本申请公开了一种显示面板的补偿方法、mura识别方法、装置、设备及介质。显示面板的补偿方法包括：根据多个mura类型的特征，设置多个卷积核；其中，多个卷积核与多个mura类型一一对应，卷积核的数值分布特征与其对应的mura类型的亮度分布特征相同；利用每个卷积核分别对初始补偿值矩阵进行卷积运算，得到多个提取矩阵；根据初始补偿值矩阵及多个提取矩阵，对显示面板进行补偿。根据本申请实施例，能够解决补偿不足或者过补的问题。决补偿不足或者过补的问题。决补偿不足或者过补的问题。
【技术实现步骤摘要】
显示面板的补偿方法、mura识别方法、装置、设备及介质
[0001]本申请涉及显示
，具体涉及一种显示面板的补偿方法、mura识别方法、装置、设备及介质。
技术介绍
[0002]由于显示面板中各像素制作工艺存在差异，导致显示面板出现mura问题，从而导致显示面板的不同像素在同样灰阶和数据电压下亮度出现不一致的现象。
[0003]可以利用补偿的方式降低显示面板的mura问题，但是相关技术的补偿方式存在补偿不足或者过补的问题。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种显示面板的补偿方法、mura识别方法、装置、设备及介质，能够解决补偿不足或者过补的问题。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种显示面板的补偿方法，包括：根据多个mura类型的特征，设置多个卷积核；其中，多个卷积核与多个mura类型一一对应，卷积核的数值分布特征与其对应的mura类型的亮度分布特征相同；利用每个卷积核分别对初始补偿值矩阵进行卷积运算，得到多个提取矩阵；根据初始补偿值矩阵及多个提取矩阵，对显示面板进行补偿。
[0006]在第一方面一种可能的实施方式中，卷积核的行列数与其对应的mura类型的mura面积呈正相关。这样，卷积核的数值分布特征与mura类型的mura面积是相关的，如此可以利用不同大小的卷积核提取不同大小的mura特征。
[0007]在第一方面一种可能的实施方式中，利用每个卷积核分别对初始补偿值矩阵进行卷积运算，得到多个提取矩阵，包括：
[0008]对初始补偿值矩阵进行边缘填充；
[0009]按照卷积步长为1，利用每个卷积核分别对边缘填充后的初始补偿值矩阵进行卷积运算，得到多个提取矩阵，各提取矩阵的行列数与初始补偿值矩阵的行列数相等；
[0010]优选的，对初始补偿值矩阵进行边缘填充，包括：
[0011]按照数值对称的方式对初始补偿值矩阵进行边缘填充。
[0012]通过边缘填充的方式，可以避免破坏初始补偿值矩阵的数值分布规律，从而在达到使提取矩阵的行列数与初始补偿值矩阵的行列数需要相等的情况下，能够更准确的提取初始补偿值矩阵中的数值特征。另外，将卷积步长设置为1，可以对初始补偿值矩阵中的每个数值均能进行提取，从而能够更准确的提取初始补偿值矩阵中的数值特征。
[0013]在第一方面一种可能的实施方式中，根据初始补偿值矩阵及多个提取矩阵，对显示面板进行补偿，包括：
[0014]按照每个提取矩阵对应的预设修正系数修正每个提取矩阵；
[0015]根据初始补偿值矩阵与多个修正后的提取矩阵的和，对显示面板进行补偿。
[0016]将卷积核提取到的对应mura类型的提取值按照修正系数修正后叠加到初始补偿值矩阵上，可以更好的解决一种或多种mura类型存在补偿不足或者过补的问题。
[0017]在第一方面一种可能的实施方式中，显示面板包括多种颜色的子像素，多个初始补偿值矩阵与多种颜色的子像素一一对应；
[0018]优选的，初始补偿值矩阵包括初始灰阶补偿值矩阵、初始数据电压补偿值矩阵、初始亮度补偿值矩阵中的任意一种。
[0019]由于多个初始补偿值矩阵与多种颜色的子像素一一对应，如此可兼顾每种颜色的子像素。
[0020]第二方面，基于相同的专利技术构思，本申请实施例还提供一种显示面板的mura识别方法，包括：
[0021]根据预设mura类型的特征，设置卷积核；其中，卷积核的数值分布特征与预设mura类型的亮度分布特征相同；
[0022]利用卷积核对显示面板的初始亮度值矩阵进行卷积运算，得到提取矩阵；
[0023]根据提取矩阵中的数值分布特征，确定显示面板是否存在预设mura类型。
[0024]第三方面，基于相同的专利技术构思，本申请实施例还提供一种显示面板的补偿装置，包括：
[0025]第一设置模块，用于根据多个mura类型的特征，设置多个卷积核；其中，多个卷积核与多个mura类型一一对应，卷积核的数值分布特征与其对应的mura类型的亮度分布特征相同；
[0026]第一运算模块，用于利用每个卷积核分别对初始补偿值矩阵进行卷积运算，得到多个提取矩阵；
[0027]补偿确定模块，用于根据初始补偿值矩阵及多个提取矩阵，对显示面板进行补偿。
