本实用新型专利技术涉及测试设备技术领域，特别是涉及一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备，包括设备主体，所述设备主体前表面顶端固定连接有放置框，所述放置框一侧顶端表面与底端表面均开设有通孔，其中一个所述通孔内侧设置有第一转杆，所述第一转杆与通孔连接处设置有第一轴承；通过设计了放置框、电机、第一转杆、软毛、通孔、第一轴承、第一皮带辊、第二转杆、第二皮带辊、皮带、风机、第一导风管、第二导风管、导风支管、穿孔，使得检测晶体在被检测前，其表面可能附着的灰尘可以被有效的清理干净，使得晶体在后期进行像素测试时，检测的结果更加精准，有效的增加了设备的实用性。有效的增加了设备的实用性。有效的增加了设备的实用性。
【技术实现步骤摘要】
一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备
[0001]本技术涉及测试设备
，特别是涉及一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备。
技术介绍
[0002]晶体是由大量微观物质单位按一定规则有序排列的结构，因此可以从结构单位的大小来研究判断排列规则和晶体形态，在获取晶体的余晖参数时需要对其进行测试，但是目前的侧视设备仍然存在一些问题。
[0003]如授权公告号为CN215375170U的技术所公开的一种高效测试晶体余辉参数的测试设备，其虽然有效解决了现有技术中人工操作，晶体像素出光面跟PD芯片像素耦合精度差，测试数据准确性较差以及测试效率较低的问题，但是该设备在对晶体进行测试前，无法对其表面的灰尘先进行处理，在一定程度上会对晶体检测的结果造成影响，使得检测的结果不够精准，为此我们提出一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备。
技术实现思路
[0004]为了克服现有技术的不足，本技术提供一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备，通过设计了放置框、电机、第一转杆、软毛、通孔、第一轴承、第一皮带辊、第二转杆、第二皮带辊、皮带、风机、第一导风管、第二导风管、导风支管、穿孔，使得检测晶体在被检测前，其表面可能附着的灰尘可以被有效的清理干净，使得晶体在后期进行像素测试时，检测的结果更加精准，有效的增加了设备的实用性。
[0005]为解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备，包括设备主体，所述设备主体前表面顶端固定连接有放置框，所述放置框一侧顶端表面与底端表面均开设有通孔，其中一个所述通孔内侧设置有第一转杆，所述第一转杆与通孔连接处设置有第一轴承，所述第一转杆表面一端套设有第一皮带辊，且所述第一转杆一端设置有电机，其中另一个所述通孔内侧设置有第二转杆，所述第二转杆表面一端套设有第二皮带辊，所述第二皮带辊与第一皮带辊之间设置有皮带，且所述第一转杆与第二转杆处于放置框内侧一端表面均设置有软毛，所述放置框另一侧设置有风机，所述风机一侧设置有第一导风管，所述第一导风管顶端与底端均设置有第二导风管，所述第二导风管靠近放置框一侧设置有导风支管，所述导风支管一端处于放置框内壁开设有穿孔。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述设备主体内部设置有自动送料组件、自动取料组件、测试板、放射源、操作台。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，还包括移动组件，所述移动组件包括支撑座，所述支撑座处于设备主体底端一侧，所述设备主体底端另一侧设置有螺纹柱，所述螺纹柱外侧套设有螺纹套，所述螺纹套底端设置有第二轴承，所述第二轴承底端设置有连接板，所述连接板底端设置有滚轮，且所述设备主体一侧设置有握把。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述电机顶端设置有固定横板，所述固定横板与放置框为固定连接。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述设备主体前表面中部设置有防护门，所述防护门与设备主体为铰接。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述握把表面开设有防滑纹，且所述握把与设备主体一侧表面为焊接。
[0011]与现有技术相比，本技术能达到的有益效果是：
[0012]1、通过设计了放置框、电机、第一转杆、软毛、通孔、第一轴承、第一皮带辊、第二转杆、第二皮带辊、皮带、风机、第一导风管、第二导风管、导风支管、穿孔，使得检测晶体在被检测前，其表面可能附着的灰尘可以被有效的清理干净，使得晶体在后期进行像素测试时，检测的结果更加精准，有效的增加了设备的实用性。
