设备诊断装置以及设备诊断方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及设备诊断装置以及设备诊断方法，在将KPI收敛在允许范围内的同时抑制制造设备的劣化的发展。一种设备诊断装置，其特征在于，具有：劣化抑制模式定义存储部，其按规定的劣化抑制模式，储存包含用于制造设备或该制造设备的部位的劣化抑制的动作控制方法的信息；KPI计算部，其针对制造设备或该制造设备的部位，使用按劣化抑制模式预测的劣化度来计算规定的KPI，判定该KPI是否满足规定的条件；劣化抑制判断部，其根据满足的判定结果来判断应执行的劣化抑制模式；控制信息输出部，其根据应执行的劣化抑制模式，输出制造设备或该制造设备的部位的控制信息。设备的部位的控制信息。设备的部位的控制信息。

【技术实现步骤摘要】
设备诊断装置以及设备诊断方法


[0001]本专利技术涉及设备诊断装置以及设备诊断方法。

技术介绍

[0002]在专利文献1中记载了如下技术：“提供一种单元控制装置，预测部件的故障，以在能够进行部件的更换的时期之前使制造机械不产生故障的方式控制制造机械。”。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献1：日本特开2017
‑
102554号公报

技术实现思路

[0005]专利技术要解决的课题
[0006]在上述的专利文献1所记载的技术中，记载了预测故障，对设备、装置的控制方法进行变更，而抑制设备、装置的劣化的发展并继续生产的方法。然而，在为了抑制劣化的发展而变更了制造设备、制造装置的控制方法的情况下，可能使与制造相关的KPI(Key Performance Indicator，关键绩效指标)，例如制造品质、生产率意外地过度降低。
[0007]本专利技术的目的在于，在将KPI收敛在允许范围内的同时抑制制造设备的劣化的发展。
[0008]用于解决课题的手段
[0009]本申请为了解决上述课题，例如采用权利要求书所记载的手段。本专利技术包含多个解决上述课题的手段，但如果列举其一例，则有一种设备诊断装置，其特征在于，具有：劣化抑制模式定义存储部，其按规定的劣化抑制模式，储存包含用于制造设备或该制造设备的部位的劣化抑制的动作控制方法的信息；KPI计算部，其针对所述制造设备或该制造设备的部位，使用按所述劣化抑制模式预测的劣化度来计算规定的KPI，判定该KPI是否满足规定的条件；劣化抑制判断部，其根据所述满足的判定结果来判断应执行的劣化抑制模式；控制信息输出部，其根据所述应执行的劣化抑制模式，输出所述制造设备或该制造设备的部位的控制信息。
[0010]专利技术效果
[0011]根据本专利技术，能够提供一种在将KPI收敛在允许范围内的同时抑制制造设备的劣化的发展的技术。
[0012]上述以外的课题、结构以及效果通过以下的实施方式的说明而变得明确。
附图说明
[0013]图1是表示第一实施方式的设备诊断系统的结构例的图。
[0014]图2是表示劣化检测方法的例子的图。
[0015]图3是表示劣化抑制模式定义存储部的数据构造例的图。
[0016]图4是表示设备诊断装置的硬件结构的例子的图。
[0017]图5是表示劣化预测曲线和KPI预测例的图。
[0018]图6是表示第二实施方式的设备诊断系统的结构例的图。
[0019]图7是表示KPI定义表的数据构造例的图。
[0020]图8是表示KPI输入画面的例子的图。
[0021]图9是表示第三实施方式的设备诊断系统的结构例的图。
[0022]图10是表示劣化抑制模式选择画面的例子的图。
[0023]图11是表示第四实施方式的设备诊断系统的结构例的图。
[0024]图12是表示具有优先级的KPI定义表的数据构造例的图。
[0025]图13是表示第五实施方式的设备诊断系统的结构例的图。
[0026]图14是表示第六实施方式的设备诊断系统的结构例的图。
[0027]图15是表示生产线劣化抑制模式定义存储部的数据构造例的图。
[0028]附图标记说明
[0029]10：设备诊断系统，100：设备诊断装置，101：劣化检测部，102：劣化抑制模式定义存储部，103：劣化度预测部，104：KPI计算部，105：劣化抑制判断部，110：控制信息输出部，200：双臂机器人，201：控制输入部，202：装置数据取得部，211a：臂A轴1，211b：臂A轴2，211c：臂B夹具。
具体实施方式
[0030]在以下的实施方式中，为了方便起见，在需要时，分割为多个部分或实施方式来进行说明，但除了特别明示的情况以外，它们并非相互无关的，而是一方为另一方的一部分或全部的变形例、细节、补充说明等的关系。
