摄像装置以及监视装置和方法制造方法及图纸

技术编号:3580762 阅读:149 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供摄像装置以及监视装置和方法,能可靠地检测并通知由于热而发生画像质量恶化的状态。温度检测部(23)检测对数转换型摄像元件(22)的周围温度,并将表示检测出的温度的信号提供给通知部(42)。容许温度设定部(41)根据由被摄体照度检测部(12)检测出的被摄体照度,设定画像质量恶化程度处于图像处理装置(13)所容许的范围内的对数转换型摄像元件(22)的周围温度即容许温度,并将表示所设定的容许温度的信息提供给通知部(42)。在对数转换型摄像元件(22)的周围温度超过容许温度的情况下,通知部(42)将出错信号输出到图像处理装置(13)。本发明专利技术可应用于具有对数转换型摄像元件的摄像装置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及,特别是涉及能可靠地检 测并通知由于热而发生画像质量恶化的状态的摄像装置以及监视装置和 方法。
技术介绍
近年来,进行驾驶辅助的驾驶辅助装置、防止车辆被盗的被盗防止 装置、辅助车辆的安全行驶的安全辅助装置等的车载装置的开发很盛行, 这些车载装置对由搭载在车辆上的摄像装置所拍摄的图像进行图像处理 并利用图像处理结果来实现便利性、安全性、防盗性等的提高。并且,期待着在这些车载装置中利用使用了对数转换型摄像元件(例 如参照专利文献1)的摄像装置,该对数转换型摄像元件通过输出由与入 射光量的对数大致成正比的亮度值构成的图像数据,实现宽的动态范围, 即使在以明亮天空为背景的室外、西照阳光等造成的逆光的环境、或者 夜间等,也能拍摄清晰的图像。专利文献1日本特表平7-506932公报然而,与以往的使用CCD (Charge Coupled Device,电荷耦合装置) 摄像元件禾口 CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体)摄像元件的摄像装置一样,在使用对数转换型摄像元件的摄像装置中,也存在以下这样的问题,SP:当周围温度增高时,产 生暗电流、热噪声等的由热引起的噪声,画像质量恶化。而且,伴随画 像质量恶化,图像处理结果的可靠性下降,其结果,存在上述的车载装 置误动作的可能性。
技术实现思路
本专利技术是鉴于上述状况而生成的,本专利技术能可靠地检测并通知由于 热而发生画像质量恶化的状态。本专利技术的第1侧面的摄像装置,其具有输出与入射光量的对数大致 成正比的亮度值的摄像元件,该摄像装置具有温度检测单元,其检测 摄像元件的周围温度;容许温度设定单元,其根据被摄体照度,设定画 像质量的恶化程度在容许范围内的摄像元件的周围温度即容许温度;以 及通知单元,其在摄像元件的周围温度超过容许温度的情况下,输出通 知摄像元件的周围温度超过容许温度这一情况的信号。在本专利技术的第1侧面的摄像装置中,检测摄像元件的周围温度,根 据被摄体照度,设定画像质量的恶化程度在容许范围内的摄像元件的周 围温度即容许温度,在摄像元件的周围温度超过容许温度的情况下,输 出通知摄像元件的周围温度超过容许温度这一情况的信号。因此,能可靠地检测并通知由于热而发生画像质量恶化的状态。该摄像装置例如由这样的摄像装置构成,即使用HDRC (High Dynamic Range (高动态范围)CMOS ( Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体)(注册商标))等的对数转换型 摄像元件,可在比人眼的动态范围宽的动态范围内拍摄被摄体。该温度检测单元例如由热电偶、热敏电阻等的温度传感器构成。该容许温度设定单元和信号输出单元例如由CPU(Central Processing Unit,中央处理单元)构成。该摄像装置可以还具有照明控制单元,在摄像元件的周围温度超过 容许温度的情况下,该照明控制单元调整照明装置的亮度,以便提高照 射到被摄体上的照明亮度。由此,可抑制由热引起的画像质量恶化。该照明控制单元例如由CPU构成。该温度检测单元通过遮挡入射到摄像元件的一部分像素的受光面上 的光,并检测流过一部分像素内的暗电流,可检测摄像元件的周围温度。由此,可准确地检测摄像元件的周围温度。并且,可减小设置温度 检测单元的空间。