一种统计调制传递函数的随机图案测量方法技术

技术编号:3591819 阅读:180 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种统计调制传递函数的随机图案测量方法,采用功率谱相关性来得到传递函数,采用随机条纹测试靶标,或者其它随机图案靶标,随机图案由计算机随机算法生成,不需要扫描机构和精确对准机构,可以在计算机控制下快速得到离散采样成像系统的统计意义上的调制传递函数特性。利用该方法能非常容易地得到大量随机条纹测试图或者其它类型的测试图,便于进行统计意义上的测试,具有很高的灵活性和可操作性;具有平移不变特性,避免了微米级精密的机械扫描;采用高分辨率液晶作为光学分划图形发生器并应用于光学测量;测试过程简单,对人员的专业技术水平要求不高,利于实现计算机自动化测试。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种采用随机图案靶标进行统计调制传递函数测量的方法,包括步骤:(1)采用伪随机数发生器算法,由计算机生成灰度随机图案;***其中x↓[n]为中间值,r↓[n]为所得的随机值;n=1,2,3…N,且N为数字图像像素数量 ;M为模数,a为乘数,c为加数,且x↓[n]、M、a、c均为非负整数;(2)采用图像压缩编码协议对灰度随机图案数据进行压缩,按照主控计算机与液晶电路间的通讯协议将压缩数据发送到液晶分划图形发生器并由其解压缩到缓存;(3)分析 产生的随机图案的灰度功率谱分布函数,得到物方的功率谱分布,然后采集通过被测光电离散采样成像系统的图像,再由自相关运算和快速傅里叶变换算法得到该图像的灰度功率谱分布函数,根据物像功率谱相关性关系式,得到调制传递函数曲线:P↓[g](μ )=P↓[f](μ)|H(μ)|↑[2]其中,P↓[g](μ)为像自功率谱估计,P↓[f](μ)为物的自功率谱估计,H(μ)为光学成像系统的频域响应函数;(4)重复步骤(1)~(3),按照集总平均的要求取得统计意义下的平均调 制传递函数特性。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张旭升周桃庚陈凌峰何川沙定国林家明
申请(专利权)人:北京理工大学
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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