[0013]2、通过设计了移动组件，使得工作人员可以快速的将设备移动到合适的位置放置，降低了移动设备时的难度，结构简单实用，通过设计了螺纹柱、螺纹套、第二轴承、连接板，使得滚轮可以被有效的固定起来。
附图说明
[0014]图1为本技术的一种实施例结构示意图；
[0015]图2为本技术图1中A处放大结构示意图；
[0016]图3为本技术图1中B处放大结构示意图；
[0017]图4为本技术图1中C处放大结构示意图；
[0018]其中：1、设备主体；2、放置框；3、电机；4、第一转杆；5、软毛；6、通孔；7、第一轴承；8、第一皮带辊；9、第二转杆；10、第二皮带辊；11、皮带；12、风机；13、第一导风管；14、第二导风管；15、导风支管；16、穿孔；17、支撑座；18、螺纹柱；19、螺纹套；20、第二轴承；21、连接板；22、滚轮；23、握把。
具体实施方式
[0019]为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例，进一步阐述本技术，但下述实施例仅仅为本技术的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本技术的保护范围。下述实施例中的实验方法，如无特殊说明，均为常规方法，下述实施例中所用的材料、试剂等，如无特殊说明，均可从商业途径得到。
[0020]实施例:
[0021]如图1、图2、图3所示，一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备，包括设备主体1，设备主体1前表面顶端固定连接有放置框2，放置框2一侧顶端表面与底端表面均开设有通孔6，其中一个通孔6内侧设置有第一转杆4，第一转杆4与通孔6连接处设置有第一轴承7，第一转杆4表面一端套设有第一皮带辊8，且第一转杆4一端设置有电机3，其中另一个通孔6内侧设置有第二转杆9，第二转杆9表面一端套设有第二皮带辊10，第二皮带辊10与第一皮带辊8之间设置有皮带11，且第一转杆4与第二转杆9处于放置框2内侧一端表面均设置有软
毛5，放置框2另一侧设置有风机12，风机12一侧设置有第一导风管13，第一导风管13顶端与底端均设置有第二导风管14，第二导风管14靠近放置框2一侧设置有导风支管15，导风支管15一端处于放置框2内壁开设有穿孔16，设备主体1内部设置有自动送料组件、自动取料组件、测试板、放射源、操作台；
[0022]当需要将测试晶体进行检测前，首先将电机3与风机12开启，电机3带动第一转杆4转动，并通过第一轴承7、第一皮带辊8、第二皮带辊10、皮带11的作用下，使得第二转杆9同时转动，第一转杆4与第二转杆9在转动时，带动其表面的软毛5同时运动，此时工作人员可以将测试晶体放置在第一转杆4与第二转杆9之间向右侧移动，此时软毛5将测试晶体表面附着的灰尘进行清理，当测试晶体达到一定位置后，风机12同时将产生的风通过第一导风管13、第二导风管14、导风支管15吹拂到测试晶体表面，使得测试晶体表面的灰尘被清理的更加彻底；现有的测试设备在对晶体进行测试前，无法对其表面的灰尘先进行处理，在一定程度上会对晶体检测的结果造成影响，使得检测的结果不够精准，通过设计了放置框2、电机3、第一转杆4、软毛5、通孔6、第一轴承7、第一皮带辊8、第二转杆9、第二皮带辊10、皮带11、风机12、第一导风管13、第二导风本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备，包括设备主体（1），其特征在于，所述设备主体（1）前表面顶端固定连接有放置框（2），所述放置框（2）一侧顶端表面与底端表面均开设有通孔（6），其中一个所述通孔（6）内侧设置有第一转杆（4），所述第一转杆（4）与通孔（6）连接处设置有第一轴承（7），所述第一转杆（4）表面一端套设有第一皮带辊（8），且所述第一转杆（4）一端设置有电机（3），其中另一个所述通孔（6）内侧设置有第二转杆（9），所述第二转杆（9）表面一端套设有第二皮带辊（10），所述第二皮带辊（10）与第一皮带辊（8）之间设置有皮带（11），且所述第一转杆（4）与第二转杆（9）处于放置框（2）内侧一端表面均设置有软毛（5），所述放置框（2）另一侧设置有风机（12），所述风机（12）一侧设置有第一导风管（13），所述第一导风管（13）顶端与底端均设置有第二导风管（14），所述第二导风管（14）靠近放置框（2）一侧设置有导风支管（15），所述导风支管（15）一端处于放置框（2）内壁开设有穿孔（16）。2.根据权利要求1所述的一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑健，李文刚，李官友，
申请(专利权)人：靖江安通电子设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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