本发明专利技术提供一种面向图形芯片功耗测试的方法及装置，该方法包括：初始化图形处理器芯片的时钟、帧资源和固件以开始执行；配置图形内核的页表寄存器并使图形内核执行该测试帧；判断测试帧的执行次数是否满足预定次数，当测试帧的执行次数满足预定次数时，结束执行，当测试帧的执行次数不满足预定次数时，重置存放在图形处理器芯片存储单元中的最小数据集，该最小数据集包括环形缓冲区指针与Fence，然后返回测试，直至测试帧的执行次数达到预定次数。本发明专利技术所提供的技术方案用于对芯片进行批量筛选，以筛选出符合功耗要求的芯片。以筛选出符合功耗要求的芯片。以筛选出符合功耗要求的芯片。
【技术实现步骤摘要】
一种面向图形芯片功耗测试的方法及装置
[0001]本专利技术涉及图形芯片功耗测试领域，特别涉及一种面向图形芯片功耗测试的方法及装置。
技术介绍
[0002]图形处理器芯片（Graphic Process Unit，GPU）因其大规模并行计算能力以及图形渲染能力，在人工智能、大数据和游戏娱乐等领域得到了越来越广泛的应用。
[0003]然而，无论是个人设备还是服务器端，由GPU构成的系统均存在严格的功耗要求，因此GPU在设计之初便制定了功耗上限，在运行全过程中GPU均需贯彻这一限制，这就对量产芯片如何从功耗限制的角度进行筛片提出了更高的要求。
[0004]通常而言，对一般的量产芯片进行筛片主要有两种方式来限制功耗，一种方式是利用常温静态电流的上限来筛片，另一种方式是利用片上集成的监测进程（process）快慢的振荡电路环来筛片。但是，由于图形处理器芯片的功耗限制比一般芯片更加严格，因此对于图形处理器芯片而言仅采用上述两种方式是无法满足筛片需求的。
[0005]在前述情况下，为满足图形处理器芯片的筛片需求，需要在测试机台上测量芯片在给定电压频率下的真实功耗（power），并预测芯片在系统真实应用中的功耗。
[0006]进一步地，为满足功耗测试需求，对在测试机台上测试图形处理器芯片核心的功耗存在如下要求：（1）GPU需执行尽可能重的工作负荷，以达成芯片内部大范围、高速率地翻转；（2）电流测量窗口在2~10ms区间，对于以吉赫兹（109Hz）工作的GPU而言，该窗口意味着百万时钟周期的持续运行。
[0007]然而，上述利用测试机台进行筛片的方式还存在如下技术问题：（1）测试机台和单芯片构成的环境，无外围的大规模存储器可用，也无驱动、操作系统等软件层面的支持，这使得GPU无法运行真实的应用；（2）2~10ms的测试时间意味着GPU需要运行很多帧，而每个帧资源从准备、接收命令直至开始运行均需要比较长的时间，在这段时间内GPU核心处于空闲状态，无法得到有效利用；（3）GPU的工作频率在吉赫兹（109Hz），而芯片JTAG口的工作频率在数十兆赫兹（106Hz），二者工作频率的巨大差异使得测试机台与GPU交互需花费大量时间。
技术实现思路
[0008]鉴于此，本专利技术提供了一种面向图形芯片功耗测试的方法及装置。
[0009]根据本专利技术的一个方面，提供了一种面向图形芯片功耗测试的方法，用于测试机台对图形处理器芯片进行功耗测试，该方法包括：初始化步骤，该测试机台初始化图形处理器芯片的时钟，将包括测试帧的测试资源下载至该图形处理器芯片中；配置步骤，该图形处理器芯片配置图形内核的页表寄存器；测试步骤，该图形内核执行该测试帧；判断步骤，判
断该测试帧的执行次数是否达到预定次数，当该测试帧的执行次数达到预定次数时，结束执行；当该测试帧的执行次数未达到预定次数时，重置存放在该图形处理器芯片的存储单元中的最小数据集，然后重新依次执行该测试步骤和该判断步骤；其中，该最小数据集包括环形命令缓冲区指针以及Fence。
[0010]根据本专利技术的另一个方面，提供了一种面向图形芯片功耗测试的装置，用于测试机台对图形处理器芯片进行功耗测试，该装置包括：初始化模块，被配置用于使得该测试机台将包括测试帧的测试资源下载至该图形处理器芯片中；配置模块，被配置用于使得该图形处理器芯片对图形内核的页表寄存器进行配置；测试模块，被配置用于使得该图形内核执行该测试帧；判断模块，被配置用于判断该测试帧的执行次数是否达到预定次数，当该测试帧的执行次数达到预定次数时，结束执行；当该测试帧的执行次数未达到预定次数时，重置存放在该图形处理器芯片的存储单元中的最小数据集，然后重新依次执行该测试模块和该判断模块；其中，该最小数据集包括环形命令缓冲区指针以及Fence。
[0011]根据本专利技术的又另一方面，提供了一种电子设备，该电子设备包括一个或多个处理器，还包括用于存储可执行指令的存储器，该一个或多个处理器被配置为经由该可执行指令来实现上述方法的操作。
[0012]根据本专利技术的再另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，使处理器执行上述的方法。
[0013]根据本专利技术的再另一方面，提供了一种计算机程序产品，其包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，使处理器执行上述的方法。
[0014]从以上技术方案可以看出，本专利技术所提供的技术方案至少存在以下优点：仅在帧间重置最小数据集（环形命令缓冲区的指针和Fence），并重复运行该测试帧，减少了帧与帧之间GPU核心空闲等待的时间，显著地提升了GPU繁忙时间与空闲时间的比值，从而推高了GPU功耗，更有利于功耗的测试和筛选。
[0015]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者通过实施本专利技术的具体实施例而了解。
附图说明
[0016]附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，但并不构成对本专利技术技术方案的限制。
