硅片自动测试设备制造技术

技术编号:35983314 阅读:9 留言:0更新日期:2022-12-17 22:55
本实用新型专利技术公开的属于硅片检测技术领域,具体为硅片自动测试设备,包括底座和顶板,所述顶板安装在底座的上端,还包括:用于对硅片长度和宽度测量的测量组件,所述测量组件安装在顶板上;用于支撑硅片横向和纵向放置的支撑组件,所述支撑组件安装在底座上,所述测量组件包括伸缩杆一和连接块一,本实用新型专利技术有益效果是:通过对硅片放置台上侧设置测量组件,以竖夹板对硅片两侧端进行夹持后通过红外距离传感器测量长度,然后通过硅片放置台自动转动90度后,再次对硅片进行夹持检测,自动测量出硅片的宽度,硅片检测过程中自动进行操作,不仅提高了硅片的测量效率,而且保证工人操作的安全性。安全性。安全性。

【技术实现步骤摘要】
硅片自动测试设备


[0001]本技术涉及硅片检测
,具体为硅片自动测试设备。

技术介绍

[0002]硅片是制作晶体管和集成电路的原料,一般是单晶硅的切片,硅片,是制作集成电路的重要材料,通过对硅片进行光刻、离子注入等手段,可以制成各种半导体器件,用硅片制成的芯片有着惊人的运算能力,科学技术的发展不断推动着半导体的发展,硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低,因此需要对来料硅片进行检测,工序主要用来对硅片的一些技术参数进行在线测量。
[0003]现有的硅片在生产后,需要再对硅片的长度和宽度进行检测,硅片的长度和宽度达标后,生产的硅片才是合格的,但是硅片长度检测后,还需要工人再次放置硅片的位置,再对硅片急性宽度检测,从而导致了硅片的检测效率低的问题。
[0004]因此,专利技术硅片自动测试设备很有必要。

技术实现思路

[0005]鉴于上述和/或现有硅片自动测试设备中存在的问题,提出了本技术。
[0006]因此,本技术的目的是提供硅片自动测试设备,通过对硅片放置台上侧设置测量组件,以竖夹板对硅片两侧端进行夹持后通过红外距离传感器测量长度,然后通过硅片放置台自动转动90度后,再次对硅片进行夹持检测,自动测量出硅片的宽度,硅片检测过程中自动进行操作,不仅提高了硅片的测量效率,而且保证工人操作的安全性,能够解决上述提出现有硅片长度检测后,还需要工人再次放置硅片的位置,再对硅片急性宽度检测,从而导致了硅片的检测效率低的问题。
[0007]为解决上述技术问题,根据本技术的一个方面,本技术提供了如下技术方案:
[0008]硅片自动测试设备,其包括:底座和顶板,所述顶板安装在底座的上端,还包括:
[0009]用于对硅片长度和宽度测量的测量组件,所述测量组件安装在顶板上;
[0010]用于支撑硅片横向和纵向放置的支撑组件,所述支撑组件安装在底座上。
[0011]作为本技术所述的硅片自动测试设备的一种优选方案,其中:所述测量组件包括伸缩杆一和连接块一,所述伸缩杆一安装在顶板的上端,所述连接块一安装在伸缩杆一的输出端。
[0012]作为本技术所述的硅片自动测试设备的一种优选方案,其中:所述连接块一的右端安装有竖夹板一,所述竖夹板一的右端安装有支撑板,所述支撑板的内壁开设有滑槽。
[0013]作为本技术所述的硅片自动测试设备的一种优选方案,其中:所述滑槽内侧滑动安装连接块二,所述连接块二的外壁安装有限位块,所述限位块在滑槽上侧滑动,所述连接块二下端安装有竖夹板二,所述竖夹板二的内壁安装有红外线接收管。
[0014]作为本技术所述的硅片自动测试设备的一种优选方案,其中:所述竖夹板一的左端安装有伸缩杆二,所述伸缩杆二的输出端和连接块二相连接,所述竖夹板一的左端还安装有红外距离传感器。
[0015]作为本技术所述的硅片自动测试设备的一种优选方案,其中:所述支撑组件包括支撑架和支撑杆,所述支撑架安装在底座的上端,所述支撑杆转动安装在支撑架的上端内侧。
[0016]作为本技术所述的硅片自动测试设备的一种优选方案,其中:所述支撑架上侧外侧安装有电机,所述电机输出端连接支撑杆,所述支撑杆的上端安装有用于放置硅片的支撑台。
[0017]作为本技术所述的硅片自动测试设备的一种优选方案,其中:所述支撑台的上端粘贴有贴片,所述支撑台的侧端安装有限位板。
[0018]与现有技术相比:
[0019]通过对硅片放置台上侧设置测量组件,以竖夹板对硅片两侧端进行夹持后通过红外距离传感器测量长度,然后通过硅片放置台自动转动90度后,再次对硅片进行夹持检测,自动测量出硅片的宽度,硅片检测过程中自动进行操作,不仅提高了硅片的测量效率,而且保证工人操作的安全性。
附图说明
[0020]图1为本技术硅片自动测试设备的结构图一;
[0021]图2为本技术硅片自动测试设备中支撑板安装的示意图;
[0022]图3为本技术硅片自动测试设备中支撑台的俯视图;
[0023]图4为本技术硅片自动测试设备中支撑架安装的俯视图;
[0024]图5为本技术硅片自动测试设备的结构图二。
[0025]图中:底座1、顶板11、测量组件2、伸缩杆一21、连接块一22、伸缩杆二23、红外距离传感器24、红外线接收管241、竖夹板一25、竖夹板二26、限位块261、连接块二262、支撑板27、滑槽271、支撑组件3、支撑架31、电机32、支撑杆33、支撑台34、贴片35、限位板36。
具体实施方式
[0026]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本技术的实施方式作进一步地详细描述。
[0027]本技术提供硅片自动测试设备,请参阅图1

