屏蔽效能测试系统技术方案

本申请提供了一种屏蔽效能测试系统，首先，利用全向天线向任意方向同时发射测试电磁波信号，全向天线外套设有待测样品，因此发射出的测试电磁波信号与待测样品成不同角度，再将接收天线设置在支撑架朝向全向天线的一侧的不同位置上，此时接收天线接收来自全向天线的测试电磁波信号，即能同时根据不同入射角度的电磁波信号测试出待测样品的屏蔽效能。本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，由于只测试一次，因此测试时发射的电磁波信号高度一致，即一致性好，避免由于多次测试导致发射的电磁波信号一致性差，进而导致测试结果误差较大，因此本申请能减少测试误差，提高测试准确度，同时能极大地提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
屏蔽效能测试系统


[0001]本申请涉及电磁兼容
，特别涉及为一种屏蔽效能测试系统。

技术介绍

[0002]随着电子技术的发展，空间环境中的电磁环境越来越复杂。复杂的电磁环境会对该环境中的电子设备产生干扰甚至毁伤。而电磁屏蔽能切断电磁波的传播途径，从而消除干扰。
[0003]通过电磁屏蔽效能测试方法能有效测试电磁屏蔽材料的屏蔽效能。现有技术如主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法、装置及系统(公布号：CN109406899A、公布日：2019.03.01)，通过电磁波信号产生装置产生预设强度电磁波信号，并将电磁波信号辐照至安装有光学玻璃的窗口的金属箱体的窗口处，光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜，电磁屏蔽效能计算装置采集经所述待测透光屏蔽薄膜屏蔽后金属箱体内的电磁波信号强度，并计算其与不经待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内电磁波信号强度的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。从而实现对透光屏蔽薄膜屏蔽效能的准确测试。
[0004]在测试根据不同入射角度的电磁波信号测试出的待测样品屏蔽效能时，现有测试方法为：当第一次测试完毕后，需要关闭发射天线，并改变发射天线的位置，再打开发射天线，进行第二次测试。再多次循环以上步骤，直至测完所有入射角度下待测样品的屏蔽效能。该方法存在以下问题：第二次测试时发射的电磁波信号无法与第一次发射的电磁波信号保持完全一致，同理，每一次测试时发射的电磁波信号都与之前测试发射的电磁波信号无法保持一致，测试次数越多，误差积累的越多，导致多次测试后的测试结果误差较大。

