显示模组及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种显示模组及显示装置，该显示模组包括：层叠设置的第一绑定区以及第二绑定区，第一绑定区包括第一测试引脚以及多个第一信号引脚，第二绑定区包括第二测试引脚以及多个第二信号引脚。第一测试引脚包括：从第一绑定区的第一端延伸到第二端且导通的第一测试子引脚，第二测试引脚包括：对应设置在第二绑定区的第一端与第二端之间的第二测试子引脚，第二测试子引脚与第一测试子引脚绑定连接，得到阻抗测试线路，以通过检测阻抗测试线路的阻值大小确定绑定区的绑定导通性，其中，第一端和第二端分别为相应绑定区中排在边缘的两个信号引脚所在的一端。的两个信号引脚所在的一端。的两个信号引脚所在的一端。

【技术实现步骤摘要】
显示模组及显示装置


[0001]本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示模组及显示装置。

技术介绍

[0002]绑定(Bonding)工艺是显示产品中用到的重要工艺之一。例如，COF(Chip On Film，覆晶薄膜)连接显示基板以及电路板都是通过(Bonding)工艺完成的。因此，绑定导通不良将影响显示产品的正常显示，对绑定导通性进行测试尤为重要。

技术实现思路

[0003]鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的显示模组及显示装置。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供了一种显示模组，包括：层叠设置的第一绑定区以及第二绑定区，所述第一绑定区包括第一测试引脚以及多个第一信号引脚，所述第二绑定区包括第二测试引脚以及多个第二信号引脚，其中：
[0005]每个所述第一信号引脚与一个所述第二信号引脚绑定连接；
[0006]所述第一测试引脚包括：从所述第一绑定区的第一端延伸到第二端且导通的第一测试子引脚，所述第二测试引脚包括：对应设置在所述第二绑定区的第一端与第二端之间的第二测试子引脚，所述第二测试子引脚与所述第一测试子引脚绑定连接，得到阻抗测试线路，以通过检测所述阻抗测试线路的阻值大小确定绑定区的绑定导通性，其中，所述第一端和所述第二端分别为相应绑定区中排在边缘的两个信号引脚所在的一端。
[0007]进一步地，所述第一测试子引脚位于所述第一信号引脚的背离相应连接线路的一侧，所述第二测试子引脚位于所述第二信号引脚的背离相应连接线路的一侧。
[0008]进一步地，所述第一绑定区以及所述第二绑定区均包括顶层布线层和底层布线层，
[0009]所述第一信号引脚包括：设置在所述顶层布线层且相互间隔的两个第一信号子引脚，所述两个第一信号子引脚之间通过布设在所述底层布线层的连接线连接，所述第一测试子引脚位于所述两个第一信号子引脚之间的间隔区域；
[0010]所述第二信号引脚包括：设置在所述顶层布线层且相互间隔的两个第二信号子引脚，所述两个第二信号子引脚之间通过布设在所述底层布线层的连接线连接，所述第二测试子引脚位于所述两个第二信号子引脚之间的间隔区域，所述第一信号子引脚与所述第二信号子引脚绑定连接。
[0011]进一步地，所述第二测试引脚包括：间隔分布在所述第二绑定区的第一端与第二端之间的多个所述第二测试子引脚，多个所述第二测试子引脚在所述第一绑定区的正投影均与所述第一测试子引脚至少部分重叠。
[0012]进一步地，每个所述第二测试子引脚分别正对一个所述第二信号引脚设置。
[0013]进一步地，所述第二测试子引脚的延伸方向、宽度以及间隔距离均与所述第二信
号引脚相同，所述第二测试子引脚在所述延伸方向上的长度小于所述第二信号引脚的长度。
[0014]进一步地，所述第一测试子引脚的走线形状为弯折形。
[0015]进一步地，所述第一测试子引脚包括：多个沿第一方向延伸的第一引脚段以及多个沿第二方向延伸的第二引脚段，多个所述第一引脚段与多个所述第二引脚段交错连接；
[0016]所述第二测试引脚包括：间隔分布在所述第二绑定区的第一端与第二端之间的多个所述第二测试子引脚，每个所述第二测试子引脚与一个所述第二引脚段对应绑定连接，其中，所述第一方向为多个所述第一信号引脚的排布方向，所述第二方向为所述第一信号引脚的延伸方向。
[0017]进一步地，上述显示模组还包括：显示面板以及覆晶薄膜，所述显示面板的非显示区域设置有所述第一绑定区，所述覆晶薄膜的靠近所述显示面板的一侧设置有所述第二绑定区，所述显示面板与所述覆晶薄膜通过所述第一绑定区与所述第二绑定区绑定连接。
[0018]进一步地，上述显示模组还包括：第一测试垫、第二测试垫以及用于向所述覆晶薄膜传输显示控制信号的电路板，所述第一测试垫以及第二测试垫设置在所述电路板上；
[0019]所述第一测试引脚还包括：位于所述多个第一信号引脚两侧的第一引出子引脚，所述第一测试子引脚的两端分别与两侧的所述第一引出子引脚连接；
[0020]所述第二测试引脚还包括：位于所述多个第二信号引脚两侧的第二引出子引脚，所述第二引出子引脚与所述第一引出子引脚绑定连接，其中一侧第二引出子引脚的靠近所述电路板的一端与所述第一测试垫连接，另一侧第二引出子引脚的靠近所述电路板的一端与所述第二测试垫连接。
