一种金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪制造技术

本方案提供了一种金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪，包括控制模块，所述的控制模块连接有波发射器和波接收器，所述的波发射器用于根据控制模块发送的包含强度时变控制命令的同步信号发出时变波信号，所述的波接收器用于根据同步信号中的同步时钟同步采集所述时变波信号导向至电镀液发生的时变辐射信号，所述的波接收器连接有判断模块，所述的判断模块用于根据时变辐射信号和时变波信号判断金刚微粉浓度分布结果。本方案利用衍射现象提供一种能够对腔体中的金刚石微粉的浓度的实时监控，并可以用于监控腔体内金刚微粉的二维实时分布的方案，有助于提升金刚线的质量。有助于提升金刚线的质量。有助于提升金刚线的质量。

【技术实现步骤摘要】
一种金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪


[0001]本专利技术属于金刚微粉浓度检测领域，尤其是涉及一种金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪。

技术介绍

[0002]金刚线是把金刚石的微小颗粒镶嵌在高强度钢丝上，做成的金刚石切割线。金刚线因此具有了金刚石微型的锯齿，增加了钢线的切割能力，可以大大加快切割速度。
[0003]把金刚石镶嵌到钢丝上的过程叫上砂。金刚线上砂腔体中，镀液中的镀镍金刚石微粉的均匀分布完全靠搅拌器的充分搅拌，所以需要对上砂腔体中的金刚微粉的浓度进行检测。要确保镀液中的镀镍金刚石微粉的均匀分布就需要从两个角度来入手，其一是装置本身角度，其二是检测角度。目前对技术的研究普遍集中于装置本身，即集中研究如何通过改进装置来提高分布均匀程度，如中国专利公开的金刚线八线机生产上砂装置[公开号： CN212771026U]。而对于检测角度，目前对于上砂腔体中的金刚微粉的浓度的检测的方法普遍是周期性取样后使用浊度仪进行检测，然后对应调整镀液中的金刚石微粉量，但是这样的检测方式首先因为是取样检测，所以检测精度并不高，其次，该方式从取样到调整周期很长，通常以小时计，所以效率比较低，对上砂效率也造成了不可忽视的影响。此外，由于不能对金刚微粉在上砂腔体中的镀液中的浓度分布持续实时监控，因此当生产线上因意外情况出现，而造成镀液中金刚石微粉的含量下降/上升时无法实现及时掌握，而只能根据原来的设定继续持续小量补充，这种调控过程会造成镀液中金刚石微粉含量出现比较大的波动，金刚石微粉含量波动则会造成金刚线上金刚石颗粒的密度的波动，进而造成金刚线质量的波动。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是针对上述问题，提供一种金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪。
[0005]为达到上述目的，本专利技术采用了下列技术方案：
[0006]一种金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪，包括控制模块，所述的控制模块连接有波发射器和波接收器，所述的波发射器用于根据控制模块发送的包含强度时变控制命令的同步信号发出时变波信号，所述的波接收器用于根据同步信号中的同步时钟同步采集所述时变波信号导向至电镀液发生的时变辐射信号，所述的波接收器连接有判断模块，所述的判断模块用于根据时变辐射信号和时变波信号判断金刚微粉浓度分布结果。
[0007]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，所述波发射器、波接收器采用波长与金刚微粉尺寸相当的波。
[0008]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，所述波发射器、波接收器所对应的波为红外线，且所述的波发射器包括红外发光二极管阵列和发光控制电路；发光控制电路用于根据强度时变控制命令控制各红外发光二极管发出强度渐变的时变红外信号；
[0009]波接收器包括红外辐射检测阵列和二维辐射图像采集模块，所述的红外辐射检测阵列用于检测电镀液的红外辐射信号，所述的二维辐射图像采集模块用于根据同步时钟从红外辐射信号中同步采集时变辐射信号。
[0010]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，所述的红外辐射检测阵列采用阵列结构与红外发光二极管阵列一致，且密度大于或等于红外发光二极管阵列的红外探测器阵列来检测电镀液的红外辐射，并通过光电转换方式将检测到的红外辐射转变成电信号，从而得到二维的红外辐射信号。
[0011]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，所述的红外发光二极管阵列包括多个呈n边形结构的基件，每个基件内均具有均匀分布的n 个红外发光二极管，n≥3。
[0012]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，每个基件内的n 个红外发光二极管具有不同的波长；
[0013]且各红外发光二极管的波长均在λ
±
5um范围内，所述的λ为金刚微粉的尺寸；
[0014]红外辐射检测阵列的检测范围包括λ
‑
5um至λ+5um波段的全部红外辐射。
[0015]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，每个基件的n边形被划分为面积大小均相等的n个三角形，n个红外发光二极管分布于n 个三角形的中心以使n个红外发光二极管均匀分布于相应基件内；
