一种继电器综合参数测试系统技术方案

本发明专利技术继电器检测技术领域，尤其涉及一种继电器综合参数测试系统，包括上位机和示波器，并集成了底板、网络交换机、若干综合测试模块、若干夹具板、线圈电源、ATX电源、和外部电源接口；综合测试模块和夹具板集成于底板上；示波器、线圈电源和网络交换机分别与上位通信连接，并分别通过底板接入各综合测试模块；线圈电源和ATX电源分别通过底板接入各综合测试模块，并分别与外部电源接口连接。本技术方案通过在底板上集成若干个综合测试模块，可根据实际需要而拓展综合测试模块的数量，由此，本技术方案采用低成本的测试系统，同时测试多个继电器，兼容单继电器测试和多继电器测试，使用起来灵活性好。起来灵活性好。起来灵活性好。

【技术实现步骤摘要】
一种继电器综合参数测试系统


[0001]本专利技术继电器检测
，尤其涉及一种继电器综合参数测试系统。

技术介绍

[0002]继电器电参数测试装置控制系统按设定频率操作试品，并进行电参数的测试，通过工控机扩展板卡完成试验的过程控制和动态数据采集，并对试验数据进行处理和显示。由于参数过多，尤其在采用连续采样与运算结合构成的多参数检测系统中，参数的采集及运算时间过多，并影响检测速度。
[0003]目前，大部分继电器生产厂家仍然依赖手动调节电源电压，采用人眼去判断触点的通断状态以及衔铁位置来评估相应参数。但手动测试受人为因素的影响太多，其出错率高，不易控制，严重地制约了生产效率的提高，不利于产品的大批量生产。而现有的测试系统虽然能解决前述问题，但其不仅造价昂贵，测试过程繁琐；且灵活性、测试性和维修性差。

