一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及检测装置技术领域，且公开了一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置，解决了现有检测装置不便于对薄膜进行限位固定，容易造成薄膜的不平整以及产生褶皱而影响检测结果的问题，其包括支撑底座，支撑底座顶端的中间位置设置有薄膜放置台，支撑底座顶端设置有环形磁铁，支撑底座的顶部设置有支撑架，支撑架的底端活动设置有检测相机，检测相机的底端设置有光学放大组件，支撑底座的顶端设置有薄膜限位固定组件，薄膜限位固定组件由支撑环和若干可调节限位座构成；通过该检测装置在检测时便于对薄膜进行限位固定，能够保证薄膜的平整度，避免产生褶皱，同时薄膜限位固定组件可调节，操作方便，避免造成薄膜的破损。的破损。的破损。

【技术实现步骤摘要】
一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置


[0001]本技术属于检测装置
，具体为一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置。

技术介绍

[0002]结晶功能性高分子薄膜在电子和信息等高新技术产业有很好的应用，对于结晶的高分子薄膜来说，其内部相分离状态及其结晶状态对薄膜的物理和机械性能有很大的影响，所以研究高分子薄膜的结晶行为既可以更加深入地理解高分子结晶的本质，也有利于调控晶体结构来优化高分子薄膜的性能。
[0003]在高分子薄膜生产完成后，需要对其内部的相分离状态及其结晶态进行检测，目前的检测装置在对薄膜进行检测时一般是将截取的薄膜直接放置于检测镜头的下方，不便于对薄膜进行限位固定，容易造成薄膜的不平整以及产生褶皱而影响检测结果。

技术实现思路

[0004]针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本技术提供一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置，有效的解决了现有检测装置不便于对薄膜进行限位固定，容易造成薄膜的不平整以及产生褶皱而影响检测结果的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置，包括支撑底座(1)，其特征在于：所述支撑底座(1)顶端的中间位置设置有薄膜放置台(2)，支撑底座(1)顶端设置有位于薄膜放置台(2)外侧的环形磁铁(3)，支撑底座(1)的顶部设置有支撑架(4)，支撑架(4)的底端活动设置有检测相机(5)，检测相机(5)的底端设置有光学放大组件(6)，支撑底座(1)的顶端设置有与环形磁铁(3)相匹配的薄膜限位固定组件(7)，薄膜限位固定组件(7)由支撑环(8)和若干可调节限位座(9)构成，可调节限位座(9)穿插于支撑环(8)的内部。2.根据权利要求1所述的一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置，其特征在于：所述可调节限位座(9)由手柄(10)、限位盘一(11)、连接柱(12)、限位盘二(13)、连接卡套(14)和磁铁(15)构成，限位盘一(11)固定连接于手柄(10)的底端，连接柱(12)固定连接于限位盘一(11)的底端，限位盘二...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄小东，刘刚，
申请(专利权)人：镇江春环密封件集团有限公司，
类型：新型
国别省市：