本专利技术的第2侧面的监视装置,其监视摄像装置的状态,该摄像装置具有输出与入射光量的对数大致成正比的亮度值的摄像元件,该监视装置包含容许温度设定单元,其根据被摄体照度,设定画像质量恶化 程度在容许范围内的摄像元件的周围温度即容许温度;以及通知单元, 其在摄像元件的周围温度超过容许温度的情况下,输出通知摄像元件的 周围温度超过容许温度这一情况的信号。在本专利技术的第2侧面的监视装置中,根据被摄体照度,设定画像质 量恶化程度在容许范围内的摄像元件的周围温度即容许温度,在摄像元 件的周围温度超过容许温度的情况下,输出通知摄像元件的周围温度超 过容许温度这一情况的信号。因此,能可靠地检测并通知由于热而发生画像质量恶化的状态。该摄像装置例如由这样的摄像装置构成,即使用HDRC (High Dynamic Range (高动态范围)CMOS ( Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体)(注册商标))等的对数转换型 摄像元件,可在比人眼的动态范围宽的动态范围内拍摄被摄体。该容许温度设定单元和信号输出单元例如由CPU(Central Processing Unit,中央处理单元)构成。该监视装置可以还具有照明控制单元,在摄像元件的周围温度超过 容许温度的情况下,该照明控制单元调整照明装置的亮度,以便提高照 射到被摄体上的照明亮度。由此,可抑制由热引起的画像质量恶化。该照明控制单元例如由CPU构成。该监视装置可以还包含检测被摄体的照度的照度检测单元。 该照度检测单元例如由照度计或照度传感器构成。 本专利技术的第2侧面的监视方法,其监视摄像装置的状态,该摄像装 置具有输出与入射光量的对数大致成正比的亮度值的摄像元件,该监视 方法包含容许温度设定步骤,其根据被摄体照度,设定画像质量恶化 程度在容许范围内的摄像元件的周围温度即容许温度;以及通知步骤, 其在摄像元件的周围温度超过容许温度的情况下,输出通知摄像元件的周围温度超过容许温度这一情况的信号。在本专利技术的第2侧面的监视方法中,根据被摄体照度,设定画像质 量恶化程度在容许范围内的摄像元件的周围温度即容许温度,在摄像元 件的周围温度超过容许温度的情况下,输出通知摄像元件的周围温度超 过容许温度这一情况的信号。 '因此,能可靠地检测并通知由于热而发生画像质量恶化的状态。该摄像装置例如由这样的摄像装置构成,即使用HDRC (High Dynamic Range (高动态范围)CMOS ( Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体)(注册商标))等的对数转换型 摄像元件,可在比人眼的动态范围宽的动态范围内拍摄被摄体。该容许温度设定步骤例如由这样的容许温度设定步骤构成,即根 据被摄体照度,通过CPU设定画像质量恶化程度在容许范围内的摄像元 件的周围温度即容许温度,通知步骤例如由这样的输出步骤构成,艮卩 在摄像元件的周围温度超过容许温度的情况下,通过CPU输出通知摄像 元件的周围温度超过容许温度这一情况的信号。如上所述,根据本专利技术的第1和第2侧面,设定画像质量恶化程度 在容许范围内的摄像元件的周围温度即容许温度。特别是,根据本专利技术 的第1和第2侧面,能可靠地检测并通知由于热而发生画像质量恶化的 状态。附图说明图1是示出应用本专利技术的图像处理系统的第1实施方式的框图。图2是用于说明图1的温度检测部的结构的例子的图。图3是用于说明图1的温度检测部的结构的另一例子的图。图4是示出对数转换型摄像元件等的感光度特性的曲线图。图5是用于说明由图1的图像处理系统执行的图像处理的流程图。图6是示出应用本专利技术的图像处理系统的第2实施方式的框图。图7是用于说明由图6的图像处理系统执行的图像处理的流程图。图8是示出个人计算机的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种摄像装置,其具有输出与入射光量的对数大致成正比的亮度值的摄像元件,该摄像装置包含: 温度检测单元,其检测所述摄像元件的周围温度; 容许温度设定单元,其根据被摄体照度,设定画像质量的恶化程度在容许范围内的所述摄像元件的周围温度即容许温度;以及 通知单元,其在所述摄像元件的周围温度超过所述容许温度的情况下,输出通知所述摄像元件的周围温度超过所述容许温度这一情况的信号。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:石井启乔
申请(专利权)人:欧姆龙株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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