【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于精密工程中使用的测量装置,特别是一种基于嵌入式系统的微小尺寸测量装置。
技术介绍
微小尺寸测量是几何量精密测量的重要组成部分,广泛地应用于军事、国防和航空航天以及其它精密工程领域。微小尺寸测量的问题主要有三个,一是由于被测对象微小,要求传感器具有较高的分辨率和准确度;二是当微小尺寸位于大型工件表面时,受载物台的限制而难于进行测量;三是测量过程通常是手工完成,测量结果易受人为因素的影响,测量效率比较低。因此在计量测试领域,微小尺寸的测量一直是精密测量中的难点技术之一。工具显微镜能够用于微小尺寸的精密测量,但由于其机械结构比较复杂,需手工操作而受到限制,很难提高微小尺寸测量的效率。关于微小尺寸的测量,已有的一些专利,如“微小尺寸测量仪(申请号200510052765.0)”,采用多个检测部件对被测对象进行摄像,将摄像所得的图像进行处理,达到微小尺寸测量之目的。该装置与工具显微镜相比,优点是实现了数字直读,提高了测量效率,但缺点在于没有脱离载物台的限制,不能对大型工件表面的微小尺寸进行测量。“微小尺寸测量装置(专利号ZL 02127864.4) ...
【技术保护点】
基于嵌入式系统的微小尺寸测量装置,其特征在于包括:传感器(1)、存储器(2)、人机界面(3)和嵌入式控制器(4);传感器(1)采集微小尺寸量的数字图像通过标准数字视频接口送至嵌入式控制器(4),当嵌入式控制器(4)获取传感器(1)采集的数字图像后,将其送至人机界面(3)显示;当嵌入式控制器(4)获得由人机界面(3)输入的测量参数后,控制器(4)根据图像处理算法计算微小尺寸的量值;当嵌入式控制器(4)获得由人机界面(3)输入的保存命令后,嵌入式控制器(4)将数字图像和测量结果保存至存储器(2)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王中宇,付继华,孟浩,
申请(专利权)人:北京航空航天大学,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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