本发明专利技术涉及键盘按压测试装置技术领域，且公开了一种键盘生产用按键组件按压测试装置，包括横向桁架，横向桁架的顶端设有直线电机，且直线电机的底端固定安装有固定支架，横向桁架的底端设有若干组触发凸起，固定支架的底端通过销轴固定安装有固定夹套，且固定夹套内部固定安装有触动套筒，触动套筒内腔的顶部活动套接有顶端延伸至其顶部的顶杆，且顶杆的顶端与横向桁架上触发凸起的底端相接触。该键盘生产用按键组件按压测试装置，对于横向桁架及其上结构的设置，在对该键盘进行按压测试时，有效降低了其对于气缸组件的使用和依赖，且不会因气缸在高频率使用过程中的磨损问题而影响该按压测试装置的使用寿命及精度。该按压测试装置的使用寿命及精度。该按压测试装置的使用寿命及精度。
【技术实现步骤摘要】
一种键盘生产用按键组件按压测试装置
[0001]本专利技术涉及键盘按压测试装置
，具体为一种键盘生产用按键组件按压测试装置。
技术介绍
[0002]键盘作为一种最常使用的计算机输入设备，可通过按压不同的按键或按键组合以向计算机输送不同的指令和数据，进而完成对计算机的运行控制，而为了保证键盘在使用过程中的灵敏度以操控性，在出厂之前需要对其上的每个按键进行按压测试，以有效避免残次品流入市场，而影响购买者的使用手感。
[0003]而现有的键盘按键按压测试装置多是通过气缸的升降移动来实现的，但这种方式在对每个按键进行按压测试时都需要触动气缸组件升降移动一次，进而极大地影响了其对于该键盘按键的测试效率，并且在高频率的升降移动过程中也会加剧对该气缸的磨损，进而影响该按压测试装置的使用寿命及精度；而根据键盘的按键数目及位置设置相对应数目及位置的气缸，则加重了对该键盘按键按压测试装置的配置及日后的维护成本。
[0004]故，亟需一种键盘生产用按键组件按压测试装置，以解决上述现有的按压测试装置在实际操作过程中所存在的缺陷。
技术实现思路
[0005](一)解决的技术问题
[0006]本专利技术提供了一种键盘生产用按键组件按压测试装置，具备可连续对该键盘按键进行按压测试、以有效提高其对于该键盘按键的测试效率、降低了其对于气缸组件的使用和依赖、且不会因磨损问题而影响该按压测试装置的使用寿命及精度的优点，解决了现有的键盘按键按压测试装置多是通过气缸的升降移动来实现的，但这种方式在对每个按键进行按压测试时都需要触动气缸组件升降移动一次，进而极大地影响了其对于该键盘按键的测试效率，并且在高频率的升降移动过程中也会加剧对该气缸的磨损，进而影响该按压测试装置的使用寿命及精度的问题。
[0007](二)技术方案
[0008]本专利技术提供如下技术方案：一种键盘生产用按键组件按压测试装置，包括横向桁架，所述横向桁架底端的两侧分别开设有一组纵向滑轨，所述横向桁架的顶端设有直线电机，且直线电机的底端固定安装有固定支架，所述横向桁架的底端设有若干组触发凸起，所述固定支架的底端通过销轴固定安装有固定夹套，且固定夹套内部固定安装有触动套筒，所述触动套筒内腔的顶部活动套接有顶端延伸至其顶部的顶杆，且顶杆的顶端与横向桁架上触发凸起的底端相接触，所述触动套筒内腔的底部设有第一压力弹簧，并与顶杆之间形成传动连接，所述顶杆的内部设有内凹槽，并在内凹槽的底端活动套接有反馈连杆，且反馈连杆的底端与内凹槽之间通过活动套接在反馈连杆上的第二压力弹簧形成传动连接，所述反馈连杆的底端设有延伸至触动套筒底部的按压探杆，所述反馈连杆外表面的顶部设有感
应磁环。
[0009]优选的，所述触发凸起底端与顶端之间的高度差大于该键盘的最大按压位移量，且与之相接触的顶杆的顶端设有球型滑台。
[0010]优选的，所述按压探杆的底端螺纹连接有接触连杆，且在接触连杆的底端活动套接有向下凸出的球体结构。
[0011]优选的，所述感应磁环与电磁线圈在初始阶段相互错开但边缘相邻，同时，第二压力弹簧的弹性强度等于该键盘按键的按压强度。
[0012]优选的，所述感应磁环与电磁线圈之间所组成的信号反馈装置可由压电感应片代替，在通电的状态下，通过压电感应片受压时所产生的电流变化，以监控反馈连杆的相对位移量。
[0013]优选的，所述感应磁环与电磁线圈之间所组成的信号反馈装置可由滑动变阻器代替，在通电的状态下，通过其上阻值的变化而引起其上电流的变化，以监控反馈连杆的相对位移量。
[0014]优选的，包括以下按压测试步骤：
[0015]S1、首先按照上述的内容，通过纵向滑轨而将该按压测试装置上的横向桁架传动连接在纵向轨道上，以使其可沿着纵向轨道前后移动，并连接好其上的电路控制系统；
[0016]S2、之后，将待测的键盘固定安装在其底部，将通过其上的USB接口与符合触发感应器电连接，并在其上的按键受到按压而触发时，提取符号触发时的时间节点，同时，启动横向桁架上的直线电机，使其沿着横向桁架的轴线发生移动，并在固定支架和固定夹套的作用下而带动按压探杆以“行”为单位，依次按压该键盘按键；
