【技术实现步骤摘要】
高精密比较仪装置
[0001]本专利技术具体涉及一种高精密比较仪装置。
技术介绍
[0002]原有的检测技术多采用千分尺测量或千分表对比测量与三坐标检测，这种方式误差较大无法保证加工精准度，目前很多零件配精度要求都在0.4um，上述方式无法达到相应的精度要求，加工时无高精度的量具保障精度，因而提出一种高精密比较仪装置以解决这一问题。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种高精密比较仪装置，该高精密比较仪装置可以很好地解决上述问题。
[0004]为达到上述要求，本专利技术采取的技术方案是：提供一种高精密比较仪装置，该高精密比较仪装置包括基座和设置在所述基座一侧端面顶部的立柱；基座的顶部端面设有杠杆，所述杠杆上设有杠杆支座、拉紧螺钉及弹簧螺塞；基座的上方设有千分表，所述千分表通过千分表座固定在所述基座的上端面，所述千分表底部的测量平表头位于所述杠杆的上方；立柱的侧端面上接有上V行滑块，所述上V行滑块的侧端面设有上测量头，所述上测量头的底部设有标规，所述标规的下方接有下测量头，所述下测量头的底部接有下V行滑块和滚珠弹道结构。
[0005]该高精密比较仪装置具有的优点如下：
[0006]该装置通过切换V形下测量头及平面下测量头可对比精密测量，范围外圆尺寸￠1
‑
￠27的零件及平面零件0
‑
60mm的零件。可通过标规快速精准的检测在制精密零件成品零件的尺寸及形位尺寸，从而及大的提高了生产效率和零件的检测精度。>附图说明
[0007]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，在这些附图中使用相同的参考标号来表示相同或相似的部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0008]图1示意性地示出了根据本申请一个实施例的高精密比较仪装置进行圆柱测量时的结构示意图。
[0009]图2示意性地示出了根据本申请一个实施例的高精密比较仪装置进行平面测量时的结构示意图。
[0010]其中：1、立柱；2、基座；3、下V行滑块；4、滚珠弹道结构；5、下测量头；6、标规；7、上测量头；8、上V行滑块；9、拉紧螺钉；10、上把手；11、弹簧；12、下把手；13、杠杆；14、杠杆支座；15、拉紧螺钉；16、弹簧螺塞；17、测量平表头；18、千分表座；19、千分表。
具体实施方式
[0011]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图及具体实施例，对本申请作进一步地详细说明。
[0012]在以下描述中，对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”、“示例”等等的引用表明如此描述的实施例或示例可以包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度，但并非每个实施例或示例都必然包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度。另外，重复使用短语“根据本申请的一个实施例”虽然有可能是指代相同实施例，但并非必然指代相同的实施例。
[0013]为简单起见，以下描述中省略了本领域技术人员公知的某些技术特征。
[0014]根据本申请的一个实施例，提供一种高精密比较仪装置，如图1
‑
2所示，包括基座2和设置在所述基座2一侧端面顶部的立柱1；基座2的顶部端面设有杠杆13，所述杠杆13上设有杠杆支座14、拉紧螺钉15及弹簧螺塞16。
[0015]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的基座2的上方设有千分表19，所述千分表19通过千分表座18固定在所述基座2的上端面，所述千分表19底部的测量平表头17位于所述杠杆13的上方。
[0016]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的立柱1的侧端面上接有上V行滑块8，所述上V行滑块8的侧端面设有上测量头7，所述上测量头7的底部设有标规6，所述标规6的下方接有下测量头5，所述下测量头5的底部接有下V行滑块3和滚珠弹道结构4。
[0017]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的基座2的底部插有一个拉紧螺钉9，所述基座2和所述立柱1之间通过一个所述拉紧螺钉9连接。
[0018]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的立柱1的侧端面通过一个拉紧螺钉9与上把手10连接，所述立柱1上还插有下把手12，所述下把手12和所述上把手10之间设有弹簧11。
[0019]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的基座2为水平设置，所述立柱1为竖直设置。
[0020]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的下V行滑块3与上V行滑块8与立柱1的V形配合小间隙及形成平行状态。
[0021]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的上测量头7与上V行滑块8形成平行状态，下测量头5与滚珠弹道结构4形成过盈状态。
[0022]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的下测量头5与上测量头7因设计垂直平行原理而保障其的测量接触面水平状态利于测量，通过下测量头5与杠杆13短端接触下压使之长端往上翘触动千分表19变化而按10倍的比例产生数值。
[0023]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的下V行滑块3和上V行滑块8与立柱的垂直及配合间隙及立柱与基座的垂直度，保证上下测量柱的垂直状态及滑行处于水平状态。
[0024]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的滚珠弹道结构与下测量柱的过盈装配，保证滑动范围内的精度。
[0025]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置采用杠杆原理把测量数据通过千分表放大10倍的反应数据。
[0026]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的下测量头采用V形及平面接触
头可测量圆形零件及平面零件的尺寸及形位尺寸。
[0027]根据本申请的一个实施例，该高精密比较仪装置的使用操作步骤如下：该检具工装上测量头7做测量基准根据零件的厚度尺寸上V行滑块8通过立柱1的V形导轨调整好高度后拉紧螺钉15，把标规6校正千分表的数值归零。通过上把手10、弹簧11、下把手12上下把手及弹簧的拟合使下测量头5通过滚珠弹道结构滑动产生间隙放入需测零件，通过10:1的杠杆13传递放大10倍的数据从千分表19读出与零位差的数据。
[0028]以上所述实施例仅表示本专利技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能理解为对本专利技术范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本专利技术保护范围。因此本专利技术的保护范围应该以所述权利要求为准。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精密比较仪装置，其特征在于：包括基座和设置在所述基座一侧端面顶部的立柱；所述基座的顶部端面设有杠杆，所述杠杆上设有杠杆支座、拉紧螺钉及弹簧螺塞；所述基座的上方设有千分表，所述千分表通过千分表座固定在所述基座的上端面，所述千分表底部的测量平表头位于所述杠杆的上方；所述立柱的侧端面上接有上V行滑块，所述上V行滑块的侧端面设有上测量头，所述上测量头的底部设有标规，所述标规的下方接有下测量头，所述下测量头的底部接有下V...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘泽贵，何中林，杨波，杨建林，张开平，
申请(专利权)人：成都润驰精密电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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