本发明专利技术提供一种机台监控装置，其包括收发电路、存储器以及处理器。收发电路用以接收第一自检数据以及第一测量数据；存储器用以存储多个指令；以及处理器连接收发电路以及存储器，并用以载入并执行多个指令以：产生与第一自检数据以及第一测量数据相关的预测模型；经由收发电路接收第二自检数据，并依据第二自检数据以利用预测模型产生预测数据；以及依据预测数据以及数值范围产生监控结果，以依据监控结果进行监控。此外，一种机台监控方法亦在此公开。公开。公开。
【技术实现步骤摘要】
机台监控装置以及方法
[0001]本专利技术有关于一种监控技术，且特别涉及一种机台监控装置以及方法。
技术介绍
[0002]当工厂或厂房中的机台生产产品时，对产品或机台进行测量是产品品质把关的重要防线。然而，测量装置有时候会发生异常状态。此时，测量装置的测量的精准度便随之下降，且测量装置的测量数据也失去参考价值。因此，要如何得知测量装置发生异常状态以造成测量数据失去参考价值是本领域技术人员急欲解决的问题。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供一种机台监控装置，其包括收发电路、存储器以及处理器。收发电路用以接收第一自检数据以及第一测量数据，其中第一自检数据相关于测量装置，其中第一测量数据相关于由至少一机台所制造的多个第一产品；存储器用以存储多个指令；以及处理器连接收发电路以及存储器，并用以载入并执行多个指令以：产生与第一自检数据以及第一测量数据相关的预测模型；经由收发电路接收第二自检数据，并依据第二自检数据以利用预测模型产生预测数据；以及依据预测数据以及数值范围产生监控结果，以依据监控结果进行监控。
[0004]本专利技术提供一种机台监控方法，其中所述方法包括：通过收发电路接收第一自检数据以及第一测量数据，其中第一自检数据相关于测量装置，其中第一测量数据相关于由至少一机台所制造的多个第一产品；通过处理器对第一测量数据以及第一自检数据执行机器学习演算法以产生预测模型；通过处理器经由收发电路接收第二自检数据，并依据第二自检数据以利用预测模型产生预测数据；以及通过处理器依据预测数据以及数值范围产生监控结果，以依据监控结果进行监控。
[0005]基于上述，本专利技术提供的机台监控装置以及方法可预测机台在未来所制造的产品的测量数据，并可实时地检测测量装置是否发生异常状态。
附图说明
[0006]图1是根据本专利技术一些示范性实施例的机台监控装置的方框图。
[0007]图2是根据本专利技术一些实施例示出自检数据以及测量数据的示意图。
[0008]图3是根据本专利技术一些示范性实施例的机台监控方法的示意图。
[0009]图4是根据本专利技术一些示范性实施例的机台监控方法的流程图。
[0010]附图标记说明：
[0011]100：机台监控装置
[0012]110：收发电路
[0013]120：存储器
[0014]121：数据库
[0015]122：模型库
[0016]130：处理器
[0017]200：测量装置
[0018]300(1)～300(N)：机台
[0019]400：预警装置
[0020]S310～S360、S410～S440：步骤
[0021]t、t+1：自检时间
具体实施方式
[0022]图1是根据本专利技术一些示范性实施例的机台监控装置100的方框图。参照图1，机台监控装置100可以是任意的边缘运算(Edge Computing)装置(例如，智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑或伺服器等电子装置)。在实际应用中，机台监控装置100可连接测量装置200，测量装置200可连接至少一机台300(1)～300(N)，其中N可以为任意的正整数。
[0023]进一步而言，测量装置200可对机台300(1)～300(N)所制造的多个产品进行测量以产生测量数据。测量装置200也可进行自我检测以产生自检数据。如此一来，机台监控装置100可从测量装置200接收上述测量数据以及自检数据。
[0024]举例而言，测量装置200可对上述产品的各输出端或输入端等进行测量以产生测量数据(例如，电压、电流或功率等)，也可对自身的各输出端或输入端等进行自我检测以产生自检数据(例如，电压、电流或功率等)，进而将此测量数据以及此自检数据传送至机台监控装置100。
[0025]在一些实施例中，测量装置200可在多个自检时间进行自我检测(即，周期性地自我检测)。此外，在这些自检时间之间的多个测量时间段，测量装置200可对机台300(1)～300(N)所制造的多个产品进行测量。
[0026]举例而言，图2是根据本专利技术一些实施例示出自检数据以及测量数据的示意图。同时参照图1以及图2，测量装置200可在自检时间t执行自我检测n(即，执行第n次自我检测)以产生自检数据n，并可在自检时间t+1执行自我检测n+1(即，执行第n+1次自我检测)以产生自检数据n+1。
