【技术实现步骤摘要】
硬件板卡、测试设备、测试系统和同步测试方法
[0001]本申请涉及半导体测试
,特别是涉及一种硬件板卡、测试设备、测试系统和同步测试方法。
技术介绍
[0002]随着半导体测试技术的发展,测试设备存在多种类型。根据测试设备上可使用的硬件资源数以及研发的成本进行划分,测试设备可以划分成高端设备和低端设备,但无论何种测试设备,硬件板卡均是其核心组成部分。一个硬件板卡中布置有多个硬件资源,增加测试设备的硬件板卡数量,相应地能增加硬件资源数量,从而提高测试设备的性能,以灵活地应对不同的测试需求。
[0003]当测试设备进行测试工作时,存在一个硬件板卡测试一个半导体器件的情形,也存在因待测半导体器件的管脚数量较多、需要通道数较多而由多个硬件板卡测试同一个半导体器件的情形。当多个硬件板卡共同执行测试任务时,因执行测试任务有快慢之分,各硬件板卡较难同步测试。
技术实现思路
[0004]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种硬件板卡、测试设备、测试系统和同步测试方法。
[0005]第一方面,本申请提供 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硬件板卡,其特征在于,包括:收发端口组,所述收发端口组包括用于接收前级指示信号的输入端口,以及用于输出级联完成信号的输出端口;主控芯片,用于对待测试器件进行测试,并在测试完成后生成测试完成信号;同步端口,与所述主控芯片连接,用于发送或接收同步信号;逻辑电路,分别与所述主控芯片、所述输入端口、所述输出端口连接,用于当接收到所述测试完成信号和来自所述输入端口的所述前级指示信号时,生成所述级联完成信号;其中,所述硬件板卡用于在生成所述级联完成信号后,选择经所述输出端口输出所述级联完成信号或经所述同步端口输出所述同步信号,所述同步信号为所述主控芯片响应于所述级联完成信号生成的。2.根据权利要求1所述的硬件板卡,其特征在于,所述硬件板卡分别包括两个所述收发端口组和两个所述逻辑电路,所述硬件板卡被配置为在一次测试中采用一个所述收发端口组和对应的一个所述逻辑电路。3.根据权利要求1至2任一项所述的硬件板卡,其特征在于,所述逻辑电路为与门电路,所述与门电路的两个输入端分别与所述输入端口、所述主控芯片连接,所述与门电路的输出端与所述输出端口连接。4.一种测试设备,其特征在于,包括:n个如权利要求1至3任一项所述的硬件板卡,n个所述硬件板卡用于同步对待测试器件进行测试;控制器模组,分别与各所述硬件板卡连接,用于分别发送测试任务至各所述硬件板卡,并发送传递触发信号,所述测试任务包括至少一项测试项目;其中,n个所述硬件板卡包括:第一硬件板卡,所述第一硬件板卡的所述输入端口与所述控制器模组连接,以接收来自所述控制器模组发送的所述传递触发信号作为所述前级指示信号;第n硬件板卡,所述第n硬件板卡用于在生成所述级联完成信号后,选择经所述同步端口输出所述同步信号,所述同步信号用于指示执行同步开始下一项所述测试项目的指令;多个中间硬件板卡,所述中间硬件板卡中的第m硬件板卡的所述输入端口与第m
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1硬件板卡的所述输出端口连接,1<m<n;其中,n个所述硬件板卡的同步端口互相连接,所述第n硬件板卡的输入端口与所述中间硬件板卡中的第n
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1硬件板卡的所述输出端口连接,所述第一硬件板卡和各所述中间硬件板卡用于在生成所述级联完成信号后,经所述输出端口输出所述级联完成信号,所述第n硬件板卡和各所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:欧茂宇,彭良宝,邓伟炫,张伟,门洪达,
申请(专利权)人:深圳市天微电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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