半有源板卡的校准装置和系统制造方法及图纸

本申请公开了一种半有源板卡的校准装置和系统。其中，该装置包括：光模块、衰减仪、探针、中央控制器及传输部件，其中，光模块，用于发出发射光；衰减仪，与光模块连接，用于对发射光进行自动光衰减处理；探针，与衰减仪连接，用于探测衰减仪输出的发射光的电压值；中央控制器，与衰减仪和探针连接，用于控制调整衰减仪的衰减参数，还用于对探针探测出的电压值进行转换得到光功率；传输部件，与中央控制器连接，用于将至少两次转换得到的光功率传输给待校准的半有源板卡。本申请解决了由于手动操作导致的校准效率较低的技术问题。致的校准效率较低的技术问题。致的校准效率较低的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
半有源板卡的校准装置和系统


[0001]本申请涉及通信领域，具体而言，涉及一种半有源板卡的校准装置和系统。

技术介绍

[0002]目前，现有技术中提供的基于半有源板卡进行校准的过程通常包括：由专门的工作人员通过光功率计手动获取每个光模块发射到半有源板卡对应波道的第一组光功率，再通过串口将每个波道的第一组光功率手动写入到半有源板卡的对应波道。然后在对光模块发出的发射光进行衰减之后，再使用光功率计获取第二组光功率，并将第二组光功率通过串口写入到半有源板卡的对应波道，以计算得出该校准系数。
[0003]也就是说，相关技术提供的基于半有源装置进行校准的过程中，往往都是由专门的工作人员手动完成的，存在校准效率较低的问题。
[0004]针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种半有源板卡的校准装置和系统，以至少解决由于手动操作导致的校准效率较低的技术问题。
[0006]根据本申请实施例的一个方面，提供了一种半有源板卡的校准装置，包括：光模块、衰减仪、探针、中央控制器及传输部件，其中，上述光模块，用于发出发射光；上述衰减仪，与上述光模块连接，用于对上述发射光进行自动光衰减处理；上述探针，与上述衰减仪连接，用于探测上述衰减仪输出的发射光的电压值；上述中央控制器，与上述衰减仪和上述探针连接，用于控制调整上述衰减仪的衰减参数，还用于对上述探针探测出的电压值进行转换得到光功率；传输部件，与上述中央控制器连接，用于将至少两次转换得到的光功率传输给待校准的半有源板卡。
[0007]根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种半有源板卡的校准系统，其特征在于，包括如上述的半有源板卡的校准装置，以及上述待校准的半有源板卡。
[0008]在本申请实施例中，在半有源板卡的校准装置中，自动获取光模块发出的发射光，并由受到中央控制器控制的衰减仪对该发射光进行自动光衰减处理。在探针探测到衰减仪输出的发射光的电压值后，通过中央控制器对上述电压值进行转换以得到发射光的光功率，并将光功率通过传输部件自动传输至待校准的半有源板卡，从而实现全自动的校准处理，达到提高校准效率的目的，进而克服相关技术中仅能依赖手动操作完成校准所导致的校准效率较低的技术问题。
附图说明
[0009]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0010]图1是根据本申请实施例的一种可选的半有源板卡的校准装置所应用的系统的示
意图；
[0011]图2是根据本申请实施例的一种可选的半有源板卡的校准装置的结构示意图；
[0012]图3是根据本申请实施例的另一种可选的半有源板卡的校准装置的结构示意图；
[0013]图4是根据本申请实施例的另一种可选的半有源板卡的校准方法的流程图。
具体实施方式
[0014]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
[0015]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0016]根据本申请实施例的一个方面，提供了一种半有源板卡的校准装置。该装置可以但不限于应用于如图1所示的系统中，该系统包括：待校准板卡和校准工具板。其中，本申请实施例中的半有源板卡的校准装置可以但不限于设置于校准工具板中。