[0027]此外，测量装置200可在自检时间t以及自检时间t+1之间(即，上述测量时间段)执行产品测量k(即，执行第k次产品测量)至产品测量k+m(即，执行第k+m次产品测量)以产生测量数据k至测量数据k+m。换言之，在自检时间t以及自检时间t+1之间，测量装置200可对机台300(1)～300(N)所生产的m+1个产品进行测量。
[0028]以此类推，测量装置200也可在其他自检时间执行自我检测，并可于其他相邻两个自检时间之间进行产品测量。
[0029]值得注意的是，上述测量数据以及自检数据虽是通过测量装置200产生的，然而，在其他实施例中，上述测量数据以及自检数据也可以不是通过测量装置200产生的，而是通过机台300(1)～300(N)直接产生的(此时，机台300(1)～300(N)可视为上述的测量装置200，且自检数据可以是机台300(1)～300(N)对自身的各输出端或输入端等进行自我检测以产生的)。
[0030]在本实施例中，机台监控装置100可包括收发电路110、存储器120以及处理器130。
收发电路110可接收上述自检数据以及测量数据。存储器120可存储多个指令。处理器130可连接收发电路110以及存储器120，并用以载入并执行这些指令。
[0031]在一些实施例中，收发电路110例如是传送器电路、模拟
‑
数字转换器、数字
‑
模拟转换器、低噪音放大器、混频器、滤波器、阻抗匹配器、传输线、功率放大器、一个或多个天线电路以及本地存储媒体元件的其中之一或其组合。
[0032]在一些实施例中，存储器120可例如是任何形态的固定式或可移动式的存储器、硬盘或类似元件或上述元件的组合。
[0033]在一些实施例中，处理器130例如是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，或是其他可程序化的一般用途或特殊用途的微控制单元(Micro Control Unit，MCU)、微处理器(Microprocessor)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、可程序化控制器、特殊应用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)或其他类似元件或上述元件的组合。
[0034]在一些实施例中，处理器130可以有线或无线的方式连接收发电路110与存储器120。
[0035]图3是根据本专利技术一些示范性实施例的机台监控方法的示意图。图3所示实施本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种机台监控装置，包括：一收发电路，用以接收一第一自检数据以及一第一测量数据，其中该第一自检数据相关于一测量装置，其中该第一测量数据相关于由至少一机台所制造的多个第一产品；一存储器，用以存储多个指令；以及一处理器，连接该收发电路以及该存储器，并用以载入并执行该些指令以：产生与该第一自检数据以及该第一测量数据相关的一预测模型；经由该收发电路接收一第二自检数据，并依据该第二自检数据以利用该预测模型产生一预测数据；以及依据该预测数据以及一数值范围产生一监控结果，以依据该监控结果进行监控。2.如权利要求1所述的机台监控装置，其中该处理器更用以：对该第一测量数据以及该第一自检数据执行机器学习演算法以产生该预测模型。3.如权利要求1所述的机台监控装置，其中该第一自检数据对应于该测量装置的一第一自检时间，该第二自检数据对应于该测量装置的一第二自检时间，以及该第一测量数据对应于该测量装置所测量的该些第一产品的一第一测量时间段，其中该第一测量时间段在第一自检时间以及第二自检时间之间。4.如权利要求1所述的机台监控装置，其中该处理器更用以：经由该收发电路接收一第二测量数据，其中该第二测量数据相关于由该至少一机台所制造的多个第二产品，且该第二测量数据对应于该测量装置所测量的该些第二产品的一第二测量时间段；以及当判断与该第二测量数据以及该预测数据对应的至少一差值未小于至少一阈值时，依据该第二自检数据以及该第二测量数据更新该预测模型。5.如权利要求1所述的机台监控装置，其中该处理器更用以：当判断该预测数据在该数值范围之内时，产生与一正常状态相关的该监控结果；以及当判断该预测数据未在该数值范围之内时，产生与一异常状态相关的该监控结果。6.一种机台监控方法，包括：通过一收发电路接收一第一自检数据以及一第一测量数据，其中该第一自检数据相关于一测量装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈薇如，吴维轩，邓治华，
申请(专利权)人：台达电子工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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