【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种用于检测电子装置开/闭壮态的系统,包括: 第一部分,具有第一组电触点和在所述第一组电触点间耦连的一个电阻性电路; 可拆除地耦连到所述第一部分的第二部分,具有第二组电触点,其中可根据所述第一部分的开/闭状态作出在第一和第二组触点之间的电连接或断开连接; 一个处理器,用于通过确定所述电连接是否是根据来自所述第一部分的电阻电路的电压测量值还是来自所述第二部分的电压测量值,确定是否在所述第一组和第二组触点之间作出电连接和断开连接,以及集成所述测量值使所述系统能够以第一和第二种模式中一种工作。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:DD克拉克斯顿,R克尔,G维吉,
申请(专利权)人:高通股份有限公司,
类型:发明
国别省市:US[美国]
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