一种硬盘盘符稳定性测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:35904527 阅读:17 留言:0更新日期:2022-12-10 10:42
本发明专利技术公开了一种硬盘盘符稳定性测试方法、装置、设备及介质,属于测试技术领域,所述方法应用于服务器,所述服务器包括若干个硬盘,每个硬盘对应一个盘符及一个插槽,所述方法包括:配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境;开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试;通过对每个硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测;根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。本发明专利技术的硬盘盘符稳定性测试方法可以快速高效的完成硬盘热插拔自动化测试,在保证硬盘盘符稳定性测试准确率高的同时也能极大的提高测试效率、降低人力成本。降低人力成本。降低人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种硬盘盘符稳定性测试方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及测试
,特别涉及一种硬盘盘符稳定性测试方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着数据量不断剧增,市场对服务器的需求量仍然在不断扩大,无论是计算型服务器还是存储型服务器,其中存储部分都是服务器对数据处理必不可少的部分;同样,对于云计算、大数据等应用的服务器,对于存储部分的需求也是不可或缺的一部分。存储部分涉及硬盘数量较多,数据中心内部硬盘出现因硬盘质量、寿命等问题,运维人员通常需通过热维护的方式直接对数据中心问题硬盘进行更换维护;如果服务器存在硬盘盘符漂移的问题,通常会存在隐患问题,对于维护好的硬盘并不能与之前存在相同的盘符,业务盘对盘符进行操作时,则会引起业务问题,如造成严重的业务中断、客户体验较差的问题。同时,盘符漂移的问题直接影响系统盘导致无法启动系统。因此,服务器在研发设计时,应考虑服务器系统的盘符漂移的问题。
[0003]硬盘盘符漂移问题是伴随硬盘热插拔动作产生的,通常会在进行系统的硬盘热插拔功能验证时,一并测试,但当前硬盘热插拔功能验证通常采用人工热插拔的方法,而且,插拔次数较少,这对于验证硬盘盘符漂移来说,速度较慢,而且因插拔次数较少,会遗漏盘符漂移的问题的存在。
[0004]即在现有技术方案中,实验室通常通过手动的方法将硬盘拔出再插入,达到验证盘符漂移的问题,这种方法通常需要测试人员投入较多的人力资源,并且,热插拔的次数也受到限制,不易发现与复现盘符漂移的问题,从而遗漏问题到客户机房,在服务器运维期间,无法提前提出规避措施,避免业务问题的发生。

技术实现思路

[0005]为了克服上述技术缺陷,本专利技术的目的在于提供一种硬盘盘符稳定性测试方法、装置、设备及介质,本专利技术所述方法应用于服务器,所述服务器包括若干个硬盘,每个硬盘对应一个盘符及一个插槽,所述方法包括:配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境;开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试;通过对每个硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测;根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。本专利技术的硬盘盘符稳定性测试方法可以快速高效的完成硬盘热插拔自动化测试,在保证硬盘盘符稳定性测试准确率高的同时也能极大的提高测试效率、降低人力成本。
[0006]本专利技术实施例提供的具体技术方案如下:
[0007]第一方面,提供了一种硬盘盘符稳定性测试方法,所述方法应用于服务器,所述服务器包括若干个硬盘,每个硬盘对应一个盘符及一个插槽,所述方法包括:
[0008]配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境;
[0009]开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试;
[0010]通过对每个硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测;
[0011]根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
[0012]进一步地,所述配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境,包括:
[0013]设置所述硬盘的盘符信息为第一盘符信息;
[0014]设置所述硬盘的插槽信息为第一插槽信息;
[0015]判断所述第一盘符信息与所述第一插槽信息是否匹配;
[0016]若是,则配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境成功。
[0017]进一步地,所述通过对每个硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测,根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移,包括:
[0018]依次对所述硬盘进行掉电操作;
[0019]获取系统日志信息中掉电操作后消失的硬盘盘符信息;
[0020]判断所述消失的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致;
[0021]若是,则依次对所述硬盘进行上电操作,对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断;若否,则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
[0022]进一步地,所述依次对所述硬盘进行上电操作,对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断,包括:
[0023]获取系统日志信息中上电操作后出现的硬盘盘符信息;
[0024]判断所述出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致;
[0025]若是,则对下一个硬盘进行掉电和上电操作,并对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断;若否,系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
[0026]进一步地,所述对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断,包括:
[0027]判断依次对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第一循环次数是否达到第一阈值;
[0028]若是,则通过随机函数随机对所述硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测;若否,则继续依次对所述硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测。
[0029]进一步地,所述通过随机函数随机对所述硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测,包括:
[0030]随机对所述硬盘进行掉电和上电操作;
[0031]获取系统日志信息中掉电和上电操作后对应消失和出现的硬盘盘符信息;
[0032]判断所述消失和出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致;
[0033]若是,则对下一个硬盘进行掉电和上电操作,并对随机对所述硬盘掉电和上电操作的第二循环次数进行判断;若否,则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
[0034]进一步地,所述对随机对所述硬盘掉电和上电操作的第二循环次数进行判断,包括:
[0035]判断随机对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第二循环次数是否达到第二阈值;
[0036]若是,则结束测试;若否,则继续随机对所述硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬
盘的盘符状态进行检测。
[0037]第二方面,提供了一种硬盘盘符稳定性测试装置,所述装置包括:
[0038]配置模块,用于配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境;
[0039]开启模块,用于开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试;
[0040]测试模块,用于通过对每个硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测;
[0041]根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
[0042]第三方面,提供了一种计算机设备,所述设备包括:
[0043]存储器、处理器及存储在存储器上的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序以实现如第一方面任一所述的硬盘盘符稳定性测试方法的步骤。
[0044]第四方面,提供了一种计算机存储介质,所述介质包括:
[0045]其上存储有计算机程序,该计算机程序被存储器执行时实现第一方面任一所述的硬盘盘符稳定性测试方法的步骤。
[0046]与现有技术相比,本专利技术实施例提供的技术方案所述方法应用于服务器,所述服务器包括若干个硬盘,每个硬盘对应一个盘符及一个插槽,所述方法包括:配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境;开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试;通过对每个硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测;根据检测结果确认所述本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘盘符稳定性测试方法,其特征在于,所述方法应用于服务器,所述服务器包括若干个硬盘,每个硬盘对应一个盘符及一个插槽,所述方法包括:配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境;开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试;通过对每个硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测;根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。2.根据权利要求1所述的硬盘盘符稳定性测试方法,其特征在于,所述配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境,包括:设置所述硬盘的盘符信息为第一盘符信息;设置所述硬盘的插槽信息为第一插槽信息;判断所述第一盘符信息与所述第一插槽信息是否匹配;若是,则配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境成功。3.根据权利要求1所述的硬盘盘符稳定性测试方法,其特征在于,所述通过对每个硬盘进行掉电和上电操作,对所述硬盘的盘符状态进行检测,根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移,包括:依次对所述硬盘进行掉电操作;获取系统日志信息中掉电操作后消失的硬盘盘符信息;判断所述消失的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致;若是,则依次对所述硬盘进行上电操作,对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断;若否,则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。4.根据权利要求3所述的硬盘盘符稳定性测试方法,其特征在于,所述依次对所述硬盘进行上电操作,对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断,包括:获取系统日志信息中上电操作后出现的硬盘盘符信息;判断所述出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致;若是,则对下一个硬盘进行掉电和上电操作,并对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断;若否,系统提示出现硬盘盘符漂移问题。5.根据权利要求4所述的硬盘盘符稳定性测试方法,其特征在于,所述对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断,包括:判断依次对所述硬盘进行掉电和上电操...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱金龙
申请(专利权)人:苏州浪潮智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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