[0031]另外，在以下的实施方式中，在提及要素的数量等(包含个数、数值、量、范围等)的情况下，除了特别明示的情况以及原理上明确地限定于特定的数量的情况等之外，并不限定于该特定的数量，可以是特定的数量以上也可以是特定的数量以下。
[0032]并且，在以下的实施方式中，其结构要素(也包含要素步骤等)除了特别明示的情况以及原理上明确认为是必须的情况等之外，当然未必是必须的。
[0033]同样地，在以下的实施方式中，在提及结构要素等的形状、位置关系等时，除了特别明示的情况以及原理上明确认为并非如此的情况等之外，包含实质上与该形状等近似或者类似的形状等。这同样适用于上述数值和范围。
[0034]另外，在用于对实施方式进行说明的所有附图中，原则上对相同的部件标注相同的附图标记，并省略其重复的说明。但是，即使是相同的部件，在因环境变更等而与变更前的部件共享名称时产生混乱的可能性较高的情况下，有时标注其他不同的附图标记、名称。以下，使用附图对本专利技术的各实施方式进行说明。
[0035]一般情况下，制造设备包含各种装置，但存在一种机器人装置，该机器人装置具有可动的臂作为在工业产品的制造中使用的装置。另外，具有多个那样的机器人装置并用于控制合并后的动作的生产线装置也包含在制造装置中。通过本专利技术的实施方式，基本上假设作为制造装置而具有2个可动臂(以下，为了方便起见，有时将各臂称为臂A、臂B)的双臂机器人200。各臂分别具有3轴的自由度，在臂前端设置有用于执行把持和移动物体的工序的夹具。
[0036]在本专利技术的实施方式中，只要没有特别的其他记载，则将双臂机器人200的臂A的可动轴1表现为“臂A轴1(211a)”，将臂A的可动轴2表现为“臂A轴2(211b)”。另外，将臂B的夹具表现为“臂B夹具(211c)”。双臂机器人200的各臂的轴以及夹具具有马达，通过根据在控制输入部201中受理的控制信息控制马达的旋转来进行动作。
[0037]此外，在以下的实施方式中，“输入部”、“输出部”可以是一个以上的接口设备。该一个以上的接口设备可以是下述中的至少一个。
[0038]·
一个以上的I/O(Input/Output，输入/输出)接口设备。I/O接口设备是针对I/O设备和远程的显示用计算机中的至少一个的接口设备。针对显示用计算机的I/O接口设备可以是通信接口设备。至少一个I/O设备可以是用户接口设备，例如键盘以及指示设备那样的输入设备、和显示设备那样的输出设备中的任一个。
[0039]·
一个以上的通信接口设备。一个以上的通信接口设备可以是一个以上的相同种类的通信接口设备(例如一个以上的NIC(Network Interface Card，网络接口卡))，也可以是两个以上的不同种类的通信接口设备(例如NIC和HBA(Host Bus Adapter，主机总线适配器))。
[0040]另外，在以下的说明中，“存储器”是作为一个以上的存储设备的一例的一个以上的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备诊断装置，其特征在于，具备：劣化抑制模式定义存储部，其按规定的劣化抑制模式，储存包含用于制造设备或该制造设备的部位的劣化抑制的动作控制方法的信息；KPI计算部，其针对所述制造设备或该制造设备的部位，使用按所述劣化抑制模式预测的劣化度来计算规定的KPI，判定该KPI是否满足规定的条件；劣化抑制判断部，其根据所述满足的判定结果来判断应执行的所述劣化抑制模式；控制信息输出部，其根据所述应执行的所述劣化抑制模式，输出所述制造设备或该制造设备的部位的控制信息。2.根据权利要求1所述的设备诊断装置，其特征在于，所述设备诊断装置具备：KPI定义表存储部，其储存能够由所述KPI计算部计算的KPI的一览；KPI输入部，其受理储存在所述KPI定义表存储部中的任意一个KPI作为在所述KPI计算部中使用的KPI。3.根据权利要求1所述的设备诊断装置，其特征在于，所述设备诊断装置具备：劣化抑制模式确认部，其按所述劣化抑制模式输出所述KPI的计算结果和所述满足的判定结果中的任一方或双方，受理要执行的所述劣化抑制模式的选择输入。4.根据权利要求1所述的设备诊断装置，其特征在于，所述设备诊断装置具备：具有优先级的KPI定义表存储部，其储存能够由所述KPI计算部计算的KPI和该KPI的优先级的一览，所述KPI计算部按照所述优先级进行KPI的计算和所述规定的条件的满足的判定，确定满足的所述劣化抑制模式。5.根据权利要求1所述的设备诊断装置，其特征在于，所述设备诊断装...

【专利技术属性】
技术研发人员：西纳修一，樱井祐市，田代和幸，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：