5,包括底座1和顶板11;
[0028]顶板11安装在底座1的上端,用于顶板11用于支撑伸缩杆一21安装的作用,还包括:用于对硅片长度和宽度测量的测量组件2,测量组件2安装在顶板11上;用于支撑硅片横向和纵向放置的支撑组件3,支撑组件3安装在底座1上。
[0029]测量组件2包括伸缩杆一21和连接块一22,伸缩杆一21安装在顶板11的上端,伸缩杆一21用于支撑竖夹板一25和竖夹板二26进行升降的作用,竖夹板一25和竖夹板二26升降可以调节竖夹板二26最低端的位置,还方便支撑台34进行转动,连接块一22安装在伸缩杆一21的输出端,连接块一22用于支撑竖夹板一25的作用,连接块一22的右端安装有竖夹板一25,竖夹板一25用于夹持在硅片的一侧端的作用,竖夹板一25的右端安装有支撑板27,支
撑板27用于支撑限位块261限位滑动的作用,支撑板27的内壁开设有滑槽271,滑槽271用于对连接块二262导向滑动的作用,滑槽271内侧滑动安装连接块二262,连接块二262用于支撑竖夹板二26左右移动,调整竖夹板二26的横向位置,连接块二262的外壁安装有限位块261,限位块261用于支撑竖夹板二26限位滑动的作用,使竖夹板二26在移动的时候不会发生偏斜,限位块261在滑槽271上侧滑动,连接块二262下端安装有竖夹板二26,竖夹板二26用于夹持在硅片对立侧端的作用,竖夹板二26的内壁安装有红外线接收管241,竖夹板一25的左端安装有伸缩杆二23,伸缩杆二23的输出端和连接块二262相连接,竖夹板一25的左端还安装有红外距离传感器24,红外距离传感器24照射竖夹板二26上的红外线接收管241,从而测量竖夹板一25距离竖夹板二26之间的距离,从而测量硅片的长度。
[0030]支撑组件3包括支撑架31和支撑杆33,支撑架31安装在底座1的上端,支撑架31用于对支撑杆33和支撑台34进行支撑的作用,支撑杆33转动安装在支撑架31的上端内侧,支撑杆33用于对支撑台34进行支撑转动的作用,支撑架31上侧外侧安装有电机32,电机32用于带动支撑杆33进行转动本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.硅片自动测试设备,包括底座(1)和顶板(11),所述顶板(11)安装在底座(1)的上端,其特征在于,还包括:用于对硅片长度和宽度测量的测量组件(2),所述测量组件(2)安装在顶板(11)上;用于支撑硅片横向和纵向放置的支撑组件(3),所述支撑组件(3)安装在底座(1)上。2.根据权利要求1所述的硅片自动测试设备,其特征在于,所述测量组件(2)包括伸缩杆一(21)和连接块一(22),所述伸缩杆一(21)安装在顶板(11)的上端,所述连接块一(22)安装在伸缩杆一(21)的输出端。3.根据权利要求2所述的硅片自动测试设备,其特征在于,所述连接块一(22)的右端安装有竖夹板一(25),所述竖夹板一(25)的右端安装有支撑板(27),所述支撑板(27)的内壁开设有滑槽(271)。4.根据权利要求3所述的硅片自动测试设备,其特征在于,所述滑槽(271)内侧滑动安装连接块二(262),所述连接块二(262)的外壁安装有限位块(261),所述限位块(261)在滑槽(271)上侧滑动,...

【专利技术属性】
技术研发人员:高波祝伟
申请(专利权)人:仟格仪器上海有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1