环温-辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法技术

技术编号:35777515 阅读:30 留言:0更新日期:2022-12-01 14:21
本发明专利技术公开了一种环温

【技术实现步骤摘要】
环温

辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法


[0001]本专利技术涉及环境模拟测试实验
,特别涉及一种环温

辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法、一种环温

辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试装置和一种电子设备。

技术介绍

[0002]环境模拟测试试验,是为了试件在预期的使用、运输或贮存的所有环境下,保持试件功能可靠性而进行的活动。具体地,是在室内条件下,利用人工方法模拟自然环境,包括强风、高低温、湿度、太阳辐射、降雨降雪等,对不同的试验件开展各种环境因素单一测试实验或耦合测试实验,以检测在不同环境下试验件的耐受参数,从而为试件在真实环境下的各项性能指标提供理论支持和实践指导。
[0003]目前,真实工况下环温和辐射共同作用居多、影响相似、作用最突出。因此,有必要在环境试验舱进行模拟测试,以寻求环温

辐射耦合作用机理。然而,相关技术中大型环境实验舱或步入式环境实验舱的设备受测试环境、测试成本的限制,导致大尺度下的环温<br/>‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种环温

辐射耦合测试工况下试件热应变的解耦测试方法,其特征在于,所述方法包括:分别构建环温单一测试工况、辐射单一测试工况下,试件热应变测试信号的表达式,得到第一表达式和第二表达式;根据目标环境温度对所述第一表达式进行求解,得到环温单一测试工况下的试件热应变测试信号,记为第一热应变测试信号;根据所述目标环境温度构建环温传递函数,并根据所述目标环境温度和所述传递函数得到弱化环境温度;根据所述弱化环境温度和辐射强度对所述第二表达式进行求解,得到辐射单一测试工况下的试件热应变测试信号,记为第二热应变测试信号;根据所述传递函数、所述第一热应变测试信号和所述第二热应变测试信号,得到环温

辐射耦合测试工况下的试件热应变测试信号。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述传递函数、所述第一热应变测试信号和所述第二热应变测试信号,得到环温

辐射耦合测试工况下的试件热应变测试信号,包括:构建环温

辐射耦合测试工况下,试件热应变测试信号的表达式,得到第三表达式;根据所述第一表达式、所述第二表达式和所述第三表达式,构建解耦测试表达式;根据所述解耦测试表达式、所述传递函数、所述第一热应变测试信号和所述第二热应变测试信号,得到环温

辐射耦合测试工况下的试件热应变测试信号。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一表达式为:所述第二表达式为:所述第三表达式为:其中,ρ为试件的密度,c为试件的比热容,τ为时间间隔,λ为试件的导热率,h(x,y)为对流换热系数,δ为试件的厚度,x为试件的长度,y为试件的宽度,α为辐射吸收比。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据目标环境温度对所述第一表达式进行求解,包括:对所述第一表达式进行S域变换,得到第一函数,并根据所述目标环境温度的S域函数和所述第一函数,得到所述第一热应变测试信号;所述根据所述弱化环境温度对所述第二表达式进行求解,包括:对所述第二表达式进行S域变换,得到第二函数,并根据所述弱化环境温度的S域函数和所述第二函数,得到所述第二热应变测试信号。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标环境温度构建环温传递函数,并根据所述目标环境温度和所述传递得到弱化环境温度,包括:构建所述环温传递函数其中,为所述弱化环境温度的S域函数,T<...

【专利技术属性】
技术研发人员:周帆王月武金模刘小勇付明
申请(专利权)人:清华大学合肥公共安全研究院
类型:发明
国别省市:

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