极片电阻测试用治具及极片电阻测量仪制造技术

技术编号:35664235 阅读:43 留言:0更新日期:2022-11-19 17:06
本实用新型专利技术提供了一种极片电阻测试用治具及极片电阻测量仪,本实用新型专利技术的极片电阻测试用治具包括承载台和压紧件,其中,承载台具有用于放置极片电阻样品的承载端面,以及用于对极片电阻样品测量的测量部,测量部的前端设于用于供测量端子通过的开口,且测量部具有与开口连通的测量槽,测量槽贯穿承载台,压紧件设于承载台上,且压紧件包括用于将极片电阻样品压紧于承载端面上的压紧弹片。本实用新型专利技术的极片电阻测试用治具通过设置的测量槽,以及设置的压紧弹片,可利于对卷曲状的极片电阻样品进行压平,且也利于对尺寸较小的极片电阻样品进行较好的压紧固定,从而利于极片电阻样品的测试,并利于提高测试结果的准确性。并利于提高测试结果的准确性。并利于提高测试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
极片电阻测试用治具及极片电阻测量仪


[0001]本技术涉及锂电池制造
,特别涉及一种极片电阻测试用治具。本技术还涉及一种应用有改极片电阻测试用治具的极片电阻测量仪。

技术介绍

[0002]锂离子电池充放电过程中,极片内部存在锂离子和电子传输,锂离子通过电极孔隙内填充的电解液传输,电子通过固体颗粒,尤其是导电剂组成的三维网络传导至活物质颗粒/电解液界面参与电极反应。电子传导特性主要影响电池倍率性能,影响电导率的主要因素包括箔材与涂层界面情况、导电剂分布状态、颗粒间接触状态等。
[0003]为便于追溯电池、极片、材料在电池整个生命周期中的变化,进行制程监控,深入分析电池使用过程中的低容、高内阻、循环性能差、过充、析锂、粘结剂失效等失效情况,往往需要测试极片电阻,从而在一定程度上反应出箔材与涂层界面情况、导电剂分布状态、颗粒间接触状态等。
[0004]由于极片电阻测试时通常需要极片尽量平整且涂层完整。但受限于现有的极片电阻仪测试用治具尺寸和设计,对于卷曲特别明显且尺寸较小极片和箔材、测试削薄区的极片、测试析锂区的极片、测试中间有绝缘层的新型箔材等,现有的极片电阻仪平面测试治具无法满足测试需求,且对测试结果也有较大影响。