[0017]可选地，半有源板卡的校准装置的结构可以如图2所示，该装置包括：光模块202、衰减仪204、探针206、中央控制器208及传输部件210，其中，
[0018]光模块202，用于发出发射光；
[0019]衰减仪204，与光模块202连接，用于对发射光进行自动光衰减处理；
[0020]探针206，与衰减仪204连接，用于探测衰减仪输出的发射光的电压值；
[0021]中央控制器208，与衰减仪204和探针206连接，用于控制调整衰减仪的衰减参数，还用于对探针探测出的电压值进行转换得到光功率；
[0022]传输部件210，与中央控制器208连接，用于将至少两次转换得到的光功率传输给待校准的半有源板卡。
[0023]可选地，在本实施例中，上述半有源板卡的校准装置可以但不限于为应用于具有探针(Photodiode，简称PD)校准系数等各种半有源板卡装置
[0024]可选地，在本实施例中，上述传输部件可以包括但不限于CAN线。
[0025]作为一种可选的方案，衰减仪包括无衰减状态和被设置为按照目标衰减参数进行衰减的衰减状态，其中，在无衰减状态下，探针将探测出进行自动光衰减前的第一发射光的第一电压值；在衰减状态下，探针将探测出进行自动光衰减后的第二发射光的第二电压值。
[0026]可选地，在本实施例中，衰减仪的初始状态被设置为无衰减状态。也就是说，为了提高校准效率，在本实施例中可以将衰减仪的初始状态设置为无衰减状态，即并未配置任何衰减参数，在完成一次发射光的光功率的计算和传输之后，再调整衰减仪的衰减参数，并
完成再一次的发射光的光功率的计算和传输。从而实现调整一次衰减仪并获取两组光功率，以对待校准的半有源板卡实现高效校准的效果。
[0027]作为一种可选的方案，衰减仪包括被设置为按照第一衰减参数进行衰减的第一衰减状态和被设置为按照第二衰减参数进行衰减的第二衰减状态，其中，在第一衰减状态下，探针将探测出进行自动光衰减后的第一发射光的第一电压值；在第二衰减状态下，探针将探测出进行自动光衰减后的第二发射光的第二电压值。
[0028]在本实施例中，衰减仪还可以通过两次衰减调整操作来获得两组光功率，从而实现对衰减仪进行灵活调整的目的，以确保对待校准的半有源板卡进行校准的结果的准确性。
[0029]作为一种可选的方案，如图3所示，中央控制器208包括：
[0030]调整部件302，用于调整衰减仪的衰减参数；
[0031]处理器304，用于基于探针探测出的第一电压值计算得到第一发射光的第一光功率，并基于探针探测出的第二电压值计算得到第二发射光的第二光功率。
[0032]可选地，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半有源板卡的校准装置，其特征在于，包括：光模块、衰减仪、探针、中央控制器及传输部件，其中，所述光模块，用于发出发射光；所述衰减仪，与所述光模块连接，用于对所述发射光进行自动光衰减处理；所述探针，与所述衰减仪连接，用于探测所述衰减仪输出的发射光的电压值；所述中央控制器，与所述衰减仪和所述探针连接，用于控制调整所述衰减仪的衰减参数，还用于对所述探针探测出的电压值进行转换得到光功率；传输部件，与所述中央控制器连接，用于将至少两次转换得到的光功率传输给待校准的半有源板卡。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述衰减仪包括无衰减状态和被设置为按照目标衰减参数进行衰减的衰减状态，其中，在所述无衰减状态下，所述探针将探测出进行自动光衰减前的第一发射光的第一电压值；在所述衰减状态下，所述探针将探测出进行自动光衰减后的第二发射光的第二电压值。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述衰减仪的初始状态被设置为所述无衰减状态。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：缪鹏，陈海周，陈小丹，沈一春，符小东，
申请(专利权)人：中天通信技术有限公司，
类型：新型
国别省市：