基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法技术

本发明专利技术涉及数据处理技术领域，具体涉及一种基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法，该方法获取集装箱内部的X射线图像以得到集装箱内部灰度图像；根据集装箱内部灰度图像中的每列像素点的灰度值构建对应列的集装箱灰度曲线分布图，获取集装箱灰度曲线分布图中的目标像素点，从目标像素点开始对像素点分组得到多组；根据每组的灰度下降特征值和相邻组的特征值波动度，得到突变像素点；获取每张集装箱灰度曲线分布图对应的突变像素点，得到焊缝上边缘；获取焊缝下边缘，由焊缝上边缘和焊缝下边缘得到焊缝区域；对焊缝区域进行超像素分割，得到多个超像素块，根据超像素块中的灰度值进行缺陷检测。本发明专利技术能够快速准确地进行缺陷识别。别。别。

【技术实现步骤摘要】
基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法


[0001]本专利技术涉及数据处理
，具体涉及一种基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法。

技术介绍

[0002]集装箱是能够装载包装或无包装货物进行运输，并便于用机械设备进行装卸搬运的一种组成工具。使用集成箱集装箱运输货物可防雨、避光、抗震，以达到减少货损、方便运输和装卸的目的。伴随着物流行业的发展，集成箱的需求呈井喷式发展。集装箱的箱体主要由铝合金焊接而成，焊接的质量影响着集装箱的外观和使用，在焊接过程中产生的缺陷往往可能使集装箱结构失效，所以需要及时对集成箱进行质量检测。由焊接产生的缺陷一般分为两类，分别为外部缺陷和内部缺陷。外部缺陷在焊机完成时可直接观察评价，也可使用磁粉检测、渗透检测等方法。
[0003]针对于内部缺陷，常规的无损检测方法主要有涡流检测、射线检测等。涡流检测通过测量待检构件内部感生涡流变化的形式来发现缺陷，但存在趋肤效应，测量灵敏度会受到磁场穿透力的影响。X射线技术是一种高效无损的检测技术，但一般采用人工目视检测X射线胶片的方法，运行成本高，检测周期长，保存和查询工作量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取集装箱内部的X射线图像，对所述X射线图像进行灰度化，得到对应的集装箱内部灰度图像；根据集装箱内部灰度图像中的每列像素点的灰度值构建对应列的集装箱灰度曲线分布图；对于一张集装箱灰度曲线分布图，设置寻找突变的初始触发条件得到目标像素点，从目标像素点开始，将相邻预设数量的像素点组成一组，且每组之间顺延设定数量的像素点，得到多组；分别计算每组中相邻像素点的灰度值差值，根据灰度值差值获取对应组的灰度下降特征值；将每组像素点的灰度值组成灰度值序列，根据相邻组的灰度值序列的差异和灰度下降特征值的差异计算相邻组的特征值波动度；计算相邻的两个相邻组的特征值波动度的比值，由比值获取目标相邻组，将目标相邻组对应的两组像素点分别划分为两小组像素点，获取相邻小组的特征值波动度得到目标相邻小组，根据目标相邻小组中相邻像素点之间的灰度值差值，得到突变像素点；获取每张集装箱灰度曲线分布图对应的突变像素点，由所有的突变像素点得到集装箱内部灰度图像中的焊缝上边缘；获取集装箱内部灰度图像中的焊缝下边缘，将焊缝上边缘和焊缝下边缘之间的区域作为焊缝区域；对焊缝区域进行超像素分割，得到多个超像素块，根据超像素块中的灰度值进行缺陷检测；所述相邻组的特征值波动度的获取方法，包括：计算相邻组对应灰度值序列之间的皮尔森相关系数和DTW距离，得到以皮尔森相关系数为分子、DTW距离为分母的第一比值；获取相邻组对应灰度下降特征值的第二比值，将第一比值和第二比值之间的乘积作为相邻组的特征值波动度。2.如权利要求1所述的基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法，其特征在于，所述设置寻找突变的初始触发条件得到目标像素点的方法，包括：计算像素点与相邻下一个像素点之间的灰度值差值，当灰度值差值大于或等于阈值系数时，该像素点为目标像素点。3.如权利要求1所述的基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法，其特征在于，所述灰度下降特征值的获取方法，包括：根据当前组中相邻像素点之间的灰度值差值，分别获...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛峰，戴建中，顾小东，
申请(专利权)人：江苏集宿智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：