进行精细的调节，例如测量电容每增加0.1pF所引起的信号变化。第二，由于要将电容感测装置的感测通道耦合到一定大小的电容传感器，所述电容传感器与感测通道自身的寄生电容之和相当于“背景电容”，但是在测试时如果想测量不同“背景电容”下的感测灵敏度，则需要重新制作测试装置(如PCB板)，很不灵活。
[0007](3)这种方法增加了测试成本。为了测试感测灵敏度，需要制作专门的测试装置(如PCB板)，还需要借助如铜柱等物体辅助测试，增加了测试成本开销。
技术实现思路
[0008]本专利技术实施例提供一种感测灵敏度测试装置及方法，以提高电容感测设备的测试精度及灵活性。
[0009]为此，本专利技术实施例提供如下技术方案：
[0010]一种感测灵敏度测试装置，用于电容式感测设备，所述装置包括：感测灵敏度电容阵列、以及耦合于待测试的感测通道和所述感测灵敏度电容阵列之间的感测传感器通道选择开关组；
[0011]所述感测传感器通道选择开关组用于选择所述待测试的感测通道；
[0012]所述感测灵敏度电容阵列包括一个或多个灵敏度电容和电容选择开关组，所述电容选择开关组用于控制接入到所述感测通道的灵敏度电容大小。
[0013]可选地，所述电容选择开关组耦接于所述灵敏度电容和所述感测通道开关组之
间。
[0014]可选地，所述电容选择开关组包括一个或多个电容选择开关，每个电容选择开关连接一个所述灵敏度电容。
[0015]可选地，所述感测传感器通道选择开关组包括一个或多个通道选择开关，每个通道选择开关连接或断开一个待测试的感测通道。
[0016]可选地，所述感测传感器通道选择开关组和所述感测灵敏度电容阵列均集成在所述电容感测设备内。
[0017]可选地，所述装置还包括所述感测通道自身的寄生电容。
[0018]一种电容式感测设备，所述设备包括电容感测电路、分别与所述电容感测电路及待测试的感测通道耦接的开关电路、以及如前面所述的感测灵敏度测试装置。
[0019]一种感测灵敏度测试方法，所述方法包括：
[0020]依次选择待测的感测通道，并启动电容感测设备进行电容感测；
[0021]设置接入到所述感测通道的灵敏度电容大小，并通过电容感测过程获取电容感测值；
[0022]依次改变接入到所述感测通道的灵敏度电容大小，并通过电容感测过程获取电容感测值，直至所有待测灵敏度电容均已被接入并完成测试。
[0023]可选地，所述选择待测的感测通道包括：
[0024]通过配置的感测传感器通道选择开关组选择待测的感测通道。
[0025]可选地，所述改变接入到所述感测通道的灵敏度电容大小包括：
[0026]通过配置的包括电容选择开关组及灵敏度电容的感测灵敏度电容阵列改变接入到所述感测通道的灵敏度电容大小。
[0027]本专利技术实施例提供的感测灵敏度测试装置及方法，利用感测灵敏度电容阵列和感测传感器通道选择开关组，对感测灵敏度测试实现更加灵活、精细的灵敏度测试。其中，感测灵敏度电容阵列中的每个灵敏度电容大小可根据电容感测设备的灵敏度要求进行设置，通过控制灵敏度电容阵列中的电容选择开关状态，可实现多档位的灵敏度电容接入，使得灵敏度测试更加灵活。并且，可根据测试要求在电容感测设备外部灵活地耦接不同大小的电容元器件，方便感测通道接入不同的外部电容，而无需耦接特定大小的电容传感器，因此测试起来更加灵活方便。
[0028]本专利技术实施例提供的电容感测设备将所述感测灵敏度测试装置的所述感测传感器通道选择开关组和所述感测灵敏度电容阵列集成在设备内，可根据测试要求在电容感测设备外部灵活地耦接不同大小的电容元器件，方便感测通道接入不同的外部电容以实现不同“背景电容”下的感测灵敏度测试，而无需耦接特定大小的电容传感器，因此测试起来更加灵活方便。
附图说明
[0029]图1是现有技术中电容感测设备的一种结构示意图。
[0030]图2是根据本专利技术的一个实施例的感测灵敏度测试装置的结构示意图。
[0031]图3是利用本专利技术的一个实施例的感测灵敏度测试装置对感测通道进行测试的示意图。
[0032]图4是根据本专利技术的一个实施例电容感测设备的结构示意图；
[0033]图5是根据本专利技术的另一个实施例的感测灵敏度测试方法的流程示意图。
[0034]图6是根据本专利技术的另一个实施例的感测灵敏度曲线示意图。
[0035]图7是根据本专利技术的另一个实施例的感测灵敏度曲线示意图。
具体实施方式
[0036]为使本专利技术的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细的说明。
[0037]以下描述阐述众多特定细节，例如特定系统、组件、方法等的实例，以便提供对本专利技术的若干实施例的更好理解。然而，所属领域的技术人员将显而易见，可在无这些特定细节的情况下实践本专利技术的至少一些实施例。在其它例子中，未详细描述或未以简单的框图格式呈现众所周知的组件或方法，以便避免不必要地使本专利技术模糊不清。因此，所阐述的特定细节仅为示范性的。特定实施方案可不同于这些示范性细节且仍预期在本专利技术的范畴内。
[0038]本专利技术的实施例提出了一种感测灵敏度测试装置，用于电容感测设备，可以精确地测量感测设备的感测灵敏度，有效提高电容感测设备的测试精度及灵活性。
[0039]如图2所示，在本专利技术的一个实施例中，感测灵敏度测试装置100包括：感测灵敏度电容阵列120、以及耦合于待测试的感测通道和所述感测灵敏度电容阵列120之间的感测传感器通道选择开关组110。其中：
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种感测灵敏度测试装置，用于电容式感测设备，其特征在于，所述装置包括：感测灵敏度电容阵列、以及耦合于待测试的感测通道和所述感测灵敏度电容阵列之间的感测传感器通道选择开关组；所述感测传感器通道选择开关组用于选择所述待测试的感测通道；所述感测灵敏度电容阵列包括一个或多个灵敏度电容和电容选择开关组，所述电容选择开关组用于控制接入到所述感测通道的灵敏度电容大小。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电容选择开关组耦接于所述灵敏度电容和所述感测通道开关组之间。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述电容选择开关组包括一个或多个电容选择开关，每个电容选择开关连接一个所述灵敏度电容。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述感测传感器通道选择开关组包括一个或多个通道选择开关，每个通道选择开关连接或断开一个待测试的感测通道。5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述感测传感器通道选择开关组和所述感测灵敏度电容阵列均集成在所述电容感测设备内。6.根据权利要求1至...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗挺松，石亦欣，于学球，俞军，
申请(专利权)人：上海复旦微电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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