一种精准度高的残影测试方法技术

本发明专利技术涉及一种精准度高的残影测试方法，属于显示屏模组测试技术领域，通过光学仪器对点亮黑白格画面前后的纯灰色画面的色坐标进行检测，使得显示屏模组残影的测试结果能够用数据来量化，能够解决人眼判断残影测试结果可能存在误差的问题，让残影的判定更加精准，在进行测试前，通过多人判断同一显示屏模组的残影程度，然后选择相同值作为对照对光学仪器进行校准，能够保证光学仪器在使用时的精准度，从而能够让残影的判定结果更加精准，采用同一个点屏装置为进行点亮，能够减少前后检测的误差，并且对每次点亮后的亮度进行检测，能够减少亮度差异对检测结果的影响。少亮度差异对检测结果的影响。少亮度差异对检测结果的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种精准度高的残影测试方法


[0001]本专利技术涉及一种精准度高的残影测试方法，属于显示屏模组测试


技术介绍

[0002]残影在光电显示领域，主要指显示器上的残留的影像，也就是当在显示器上进行画面切换时，前一个画面不会立刻消失，视觉效果与第二个画面同时出现，并且会慢慢消失的现象，残影显然会影响阅读显示器的显示内容，因此会引起可读性下降，造成用户体验差，在一些特殊的场合可能会由于信息获取不及时或错误，导致发生安全事故；
[0003]在显示屏行业中，残影测试是其中一项重要的测试项目，但是，由于残影测试的判定是由人眼来判定的，所以不同的测试人员判定的结果可能存在误差，我国专利：CN113345356B就曾提出过人为判断残影结果不准确的问题。因此我们对此做出改进，提出一种精准度高的残影测试方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题是：残影测试的判定是由人眼来判定的，所以不同的测试人员判定的结果可能存在误差的问题。
[0005]为了实现上述专利技术目的，本专利技术提供了一种精准度高的残影测试方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，包括：步骤A、选择被测试的显示屏模组，所述显示屏模组具有黑白格画面以及纯灰色画面，显示屏模组具有N个主区域，每个主区域具有两个子区域，在黑白格画面下，一个子区域显示黑格，另一个子区域显示白格，且N个主区域之间的黑格和白格为相互交错分布；步骤B、先切到纯灰色画面，分别测试N个主区域中每个子区域的色坐标(x，y)，然后点亮黑白格画面；步骤C、点亮黑白格画面一小时后，切到纯灰色画面，再次分别测试N个主区域中每个子区域的色坐标(x，y)；步骤D、黑格残影程度由
△
x黑和
△
y黑量化衡量，白格残影程度由
△
x白和
△
y白量化衡量；
△
x黑＝所有黑格的
△
x之和/N；
△
y黑＝所有黑格的
△
y之和/N；
△
x白＝所有白格的
△
x之和/N；
△
y白＝所有白格的
△
y之和/N；其中，
△
x为子区域点亮黑白格画面前与点亮黑白格画面后的x差值，
△
y为子区域点亮黑白格画面前与点亮黑白格画面后的y差值。2.根据权利要求1所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，所述纯灰色画面的灰色度为128。3.根据权利要求1所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，所述步骤B中色坐标采用CIE1993色坐标系。4.根据权利要求1所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，所述步骤B中色坐标测量仪器为光学仪器CS2000。5.根据权利要求1所述的一种精准度高的残影测试方法，其特征在于，N具体为8，即主区域数量为8，子区域数量为16，16个子区域按四行四列排布；
△
x黑＝(
△
x1+
△
x3+
△
x6+
△
x8+
△
x9+
△
x11+
△
x14+
△
x16)/8；
△
y黑＝(
△
y1+
△
y3+
△
y6+
△
y8+
△
y9+
△

【专利技术属性】
技术研发人员：杨磊，魏玲枫，樊劼，
申请(专利权)人：信利光电仁寿有限公司，
类型：发明
国别省市：