[0017]图1示出了本专利技术所提供的面向图形芯片功耗测试的方法的流程图；图2示出了本专利技术中预处理步骤的流程图；图3示出了本专利技术所提供的面向图形芯片功耗测试的装置的模块图；图4示出了本专利技术中预处理模块的模块图。
具体实施方式
[0018]下面将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。对示例性实施例的描述仅仅是说明性的，并不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。本专利技术可以以许多不同的形式实现，不限于这里所述的实施例。提供这些实施例是为了使本专利技术透彻且完整，并且向本领域技术人员充分表达本专利技术的范围。
[0019]除非上下文另外明确地表明，如果不特意限定要素的数量，则该要素可以是一个也可以是多个。如本说明书使用的，术语“多个”意指两个或更多，并且术语“基于”应解释为“至少部分地基于”。此外，术语“和/或”以及
“……
中的至少一个”涵盖所列出的项目中的任何一个以及全部可能的组合方式。
[0020]另外，本说明书中有涉及“第一”、“第二”等的描述，该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。
[0021]本专利技术提出一种面向图形芯片功耗测试的方法，该方法能够应用于测试机台对图形处理器芯片（GPU）进行功耗测试，该方法能够实现对测试帧的快速重复，从而减少了帧间图形处理器芯片核心空闲等待的时间，有利于图形处理器芯片的功耗测量。
[0022]下面将结合附图详细描述本专利技术的实施例。
[0023]请参考图1，其示出了本专利技术所提供的面向图形芯片功耗测试的方法的流程图。
[0024]方法用于使用测试机台对图形处理器芯片进行功耗测试，该方法包括初始化步骤、配置步骤、测试步骤以及判断步骤。在一个实施例中，测试机台对所述图形处理器芯片的操作优选地由设置在图形处理器芯片的片上静态随机存取存储器（SRAM）本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种面向图形芯片功耗测试的方法，用于测试机台对图形处理器芯片进行功耗测试，其特征在于，所述方法包括：初始化步骤，所述测试机台将包括测试帧的测试资源下载至所述图形处理器芯片中；配置步骤，所述图形处理器芯片配置图形内核的页表寄存器；测试步骤，所述图形内核执行所述测试帧；判断步骤，判断所述测试帧的执行次数是否达到预定次数，当所述测试帧的执行次数达到预定次数时，结束执行；当所述测试帧的执行次数未达到预定次数时，重置存放在所述图形处理器芯片的存储单元中的最小数据集，然后重新依次执行所述测试步骤和所述判断步骤；其中，所述最小数据集包括环形命令缓冲区指针以及Fence。2.根据权利要求1所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述图形处理器芯片的存储单元为片上静态随机存取存储器，所述图形处理器芯片上还设置有片上微处理器，所述片上微处理器的功能由代码固件进行实现。3.根据权利要求1所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述初始化步骤中，所述测试机台初始化所述图形处理器芯片的时钟并将所述测试资源下载至所述图形处理器芯片的片上静态随机存取存储器中，所述测试资源包括所述测试帧与所述代码固件，然后所述测试机台对所述片上微处理器解除复位以使得所述片上微处理器开始执行。4.根据权利要求2所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述图形处理器芯片的片上微处理器对所述图形内核的页表寄存器进行配置。5.根据权利要求1所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述测试帧的执行次数的预定次数为100次，以使得测试总时长的持续范围为2~10ms。6.根据权利要求2所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述图形处理器芯片的片上微处理器重置所述最小数据集。7.根据权利要求1所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述最小数据集由预处理步骤确定，所述预处理步骤包括获取步骤、抽取步骤、统计步骤以及收集步骤。8.根据权利要求7所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，在所述获取步骤中，获取所述测试帧的仿真波形；在所述抽取步骤中，抽取仿真波形中存储单元的地址信号；在所述统计步骤中，统计地址信号范围内的每一页的资源项的读写记录；以及在所述收集步骤中，从读写记录中收集被既读又写的资源项。9.根据权利要求8所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述被既读又写的资源项即构成所述最小数据集。10.一种面向图形芯片功耗测试的装置，用于测试机台对图形处理器芯片进行功耗测试，其特征在于，所述装置包括：初始化模块，被配置用于使得所述测试机台将包括测试帧的测试资源下载至所述图形处理器芯片中；配置模块，被配置用于使得所述图形处理器芯片对图形内核的页表寄存器进行配置；测试模块，被配置用于使得所述图形内...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪焱，贺秋丽，
申请(专利权)人：瀚博半导体上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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