[0017]S3、在直线电机沿着横向桁架的轨迹移动的过程中，从横向桁架上触发凸起的顶端移动到其底端时，可带动触动套筒上的顶杆向下发生移动并压缩其上的第一压力弹簧，进而迫使其上的按压探杆与该键盘按键之间发生接触，在按压键盘按键的同时，使得反馈连杆相对于顶杆向上发生移动，致使其上的感应磁环与电磁线圈之间相互接触，并产生一组反馈电流信号；
[0018]S4、在直线电机沿着横向桁架的轨迹移动的过程中，从横向桁架上触发凸起的底端移动到其顶端时，因顶杆的顶端不受力而在第一压力弹簧的弹力作用下带动其恢复到初始的状态下，同时，反馈连杆上的感应磁环和电磁线圈也恢复到初始的位置状态上，而不产生感应电流信号，进而在以“行”为单位带动按压探杆移动的过程中，可产生一组脉冲电流信号；
[0019]S5、而后将提取到的时间节点信号与脉冲电流信号进行对比，以判定该键盘上的按键在触发时，对其所施加的按压强度及时间段，同时，与正常键盘在按压触发时的时间节点进行比对，以此判定该键盘按键的触发强度及灵敏度是否满足生产的要求。
[0020](三)有益效果
[0021]本专利技术具备以下有益效果：
[0022]1、该键盘生产用按键组件按压测试装置，对于横向桁架及其上结构的设置，在对该键盘进行按压测试时，以整个键盘按键为一个检测单位并整体对该键盘进行按压测试，有效提高了其对于该键盘按键的测试效率，同时，有效降低了其对于气缸组件的使用和依赖，且不会因气缸在高频率使用过程中的磨损问题而影响该按压测试装置的使用寿命及精
度，稳定性及可靠性较高。
[0023]2、该键盘生产用按键组件按压测试装置，对于触动套筒及其上结构的设置，可在该键盘按键按压触发时，产生一组反馈脉冲电流信号，并通过与该键盘按键触发时的时间节点进行比对，以判定该键盘的触发强度及灵敏度，与现有的对于键盘按键的按压测试装置相比，可有效提高其对于该键盘按键的测试效率及精准度。
附图说明
[0024]图1为本专利技术结构示意图；
[0025]图2为本专利技术结构的正视图；
[0026]图3为本专利技术对于键盘的按压测试流程图。
[0027]图中：1、横向桁架；2、纵向滑轨；3、触发凸起；4、直线电机；5、固定支架；6、固定夹套；7、触动套筒；8、第一压力弹簧；9、顶杆；10、内凹槽；11、第二压力弹簧；12、反馈连杆；13、按压探杆；14、感应磁环；15、电磁线圈。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种键盘生产用按键组件按压测试装置，包括横向桁架(1)，所述横向桁架(1)底端的两侧分别开设有一组纵向滑轨(2)，所述横向桁架(1)的顶端设有直线电机(4)，且直线电机(4)的底端固定安装有固定支架(5)，其特征在于：所述横向桁架(1)的底端设有若干组触发凸起(3)，所述固定支架(5)的底端通过销轴固定安装有固定夹套(6)，且固定夹套(6)内部固定安装有触动套筒(7)，所述触动套筒(7)内腔的顶部活动套接有顶端延伸至其顶部的顶杆(9)，且顶杆(9)的顶端与横向桁架(1)上触发凸起(3)的底端相接触，所述触动套筒(7)内腔的底部设有第一压力弹簧(8)，并与顶杆(9)之间形成传动连接，所述顶杆(9)的内部设有内凹槽(10)，并在内凹槽(10)的底端活动套接有反馈连杆(12)，且反馈连杆(12)的底端与内凹槽(10)之间通过活动套接在反馈连杆(12)上的第二压力弹簧(11)形成传动连接，所述反馈连杆(12)的底端设有延伸至触动套筒(7)底部的按压探杆(13)，所述反馈连杆(12)外表面的顶部设有感应磁环(14)。2.根据权利要求1所述的一种键盘生产用按键组件按压测试装置，其特征在于：所述触发凸起(3)底端与顶端之间的高度差大于该键盘的最大按压位移量，且与之相接触的顶杆(9)的顶端设有球型滑台。3.根据权利要求2所述的一种键盘生产用按键组件按压测试装置，其特征在于：所述按压探杆(13)的底端螺纹连接有接触连杆，且在接触连杆的底端活动套接有向下凸出的球体结构。4.根据权利要求3所述的一种键盘生产用按键组件按压测试装置，其特征在于：所述感应磁环(14)与电磁线圈(15)在初始阶段相互错开但边缘相邻，同时，第二压力弹簧(11)的弹性强度等于该键盘按键的按压强度。5.根据权利要求4所述的一种键盘生产用按键组件按压测试装置，其特征在于：所述感应磁环(14)与电磁线圈(15)之间所组成的信号反馈装置可由压电感应片代替，在通电的状态下，通过压电感应片受压时所产生的电流变化，以监控反馈连杆(12)的相对位移量。6.根据权利要求4所述的一种键盘生产用按键组件按压测试装置，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾芳勤，
申请(专利权)人：领先科技东台有限公司，
类型：发明
国别省市：
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