技术实现思路

[0005]有鉴于此,本技术旨在提出一种极片电阻测试用治具,以利于对卷曲或尺寸较小的极片电阻样品进行测试。
[0006]为达到上述目的,本技术的技术方案是这样实现的:
[0007]一种极片电阻测试用治具,包括承载台和压紧件,其中:
[0008]所述承载台具有用于放置极片电阻样品的承载端面,以及用于对所述极片电阻样品测量的测量部,所述测量部的前端设有供测量端子通过的开口,且所述测量部具有与所述开口连通的测量槽,所述测量槽贯穿所述承载台;
[0009]所述压紧件设于所述承载台上,且所述压紧件包括用于将所述极片电阻样品压紧于所述承载端面上的压紧弹片。
[0010]进一步的,所述测量槽在所述承载端面上的投影呈矩形或长条孔形。
[0011]进一步的,所述压紧弹片具有板状主体,所述板状主体的一端连接于所述承载台上,另一端的端部朝向所述板状主体一侧弯折呈翘曲状,所述板状主体的弯折处构成压紧所述极片电阻样品的压紧端。
[0012]进一步的,所述承载台上设有连接孔,所述压紧弹片通过连接轴可转动地连接于所述连接孔中。
[0013]进一步的,所述承载台和所述压紧件均采用绝缘材料制成,和/或,所述压紧弹片为间隔布置于所述承载端面周向上的多个。
[0014]进一步的,所述承载台上还设有手持部,所述手持部设于所述测量部的后端。
[0015]进一步的,所述手持部包括设于所述承载台远离所述测量部一端的第一握持块和第二握持块,所述第一握持块和所述第二握持块于所述承载台上的投影呈外扩状设置。
[0016]进一步的,所述第一握持块和所述第二握持块相连的端面向所述承载台内部凹入。
[0017]进一步的,所述测量部上设有用于测量所述承载台移动位移的标尺。
[0018]相对于现有技术,本技术具有以下优势:
[0019]本技术所述的极片电阻测试用治具,通过设置具有测量槽的测量部,以及设置在承载台上的压紧弹片,可利于对卷曲状的极片电阻样品进行压平,且利于对尺寸较小的极片电阻样品进行较好的压紧固定,从而利于极片电阻样品的测试,并利于提高测试结果的准确性。
[0020]此外,设置测量槽呈矩形槽或长条孔槽,利于测量槽的槽壁易于与测量端子的外周面抵接,而利于极片电阻样品的测试。压紧弹片采用板状主体,并在板状主体的一端形成翘曲状,具有结构简单,易于加工制造的特点。压紧弹片通过连接轴转动的连接在承载台上,有利于通过压紧弹片的转动来调整对极片电阻样品压紧的位置,而利于对尺寸较小的极片电阻样品进行很好的压紧定位。
[0021]另外,承载台上设置的手持部,可便于手持操作承载台移动,而利于对极片电阻样品不同位置进行测试。设置在测量部上的标尺,有利于测量出承载台移动的位移,而利于提高测试的准确性。
[0022]同时,本技术还提出了一种极片电阻测量仪,包括上下布置的上测量端子和下测量端子,以及如上所述的极片电阻测试用治具,所述上测量端子和所述下测量端子相互靠近,以用于对放置于所述承载台上的所述极片电阻样品进行施压测量。
[0023]本技术的极片电阻测量仪与如上所述的极片电阻测试用治具,相比于现有技术具有相同的有益效果,在此不再赘述。
附图说明
[0024]构成本技术的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解,本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术,并不构成对本技术的不当限定。在附图中:
[0025]图1为本技术实施例一所述的极片电阻测试用治具的结构示意图;
[0026]图2为本技术实施例一所述的极片电阻测试用治具的另一视角的结构示意图;
[0027]图3为本技术实施例一所述的承载台的结构示意图;
[0028]图4为本技术实施例一所述的压紧弹片的结构示意图;
[0029]附图标记说明:
[0030]1、承载台;100、连接端面;101、承载端面;102、测量槽;1021、开口;103、手持部;104、连接孔;105、标尺;
[0031]2、压紧弹片;21、板状主体;22、连接轴;210、压紧端。
具体实施方式
[0032]需要说明的是,在不冲突的情况下,本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0033]在本技术的描述中,需要说明的是,若出现“上”、“下”、“内”、“外”等指示方位或位置关系的术语,其为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,若出现“第一”、“第二”等术语,其也仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0034]此外,在本技术的描述中,除非另有明确的限定,术语“安装”、“相连”、“连接”“连接件”应做广义理解。例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以结合具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0035]下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
[0036]实施例一
[0037]本实施例涉及一种极片电阻测试用治具,以利于对卷曲状的极片电阻样品进行压平,以及便于对尺寸较小的极片电阻样品进行较好的压紧固定,从而利于极片电阻样品的测试,并利于提高测试结果的准确性。
[0038]在整体结构上,本实施例的极片电阻测试用治具,作为一种示例性结构,如图1和图2所示,该极片本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种极片电阻测试用治具,其特征在于,包括承载台(1)和压紧件,其中:所述承载台(1)具有用于放置极片电阻样品的承载端面(101),以及用于对所述极片电阻样品测量的测量部,所述测量部的前端设有供测量端子通过的开口(1021),且所述测量部具有与所述开口(1021)连通的测量槽(102),所述测量槽(102)贯穿所述承载台(1);所述压紧件设于所述承载台(1)上,且所述压紧件包括用于将所述极片电阻样品压紧于所述承载端面(101)上的压紧弹片(2)。2.根据权利要求1所述的极片电阻测试用治具,其特征在于:所述测量槽(102)在所述承载端面(101)上的投影呈矩形或长条孔形。3.根据权利要求1所述的极片电阻测试用治具,其特征在于:所述压紧弹片(2)具有板状主体(21),所述板状主体(21)的一端连接于所述承载台(1)上,另一端的端部朝向所述板状主体(21)一侧弯折呈翘曲状,所述板状主体(21)的弯折处构成压紧所述极片电阻样品的压紧端(210)。4.根据权利要求3所述的极片电阻测试用治具,其特征在于:所述承载台(1)上设有连接孔(104),所述压紧弹片(2)通过连接轴(22)可转动地连接于所述连接孔(104)中。5....

【专利技术属性】
技术研发人员:任玉梅王德铮姚凌峰李辉
申请(专利权)人:蜂巢能源科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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