技术实现思路
<br/>[0005]本技术的目的在于提供一种屏蔽效能测试系统，能够解决现有屏蔽材料屏蔽效能测试技术中根据不同入射角度的电磁波信号测试出待测样品屏蔽效能时，每一次测试时发射的电磁波信号都与之前测试发射的电磁波信号无法保持一致，即一致性差，导致多次测试之后测试结果误差较大的问题。
[0006]为了实现上述技术目的，本技术提供如下技术方案：
[0007]一种屏蔽效能测试系统，包括屏蔽室，所述系统还包括：
[0008]信号发射装置，设置在所述屏蔽室内，所述信号发射装置包括全向天线，用于向任意方向同时发射测试电磁波信号，当所述全向天线外套设有待测样品时，全向天线在待测样品围成的样品空间内发射的多个测试电磁波信号与待测样品的表面成不同角度；
[0009]信号接收装置，设置在所述屏蔽室内，所述信号接收装置包括支撑架、若干接收天线，所述全向天线设置在所述支撑架中心处，且若干所述接收天线设置在所述支撑架朝向所述全向天线的一侧的不同位置上，用于接收与待测样品表面成不同角度的测试电磁波信号。
[0010]在一种可能的实现方式中，所述屏蔽室内表面全部设置有吸波材料。
[0011]在一种可能的实现方式中，所述支撑架为圆环状。
[0012]在一种可能的实现方式中，所述支撑架竖直安装在所述屏蔽室内。
[0013]在一种可能的实现方式中，所述支撑架水平安装在所述屏蔽室内。
[0014]在一种可能的实现方式中，所述支撑架为球形，所述全向天线位于所述球形支撑架中心。
[0015]在一种可能的实现方式中，所述系统还包括：支撑构件，包括多个安装面，所述支撑构件套设在所述全向天线外，多个所述安装面对应安装有多块待测样品，使得待测样品围成一个样品空间，样品空间内全向天线发射的测试电磁波信号与待测样品的表面成不同角度。
[0016]在一种可能的实现方式中，所述系统还包括：屏蔽组件，所述屏蔽组件包括屏蔽层和粘贴层，所述粘贴层用于粘贴在所述安装面与所述待测样品的连接处，以封闭所述安装面与所述待测样品之间的缝隙，所述屏蔽层覆盖在所述粘贴层表面。
[0017]在一种可能的实现方式中，所述系统还包括：支撑底座，所述支撑底座为吸波材质，用于支撑所述待测样品。
[0018]上述屏蔽效能测试系统，首先，利用全向天线向任意方向同时发射测试电磁波信号，全向天线外套设有待测样品，因此发射出的测试电磁波信号与待测样品成不同角度，再将接收天线设置在支撑架朝向全向天线的一侧的不同位置上，此时接收天线接收来自全向天线的测试电磁波信号，即能同时根据不同入射角度的电磁波信号测试出待测样品的屏蔽效能。相较于现有技术需要进行多次测试才能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，由于只测试一次，因此测试时发射的电磁波信号高度一致，即一致性好，避免由于多次测试导致发射的电磁波信号一致性差，进而导致测试结果误差较大，因此本申请能减少测试误差，提高测试准确度。
[0019]其次，本申请只需要一次测试就能得出不同入射角度下待测样品的屏蔽效能，不同于现有技术需要多次测试，导致需要多次调整设备位置，及多次控制设备来测试屏蔽效能。因此在测试不同入射角度下待测样品的屏蔽效能时，本申请能极大地提高测试效率。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]其中：
[0022]图1为一个实施例中角度示意图；
[0023]图2为一个实施例中屏蔽效能测试系统结构示意图；
[0024]图3为一个实施例中屏蔽效能测试系统结构示意图；
[0025]图4为一个实施例中屏蔽效能测试系统结构示意图；
[0026]图5为一个实施例中屏蔽效能测试系统结构示意图；
[0027]图6为一个实施例中屏蔽效能测试系统部分结构示意图；
[0028]图7为一个实施例中屏蔽效能测试系统部分结构示意图。
[0029]其中，1、屏蔽室；2、信号发射装置；21、全向天线；3、信号接收装置；31、支撑架；32、接收天线；4、待测样品；5、吸波材料；6、支撑构件；7、屏蔽组件；8、支撑底座。
具体实施方式
[0030]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0031]下面将结合本申请的实施例中的附图，对本申请的实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0032]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”、“包含”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、终端、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
[0033]在本文中提及“实施例”意味着本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种屏蔽效能测试系统，包括屏蔽室，其特征在于，所述系统还包括：信号发射装置，设置在所述屏蔽室内，所述信号发射装置包括全向天线，用于向任意方向同时发射测试电磁波信号，当所述全向天线外套设有待测样品时，全向天线在待测样品围成的样品空间内发射的多个测试电磁波信号与待测样品的表面成不同角度；信号接收装置，设置在所述屏蔽室内，所述信号接收装置包括支撑架、若干接收天线，所述全向天线设置在所述支撑架中心处，且若干所述接收天线设置在所述支撑架朝向所述全向天线的一侧的不同位置上，用于接收与待测样品表面成不同角度的测试电磁波信号。2.如权利要求1所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述屏蔽室内表面全部设置有吸波材料。3.如权利要求2所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述支撑架为圆环状。4.如权利要求3所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述支撑架竖直安装在所述屏蔽室内。5.如权利要求3所述的屏蔽效能测...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹少东，涂浪，夏龙，邹柳，廖建明，刘驰，
申请(专利权)人：深圳市钛和巴伦技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：