磁特性测定装置以及磁特性测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种磁特性测定装置以及磁特性测定方法,其能够对构成热辅助磁记录介质的磁性层的有效磁特性进行评价。用于对磁记录介质的磁特性进行测定的磁特性测定装置包括:旋转机构,其用于使上述磁记录介质旋转；加热冷却机构,其用于对上述磁记录介质进行加热或冷却；温度测定机构,其用于对上述磁记录介质的温度进行测定；激光加热机构,其与上述磁记录介质的测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位进行加热；磁写入部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式使上述测定部位磁化；以及磁读取部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位的漏磁场进行读取。磁场进行读取。磁场进行读取。

【技术实现步骤摘要】
磁特性测定装置以及磁特性测定方法


[0001]本专利技术涉及磁特性测定装置以及磁特性测定方法。

技术介绍

[0002]为了进一步使硬盘驱动器(HDD)的记录容量增大,正在进行磁记录介质的高密度化的开发。特别是,正在积极进行作为下一代的HDD而被期待的使用热辅助磁记录方式记录信息的磁记录介质(或者热辅助磁记录介质)的研究开发。
[0003]热辅助磁记录方式是通过自搭载于磁头的激光产生部产生的激光对磁记录介质照射近场光,从而对磁记录介质的表面进行局部加热,由此使磁记录介质的矫顽力降低而磁记录信息的方式。
[0004]热辅助磁记录介质包括磁性层、为了提高热梯度、散热性而由高导热率材料构成的散热层、为了高效加热磁性层而设于磁性层之下的阻热层、以及为了抑制来自磁记录介质的热反射的反射控制层等。
[0005]作为用于测定热辅助磁记录介质的磁特性的方法,例如,在非专利文献1中,公开了通过使照射于热辅助磁记录介质的激光的输出改变,从而对热辅助磁记录介质的磁特性进行评价的方法。
[0006]<现有技术文献>
[0007]<非专利文献>
[0008]非专利文献1:Douglas A.Saunders et al.,“Magnetic Field Strength Measurements in Heat
‑
Assisted Magnetic Recording”,IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS,VOL.55,NO.12,DECEMBER 2019

