一种跟踪扫描式的激光发散角测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种跟踪扫描式的激光发散角测量装置及方法。该发明专利技术利用分光镜(Beam Splitter)将信标光发射光纤与信号光接收光纤等距离的放置于其两侧，组成一个能够同时发射信标和接收信号光的模块，将该模块放置于平行光管焦面处与平行光管共同组成检测系统；被测系统具备跟踪功能，利用平行光管产生平行信标光，被测系统跟踪信标光后发射信号光，信号光经过平行光管会聚后被收发模块接收光纤接收。通过改变跟踪点来完成信号光的扫描，根据扫描的功率或单光子计数来拟合信号光的光斑形状，通过计算束腰大小来计算信号光的发散角。本发明专利技术测试方法简单，通过被测系统的跟踪功能来实现激光发散角的测量，该发明专利技术在测量极弱信号光的发散角时具备一定的优势。的发散角时具备一定的优势。的发散角时具备一定的优势。

【技术实现步骤摘要】
一种跟踪扫描式的激光发散角测量装置及方法


[0001]本专利技术属于光学检测
，涉及一种跟踪扫描式的激光发散角测量装置及方法，装置结构简单，操作简单，特别适用于具备跟踪指向功能的激光发射系统中能量极弱的激光发散角测量。

技术介绍

[0002]激光技术不断普及和应用，对激光光束质量测量提出了越来越高的要求。其中激光发散角是重要指标，它能反映出激光的远场光束分布情况。小的发散角能够更有效的利用激光能量，使光束有更好的方向性；大的发散角能够迅速扩展光束的覆盖面积，达到宽域探测和指向的作用。因此发散角的测量方法有重要意义。随着卫星光通信技术的不断发展，激光用来通信的优势越来越明显。不仅抗干扰性强和体积小巧等优势，而且随着量子通信的发现，激光使得通信的安全性极大提高。本专利技术所提出的一种具备跟踪扫描功能的激光发散角测量的装置及方法，能够适用于卫星激光通信、量子通信、星地光通信等通信领域，以及激光雷达、激光测距等激光领域。
[0003]目前行业测发散角的方法有许多，包括BBO晶体倍频法、焦点刀口法、基于薄膜干涉原理的平行平晶法、狭缝扫描法和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种跟踪扫描式的激光发散角测量装置，包括光纤收发模块(1)、平行光管(2)、被测激光跟踪系统(3)，所述的光纤收发模块(1)由信标光发射光纤(1
‑
1)、信号光接收光纤(1
‑
2)、分光镜(1
‑
3)、探测器(1
‑
4)及信号光窄带滤光片(1
‑
5)组成；所述的平行光管(2)由主镜(2
‑
1)及折转镜(2
‑
2)组成；所述的被测激光跟踪系统(3)由抛物面主镜(3
‑
2)、抛物面次镜(3
‑
1)、压电反射镜(3
‑
3)、分光片(3
‑
4)、准直器(3
‑
5)及跟踪相机(3
‑
6)组成；其特征在于：所述的信标光发射光纤(1
‑
1)发射信标光，经过分光镜(1
‑
3)及平行光管(2)后进入被测激光跟踪系统(3)内，依次经过抛物面主镜(3
‑
2)、抛物面次镜(3
‑
1)、压电反射镜(3
‑
3)、分光片(3
‑
4)，最后被跟踪相机(3
‑
6)跟踪；被测激光跟踪系统(3)通过准直器(3
‑
5)发射信号光，信号光依次经过被测激光跟踪系统(3)、平行光管(2)、分光镜(1
‑
3)及信号光窄带滤光片(1
‑
5)后耦合进入信号光接收光纤(1
‑
2)，最后被探测器(1
‑
4)探测。2.根据权利要求1所述的一种跟踪扫描式的激光发散角测量装置，其特征在于：所述的光纤收发模块(1)由信标光发射光纤(1
‑
1)、信号光接收光纤(1
‑
2)、分光镜(1
‑
3)、探测器(1
‑
4)及信号光窄带滤光片(1
‑
5)组成；所述的信标光发射光纤(1
‑
1)的端面与信号光接收光纤(1
‑
2)的端面等距离固定于分光镜(1
‑
3)的两侧，所述的分光镜(1
‑
3)对使用波长的分光比介于4：6与6：4之间，通光面面形RMS值小于所述的信标光发射光纤(1
‑
1)与所述的信号光接收光纤(1
‑
2)均处于平行光管(2)的焦面处；所述的信标光发射光纤(1
‑
1)用于发射跟踪用的信标光，所述的信号光接收光纤(1
‑
2)的外包层采用黑色套管以防止背景光，同时信号光接收光纤(1
‑
2)与探测器(1
‑
4)相连，信号光窄带滤光片(1
‑
5)位于信号光接收光纤(1
‑
2)前，用于消除背景光及信标光的影响。3.根据权利要求1所述的一种跟踪扫描式的激光发散角测量装置，其特征在于：所述的平行光管(2)为常规的平行光管，由主镜...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴金才，宋志化，张亮，何志平，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：