[0028]第四方面，基于相同的专利技术构思，本申请实施例还提供一种显示面板的mura识别装置，包括：
[0029]第二设置模块，用于根据预设mura类型的特征，设置卷积核；其中，卷积核的数值分布特征与预设mura类型的亮度分布特征相同；
[0030]第二运算模块，用于利用卷积核对显示面板的初始亮度值矩阵进行卷积运算，得到提取矩阵；
[0031]mura确定模块，用于根据提取矩阵中的数值分布，确定显示面板是否存在预设mura类型。
[0032]第五方面，基于相同的专利技术构思，本申请实施例还提供一种电子设备，包括：
[0033]处理器以及存储有计算机程序指令的存储器，所述处理器执行所述计算机程序指令时实现如第一方面任意一项实施例所述的显示面板的补偿方法，或者实现如第二方面实施例所述的显示面板的mura识别方法。
[0034]第六方面，基于相同的专利技术构思，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面任意一项实施例所述的显示面板的补偿方法，或者实现如第二方面实施例所述的显示面板的mura识别方法。
[0035]根据本申请实施例提供的显示面板的补偿方法、装置、设备及介质，通过设置多个
卷积核与多个mura类型一一对应，由于卷积核的数值分布特征与其对应的mura类型的亮度分布特征相同，这样卷积运算所得的提取矩阵中的数值分布特征则会体现对应的mura类型的亮度分布特征，并根据显示面板的初始补偿值矩阵和多个提取矩阵对显示面板进行补偿，如此可兼顾多种mura类型，改善甚至消除一种或多种mura类型存在补偿不足或者过补的问题。
附图说明
[0036]通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。
[0037]图1示出本申请一种实施例提供的显示面板的补偿方法的流程示意图；
[0038]图2示出本申请一种实施例提供的显示面板的一种mura类型的示意图；
[0039]图3示出本申请一种实施例提供的卷积核的示意图；
[0040]图4示出本申请一种实施例提供的显示面板的另一种mura类型的示意图；
[0041]图5示出本申请另一种实施例提供的卷积核的示意图；
[0042]图6示出本申请一种实施例提供的显示面板的又一种mura类型的示意图；
[0043]图7示出本申请又一种实施例提供的卷积核的示意图；
[0044]图8示出本申请一种本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板的补偿方法，其特征在于，包括：根据多个mura类型的特征，设置多个卷积核；其中，所述多个卷积核与所述多个mura类型一一对应，所述卷积核的数值分布特征与其对应的所述mura类型的亮度分布特征相同；利用每个所述卷积核分别对初始补偿值矩阵进行卷积运算，得到多个提取矩阵；根据所述初始补偿值矩阵及多个所述提取矩阵，对所述显示面板进行补偿。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述卷积核的行列数与其对应的所述mura类型的mura面积呈正相关。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用每个所述卷积核分别对初始补偿值矩阵进行卷积运算，得到多个提取矩阵，包括：对所述初始补偿值矩阵进行边缘填充；按照卷积步长为1，利用每个所述卷积核分别对边缘填充后的所述初始补偿值矩阵进行卷积运算，得到多个提取矩阵，各所述提取矩阵的行列数与所述初始补偿值矩阵的行列数相等；优选的，所述对所述初始补偿值矩阵进行边缘填充，包括：按照数值对称的方式对所述初始补偿值矩阵进行边缘填充。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述初始补偿值矩阵及多个所述提取矩阵，对所述显示面板进行补偿，包括：按照每个所述提取矩阵对应的预设修正系数修正每个所述提取矩阵；根据所述初始补偿值矩阵与多个修正后的所述提取矩阵的和，对所述显示面板进行补偿。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述显示面板包括多种颜色的子像素，多个所述初始补偿值矩阵与多种颜色的所述子像素一一对应；优选的，所述初始补偿值矩阵包括初始灰阶补偿值矩阵、初始数据电压补偿值矩阵、初始亮度补偿值矩阵中的任意一种。6.一种显示面板的mura识别方法，其特征在于，包括：根据预设mura类型的特征，设置卷积...
【专利技术属性】
技术研发人员：任春辉，张金泉，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：
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