一种ET测试用测试架制造技术

技术编号:35943669 阅读:47 留言:0更新日期:2022-12-14 10:33
本实用新型专利技术公开了一种ET测试用测试架,涉及PCB检测设备技术领域,包括:底座;侧支架,固定安装于底座上端后方;下压驱动组件,固定安装于侧支架上端,下压驱动组件包括下压把手,下压把手呈L型,下压把手末端与上铰接架铰接,下压把手弯折部通过传动件与下压导柱连接,下压导柱下端滑动连接有下安装头;上压组件,固定安装于下安装头下端;定位治具,固定安装于治具安装台上方。本实用新型专利技术的优点在于:通过在下压导柱下端设置有滑动的下安装头进行上压组件的安装,可提供一定的缓冲行程,缓冲行程的设置可对不同厚度的待测试柔板进行ET测试,同时降低上压组件对待测试柔板的压紧力过大而导致待测试柔板被压坏的情况发生。大而导致待测试柔板被压坏的情况发生。大而导致待测试柔板被压坏的情况发生。

【技术实现步骤摘要】
一种ET测试用测试架


[0001]本技术涉及PCB检测设备
,具体是涉及一种ET测试用测试架。

技术介绍

[0002]在PCB电性测试中,测试架是PCB业内ET测试所用的测试治具,然而现有的进行ET测试的测试架,通过转动把手带动下压导柱下移,进而带动连接于下压导柱下端的上压组件下移对待测试柔板进行压紧后,对其进行电性测试,此种结构操作简单,下压快,可实现对待测试柔板的快速压紧,利于提高检测效率。
[0003]然后现有的用于ET测试的测试架,其下压行程与转动把手的结构相关,通常为固定行程,这就导致测试架不便于对不同厚度的待测试柔板进行压紧固定,此外在操作时,若工作人员未将待测试柔板准确的放置于定位槽中时,现有结构的测试架下压会导致上压组件压坏待测试柔板。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题,提供一种ET测试用测试架,本技术方案解决了上述的现有的用于ET测试的测试架,其下压行程与转动把手的结构相关,通常为固定行程,这就导致测试架不便于对不同厚度的待测试柔板进行压紧固定,此外在操作时,若工作人员未将待测试柔板准确的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ET测试用测试架,其特征在于,包括:底座(1),所述底座(1)上端中部固定连接有治具安装台(101);侧支架(2),侧支架(2)固定安装于底座(1)上端后方,所述侧支架(2)竖直向上延伸,所述侧支架(2)上端前侧固定安装有上安装板(201);下压驱动组件(3),下压驱动组件(3)固定安装于所述上安装板(201)前侧,所述下压驱动组件(3)包括安装座(301),所述安装座(301)前侧上端固定连接有上铰接架(302),所述上铰接架(302)末端铰接有下压把手(303),所述下压把手(303)呈L型,所述下压把手(303)末端与上铰接架(302)铰接,所述下压把手(303)弯折部两侧铰接有传动件(304),所述传动件(304)下端铰接有下压导柱(305),所述安装座(301)前侧下端固定连接有下导套(306),所述下压导柱(305)滑动连接于下导套(306)内部,所述下压导柱(305)下端滑动连接有下安装头(307);上压组件(4),上压组件(4)固定安装于下安装头(307)下端;定位治具(5),定位治具(5)固定安装于治具安装台(101)上方,所述定位治具(5)用于定位承载待测试柔板(6)。2.根据权利要求1所述一种ET测试用测试架,其特征在于,所述下压导柱(305)下端内部开设有缓冲滑槽(3051),所述下安装头(307)上端固定连接有缓冲滑动柱(3071),所...

【专利技术属性】
技术研发人员:阙小刚钱逸春陈雅琼张立群
申请(专利权)人:苏州仪元科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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