[0016]构成红外发光二极管阵列的多个基件中，任意两个基件具有相同的红外发光二极管及波长组成，且任意两个基件相同波长的红外发光二极管对应于两个基件中的同一位置，以使红外发光二极管阵列中任意固定波长的两个相邻红外发光二极管之间的距离等长。
[0017]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，各红外发光二极管的波长均≥3um且≤8um，红外辐射检测阵列的检测范围包括3um至8um 波段的全部红外辐射；
[0018]所述的n＝6，且6个红外发光二极管的波长分别为3um、4um、5um、6um、 7um、8um；所述的红外发光二极管阵列中，各基件具有相同的红外发光二极管波长及组成，各基件之间相同波长的红外发光二极管在基件中所处位置相同。
[0019]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，所述的红外波为中红外波；
[0020]所述的红外发光二极管阵列由多个基件构成圆形阵列。
[0021]在上述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中，所述判断模块从波发射器、波接收器或控制模块处获取所述的时变波信号；
[0022]所述的判断模块包括经过训练的卷积神经网络。
[0023]本专利技术的优点在于：
[0024]利用衍射现象提供一种能够对腔体中的金刚石微粉的浓度的实时监控，并可以用于监控腔体内金刚微粉的二维实时分布的方案，有助于提升金刚线的质量；
[0025]应该卷积神经网络技术，利用经过训练的卷积神经网络，以原始的时变波信号和经过金刚石微粉作用的时变辐射信号为输入可输出浓度分布情况，能够给出更精确的判断结果。
附图说明
[0026]图1是本专利技术金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪的系统结构框图；
[0027]图2是本专利技术金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪以红外波长为例的系统结构框图；
[0028]图3是本专利技术金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中三边形结构的基件结构示意图；
[0029]图4是本专利技术金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中四边形结构的基件结构示意图；
[0030]图5是本专利技术金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中六边形结构的基件结构示意图；
[0031]图6是本专利技术金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪中由六边形结构的基件结构构成的红外发光二极管阵列的阵列结构图。
[0032]附图标记：控制模块1；波发射器2；红外发光二极管阵列21；发光控制电路22；波接收器3；红外辐射检测阵列31；二维辐射图像采集模块32；判断模块4。
具体实施方式
[0033]下面结合附图和具体实施方式对本专利技术做进一步详细的说明。
[0034]本实施例公开了一种金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪，用以解决对腔体中的金刚石微粉的浓度的实时监控，并可以用于监控腔体内金本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪，其特征在于，包括控制模块(1)，所述的控制模块(1)连接有波发射器(2)和波接收器(3)，所述的波发射器(2)用于根据控制模块(1)发送的包含强度时变控制命令的同步信号发出时变波信号，所述的波接收器(3)用于根据同步信号中的同步时钟同步采集所述时变波信号导向至电镀液发生的时变辐射信号，所述的波接收器(3)连接有判断模块(4)，所述的判断模块(4)用于根据时变辐射信号和时变波信号判断金刚微粉浓度分布结果。2.根据权利要求1所述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪，其特征在于，所述波发射器(2)、波接收器(3)采用波长与金刚微粉尺寸相当的波。3.根据权利要求2所述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪，其特征在于，所述波发射器(2)、波接收器(3)所对应的波为红外线，且所述的波发射器(2)包括红外发光二极管阵列(21)和发光控制电路(22)；发光控制电路(22)用于根据强度时变控制命令控制各红外发光二极管发出强度渐变的时变红外信号；波接收器(3)包括红外辐射检测阵列(31)和二维辐射图像采集模块(32)，所述的红外辐射检测阵列(31)用于检测电镀液的红外辐射信号，所述的二维辐射图像采集模块(32)用于根据同步时钟从红外辐射信号中同步采集时变辐射信号。4.根据权利要求3所述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪，其特征在于，所述的红外辐射检测阵列(31)采用阵列结构与红外发光二极管阵列(21)一致，且密度大于或等于红外发光二极管阵列(21)的红外探测器阵列来检测电镀液的红外辐射，并通过光电转换方式将检测到的红外辐射转变成电信号，从而得到二维的红外辐射信号。5.根据权利要求4所述的金刚砂镀液中金刚微粉浓度分布测试仪，其特征在于，所述的红外发光二极管阵列(21)包括多个呈n边形结构的基件，每个基件内均具有均匀分布的n个红外发光二极管，n...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵乘骥，安荣邦，陈康，
申请(专利权)人：浙江新瑞欣科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：