技术实现思路

[0004]本专利技术针对现有技术存在的不足，提供一种继电器综合参数测试系统，具体方案如下：一种继电器综合参数测试系统，其特征在于：包括上位机、示波器和测试主体；所述测试主体集成了底板、网络交换机、综合测试单元、夹具单元、线圈电源、ATX电源、和外部电源接口。所述综合测试单元和夹具单元集成于底板上，且综合测试单元中包含有若干个分别与底板连接的综合测试模块，夹具单元中包含有若干个分别与底板连接的夹具板。所述示波器、线圈电源和网络交换机分别与上位通信连接，并分别通过底板接入各综合测试模块。所述线圈电源和ATX电源分别通过底板接入各综合测试模块，并分别与所述外部电源接口连接。
[0005]优选的，所述测试主体上还设置有执行按钮，且执行按钮与底板连接。
[0006]优选的，所述综合测试模块包括继电器测试电路，且继电器测试电路包括主控MCU、程控开关、测试接口、负载模块、差分运放模块Ⅰ、差分运放模块Ⅱ、继电器隔离模块Ⅰ、时间测量电路和A/D模块。测试接口包括线圈部和触点部；所述线圈电源通过程控开关接入测试接口的线圈部，测试接的口线圈部依次通过差分运放模块Ⅰ和继电器隔离模块Ⅰ接入所述示波器；主控MCU通过I/O连接程控开关；差分运放模块Ⅰ分别接入实践测量电路和A/D模块。所述ATX电源与主控MCU电性连接，并通过负载模块接入测试接口的触点部；测试接口的触点部端接接入继电器隔离模块Ⅰ，同时通过时间测量电路接入主控MCU，并依次通过差分运放模块Ⅱ和A/D模块接入主控MCU。
[0007]优选的，所述继电器测试电路还包括接入ATX电源与主控MCU之间的LDO线性稳压电源。
[0008]优选的，所述综合测试模块还包括线圈电源测试电路，且线圈电源测试电路包括继电器隔离模块Ⅱ、差分运放模块Ⅲ以及接入程控开关与线圈电源之间的取样电阻，取样
电阻依次通过差分运放模块Ⅲ和继电器隔离模块Ⅱ接入示波器。
[0009]优选的，所述综合测试模块中，采用STM32F4XX芯片作为主控MCU。
[0010]优选的，所述A/D模块采用24bit高精度的ADS1256芯片。
[0011]优选的，所述主控MCU上外接有采用MAC+PHY一体的网络通信协议W5500芯片用于与所述上位机通信连接。
[0012]优选的，所述综合测试模块还包括DAC模拟量输出模块，时间测量电路通过DAC模拟量输出模块接入主控MAC。
[0013]本技术方案与现有技术相比，具有以下优点：1）本技术方案通过在底板上集成若干个综合测试模块，可根据实际需要而拓展综合测试模块的数量，由此，本技术方案采用低成本的测试系统，同时测试多个继电器，兼容单继电器测试和多继电器测试，使用起来灵活性好。其中，所谓多继电器测试，即利用每个单个综合测试模块实现单个继电器的全功能测试，通过n个综合测试模块，不仅可以实现n个继电器的并行测试，也可采用乒乓测试法，实现交替测试，以提高测试效率。
[0014]2）本技术方案通过设置夹具板实现待测产品的快速安装，基于在测试软件上的简单操作即可实现对待测产品相应参数的自动测试，使得整个测试过程快速简单。
[0015]3）任意一个综合测试模块出现故障，都不会影响其它综合测试模块的测试，测试性和维修性极高。
附图说明
[0016]图1为测试系统的原理框图；图2为线圈电源单元的原理框图。
具体实施方式
[0017]下面结合附图和实例对本专利技术做进一步说明，但不应理解为本专利技术仅限于以下实例，在不脱离本专利技术构思的前提下，本专利技术在本领域的变形和改进都应包含在本专利技术权利要求的保护范围内。
[0018]实施例1本实施例公开了一种继电器综合参数测试系统（以下统称系统），作为本技术方案优选的实施方案，如图1所示，包括上位机、示波器和测试主体；测试主体集成了底板、网络交换机、综合测试单元、夹具单元、线圈电源、ATX电源、和外部电源接口；综合测试单元和夹具单元集成于底板上，且综合测试单元中包含有若干个分别与底板连接的综合测试模块，夹具单元中包含有若干个分别与底板连接的夹具板；示波器、线圈电源和网络交换机分别与上位通信连接，并分别通过底板接入各综合测试模块；线圈电源和ATX电源分别通过底板接入各综合测试模块，并分别与所述外部电源接口连接。
[0019]实际情况下，测试主体需要装入一个外包壳体内构成一台完整的测试设备。测试主体中，底板主要是用于搭载综合参数测试模块，同时作为通用工装使用；夹具板采用横插方式推入与底板进行板到板连接，用于实现待测产品的快速固定。对于测试设备而言，底板只露出对接接口，连同综合测试模块在内所有的非对外部分，都采用屏蔽罩进行隔离屏蔽，即从测试设备的开口槽往内看，只能看到对接接口，其余结构都屏蔽起来。
[0020]其工作原理为：在实际使用过程中，首先将待测产品固定在夹具板上，并电性接入相应的综合测试模块；然后通过外部电源接口向线圈电源和ATX电源接入AC220V的市电，最后启动系统对待测产品进行相应参数的测试。在此期间，网络交换机和上位机的显示屏采用其配套的AC
‑
DC电源适配器进行供电，ATX电源模块通过电源转换后输出
±
12V、+5V、+3.3V等直流电压给综合测试模块供电；利用上位机通过RS232通信实现线圈电源的程控输出，通过程控，线圈电源可输出不同规格的电压，以满足多种继电器（待测产品）线圈的供电需求；综合参数测试模块采用底板上的网络通信总线，通过网络交换机与上位机进行通信，将测试的相应结果上传至上位机；示波器用于采集综合测试模块中相应位置的波形信息，并将波形信息上传至上位机。
[0021]本技术方案通过在底板上集成若干个综合测试模块（如图1所示的n个），可根据实际需要而拓展综合测试模块的数量（一个夹具板可对应一个或多个综合测试模块，在拓展综合测试模块的数量时，夹具板对应成比例增加），由此，本技术方案采用低成本的测试系统，同时测试n（n＞0，可取无穷大）个继电器，兼容单继电器测试和多继电器测试，使用起来灵活性好。其中，所谓多继电器测试，即利用每个单个综合测试模块实现单个继电器的全功能测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种继电器综合参数测试系统，其特征在于：包括上位机、示波器和测试主体；所述测试主体集成了底板、网络交换机、综合测试单元、夹具单元、线圈电源、ATX电源、和外部电源接口；所述综合测试单元和夹具单元集成于底板上，且综合测试单元中包含有若干个分别与底板连接的综合测试模块，夹具单元中包含有若干个分别与底板连接的夹具板；所述示波器、线圈电源和网络交换机分别与上位通信连接，并分别通过底板接入各综合测试模块；所述线圈电源和ATX电源分别通过底板接入各综合测试模块，并分别与所述外部电源接口连接。2.如权利要求1所述一种继电器综合参数测试系统，其特征在于：所述测试主体上还设置有执行按钮，且执行按钮与底板连接。3.如权利要求1所述一种继电器综合参数测试系统，其特征在于：所述综合测试模块包括继电器测试电路，且继电器测试电路包括主控MCU、程控开关、测试接口、负载模块、差分运放模块Ⅰ、差分运放模块Ⅱ、继电器隔离模块Ⅰ、时间测量电路和A/D模块；测试接口包括线圈部和触点部；所述线圈电源通过程控开关接入测试接口的线圈部，测试接的口线圈部依次通过差分运放模块Ⅰ和继电器隔离模块Ⅰ接入所述示波器；主控MCU通过I/O连接程控开关；差分运放模块Ⅰ分别接入实践测量电路和A/D模块；所述ATX电源与主控MCU电性连接，并通过负载模...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁汝辉，
申请(专利权)人：成都长波仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：