技术实现思路

[0009]<专利技术要解决的问题>
[0010]这里,构成热辅助磁记录介质的层的层叠构造以控制基于激光的加热温度、热的扩散等的方式进行设计。在设计热辅助磁记录介质的层叠构造时,把握磁性层的居里温度及居里温度的方差是重要的。
[0011]居里温度是铁磁体变化为顺磁体的转变温度。在热辅助磁记录方式中,通过来自搭载于磁头的激光产生部的激光对磁记录介质的表面进行局部加热,使磁性层的反转磁场降低而记录信息。
[0012]磁性层中包含的磁性材料的居里温度一般通过设于加热机构的振动样品磁力计(VSM)进行测定。但是,存在以下问题,即,即使使用获得的居里温度来设计热辅助磁记录介质,也存在热辅助磁记录介质无法发挥预测的磁特性的情况。即,由于在大多数情况下于热辅助磁记录介质的磁性层的基板侧设置散热层、阻热层、反射控制层等,因此在热辅助磁记录介质的层叠构造内的热的流动复杂。另外,由于磁性层具有柱状的磁性粒子和非磁性晶界物的颗粒构造而具有导热各向异性,因此在热辅助磁记录介质的层叠构造内的热的流动
进一步变得复杂。因此,存在热辅助磁记录介质难以发挥如预测那样的磁特性的情况。
[0013]本专利技术的一个方式是鉴于上述情况而成的,其目的在于提供一种能够对构成热辅助磁记录介质的磁性层的有效磁特性进行测定的磁特性测定装置以及磁特性测定方法。
[0014]<用于解决问题的方法>
[0015]本专利技术的一个方式的磁特性测定装置用于对磁记录介质的磁特性进行测定,包括:旋转机构,其用于使上述磁记录介质旋转；加热冷却机构,其用于对上述磁记录介质进行加热或冷却；温度测定机构,其用于对上述磁记录介质的温度进行测定；激光加热机构,其与上述磁记录介质的测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位进行加热；磁写入部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式使上述测定部位磁化；以及磁读取部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位的漏磁场进行读取。
[0016]本专利技术的一个方式的磁特性测定方法是用于测定磁记录介质的磁特性的磁特性测定方法,包括:工序A,其通过旋转机构使上述磁记录介质旋转；工序B,其使激光加热机构、磁写入部、以及磁读取部自上述磁记录介质的表面悬浮而进行扫描；工序C,其通过加热冷却机构以及温度测定机构,将上述磁记录介质保持为小于居里温度的温度X；工序D,其通过上述激光加热机构和上述磁写入部,将上述磁记录介质的测定部位磁化为饱和状态；工序E,其通过上述激光加热机构对在上述工序D中磁化为上述饱和状态的上述测定部位进行加热而使其退磁,并且通过上述磁读取部读取退磁部位的漏磁场；工序F,其改变上述工序E中的激光加热量而重复上述工序D和上述工序E,从而求出上述工序E中的激光加热量与漏磁场的关系；工序G,其通过上述加热冷却机构以及上述温度测定机构,将上述磁记录介质保持为小于居里温度且与上述温度X不同的温度Y；工序H,其通过上述激光加热机构和上述磁写入部,将上述磁记录介质的测定部位磁化为饱和状态；工序I,其通过上述激光加热机构对在上述工序H中磁化为上述饱和状态的上述测定部位进行加热而使其退磁,并且通过上述磁读取部读取退磁部位的漏磁场；工序J,其改变上述工序I中的激光加热量而重复上述工序H和上述工序I,从而求出上述工序I中的激光加热量与漏磁场的关系；以及工序K,其根据在上述工序F和上述工序J中求出的激光加热量与漏磁场的关系,计算上述磁记录介质的磁特性。
[0017]<专利技术的效果>
[0018]根据本专利技术的一个方式,能够对构成热辅助磁记录介质的磁性层的有效磁特性进行测定。
附图说明
[0019]图1是示意性示出本专利技术的实施方式的磁特性测定装置的构成的一个例子的立体图。
[0020]图2是示出激光加热量与漏磁场/饱和磁化量的关系的一个例子的图。
[0021]图3是示出输入电流值与漏磁场/饱和磁化量的关系的一个例子的图。
[0022]图4是示出基于相对于输入电流值的漏磁场/饱和磁化量的测定数据的绘图与回归的累积分布函数的关系的图。
[0023]图5是示出热辅助磁记录介质的一个例子的剖视图。
[0024]附图标记说明
[0025]1ꢀꢀꢀ
磁特性测定装置
[0026]2ꢀꢀꢀ
热辅助磁记录介质(测定样品)
[0027]10
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旋转机构
[0028]20
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加热冷却机构
[0029]30
ꢀꢀꢀ
温度测定机构
[0030]40
ꢀꢀꢀ
激光加热机构
[0031]50
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磁头
[0032]51
ꢀꢀꢀ
磁写入部
[0033]52
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磁读取部
[0034]60
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磁头驱动机构
[0035]70
ꢀꢀꢀ
吊架
具体实施方式
[0036]以下,对本专利技术的实施方式进行详细说明。需要说明的是,本实施方式并不仅限于以下所示例子,只要没有特别限定,则可以改变数量、构成、位置、材料等。另外,为了使说明易于理解,在各附图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁特性测定装置,其用于对磁记录介质的磁特性进行测定,该磁特性测定装置包括:旋转机构,其用于使上述磁记录介质旋转；加热冷却机构,其用于对上述磁记录介质进行加热或冷却；温度测定机构,其用于对上述磁记录介质的温度进行测定；激光加热机构,其与上述磁记录介质的测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位进行加热；磁写入部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式使上述测定部位磁化；以及磁读取部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位的漏磁场进行读取。2.根据权利要求1所述的磁特性测定装置,其中,上述温度测定机构与上述磁记录介质相对配置,用于以非接触方式对上述磁记录介质的温度进行测定。3.根据权利要求1或2所述的磁特性测定装置,其中,该磁特性测定装置还具有:吊架；磁头,其包括上述磁写入部和上述磁读取部,并且安装于上述吊架；以及磁头驱动机构,其通过上述吊架来驱动上述磁头,上述激光加热机构安装于上述磁头。4.一种磁特性测定方法,其用于测定磁记录介质的磁特性,该磁特性测定方法包括:工序A,其通过旋转机构使上述磁记录介质旋转；工序B,其使激光加热机构、磁写入部、以及磁读取部自上述磁记录介质的表面悬浮而进行扫描；工序C,其通过加热冷却机构以及温度测定机构,将上...

【专利技术属性】
技术研发人员：张磊，工藤史人，平井佑纪，蒔田将行，山中谦亮，
申请(专利权)人：昭和电工株式会社，
类型：发明
国别省市：