[0021]进一步地，上述显示模组还包括：显示面板、覆晶薄膜以及用于向所述覆晶薄膜传输显示信号的电路板，所述覆晶薄膜的靠近所述电路板的一侧表面设置有所述第二绑定区，所述电路板的靠近所述覆晶薄膜的一侧表面设置有所述第一绑定区，所述覆晶薄膜与所述电路板通过所述第一绑定区以及所述第二绑定区绑定连接。
[0022]第二方面，本专利技术实施例提供了一种显示装置，包括：上述第一方面所述的显示模组。
[0023]本专利技术实施例中提供的技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
[0024]本专利技术实施例提供的显示模组，通过在第一绑定区设置从第一端延伸到第二端且导通的第一测试子引脚，并对应在第二绑定区的第一端与第二端之间对应设置第二测试子引脚，将第二测试子引脚均与第一测试子引脚绑定连接形成阻抗测试线路。由于阻抗测试线路涵盖了整个信号引脚分布区域，且阻抗测试线路的阻抗水平受绑定工艺条件的影响，能够较全面地实现对绑定区的绑定阻抗测试，通过检测阻抗测试线路的阻值大小，确定整个绑定区的绑定导通性，从而有利于较准确地测试出绑定工艺条件是否存在异常。
[0025]上述说明仅是本专利技术实施例提供的技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术实施例的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本本专利技术实施例的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术实施例的具体实施方式。
附图说明
[0026]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通
技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
[0027]图1为本专利技术实施例中一种示例性显示模组的侧视图；
[0028]图2为一种示例性绑定区的结构示意图；
[0029]图3为本专利技术实施例中一种显示模组的俯视示意图；
[0030]图4为图3中显示面板边框区的局部(包含第一绑定区)放大示意图一；
[0031]图5为图3中COF的局部(包含第二绑定区)放大示意图一；
[0032]图6为图3中显示面板边框区的局部(包含第一绑定区)放大示意图二；
[0033]图7为图3中COF的局部(包含第二绑定区)放大示意图二；
[0034]图8为图3中显示面板边框区的局部(包含第一绑定区)放大示意图三。
具体实施方式
[0035]下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。需要指出的是，在附图中，为了图示的清晰可能夸大了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示模组，其特征在于，包括：层叠设置的第一绑定区以及第二绑定区，所述第一绑定区包括第一测试引脚以及多个第一信号引脚，所述第二绑定区包括第二测试引脚以及多个第二信号引脚，其中：每个所述第一信号引脚与一个所述第二信号引脚绑定连接；所述第一测试引脚包括：从所述第一绑定区的第一端延伸到第二端且导通的第一测试子引脚，所述第二测试引脚包括：对应设置在所述第二绑定区的第一端与第二端之间的第二测试子引脚，所述第二测试子引脚与所述第一测试子引脚绑定连接，得到阻抗测试线路，以通过检测所述阻抗测试线路的阻值大小确定绑定区的绑定导通性，其中，所述第一端和所述第二端分别为相应绑定区中排在边缘的两个信号引脚所在的一端。2.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述第一测试子引脚位于所述第一信号引脚的背离相应连接线路的一侧，所述第二测试子引脚位于所述第二信号引脚的背离相应连接线路的一侧。3.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述第一绑定区以及所述第二绑定区均包括顶层布线层和底层布线层，所述第一信号引脚包括：设置在所述顶层布线层且相互间隔的两个第一信号子引脚，所述两个第一信号子引脚之间通过布设在所述底层布线层的连接线连接，所述第一测试子引脚位于所述两个第一信号子引脚之间的间隔区域；所述第二信号引脚包括：设置在所述顶层布线层且相互间隔的两个第二信号子引脚，所述两个第二信号子引脚之间通过布设在所述底层布线层的连接线连接，所述第二测试子引脚位于所述两个第二信号子引脚之间的间隔区域，所述第一信号子引脚与所述第二信号子引脚绑定连接。4.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述第二测试引脚包括：间隔分布在所述第二绑定区的第一端与第二端之间的多个所述第二测试子引脚，多个所述第二测试子引脚在所述第一绑定区的正投影均与所述第一测试子引脚至少部分重叠。5.根据权利要求4所述的显示模组，其特征在于，每个所述第二测试子引脚分别正对一个所述第二信号引脚设置。6.根据权利要求5所述的显示模组，其特征在于，所述第二测试子引脚的延伸方向、宽度以及间隔距离均与所述第二信号引脚相同，所述第二测试子引脚在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔚鹏富，刘亮亮，
申请(专利权)人：鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：