具有行列寻址阵列的超声探测器制造技术

超声波探测器可以以非破坏性方式检测对象中的缺陷。该探测器包括具有多个行电极和列电极的行列寻址(RCA)阵列。行电极和列电极可配置成具有至少四种状态：1)发射状态，2)接收状态，3)接地状态，以及4)高阻抗状态。该探测器还包括控制电路，用于在不同的发射配置和接收配置下操作RCA阵列。配置下操作RCA阵列。配置下操作RCA阵列。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有行列寻址阵列的超声探测器
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2020年3月30日提交的美国专利申请序列号16/833,793和2020年3月30日提交的美国专利申请序列号16/833,897的优先权的权益，其内容通过引用整体并入本文。


[0003]本公开内容总体上涉及用于使用行列寻址(row
‑
column addressed，“RCA”)阵列来检查测试对象的超声探测器。

技术介绍

[0004]超声技术可以用于以非破坏性方式检查材料(例如，管道)。一种应用可以是检测点焊中的缺陷或瑕疵，点焊是一种用于接合各种制造过程中使用的两个金属片的常用技术。粘焊(有时也称为虚焊(stuck weld)、轻触结合(kissing bond)或电晕结合(corona bond))是焊接瑕疵的一个示例。在粘焊中，虽然两个金属片接合在一起，但焊核并未完全形成。由于焊接过程期间加热不足，可能会发生粘焊。粘焊可能难以检测，因为在某些情况下，测试超声波的回波因粘焊可以是声学上透传的而可能与良好焊接的回波混淆。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检查系统，包括：探测器对，其包括发射探测器和接收探测器，被配置成放置在测试表面上；用于发射超声波的所述发射探测器，所述发射探测器包括第一行列寻址(RCA)阵列，第一楔，其定位成相对于所述测试表面以第一楔角建立所述第一RCA阵列；以及用于接收所述超声波的反射的所述接收探测器，所述接收探测器包括第二RCA阵列，以及第二楔，其定位成相对于所述测试表面以第二楔角建立所述第二RCA阵列。2.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述第一RCA阵列包括多个行电极和多个列电极，其中，所述行电极和所述列电极能够配置成具有至少四种状态：1)发射状态，2)接收状态，3)接地状态，和4)高阻抗状态。3.根据权利要求1至2中任一项所述的检查系统，其中，所述第二RCA阵列包括多个行电极和多个列电极，其中，所述行电极和所述列电极能够配置成具有至少四种状态：1)发射状态，2)接收状态，3)接地状态，和4)高阻抗状态。4.根据权利要求1至3中任一项所述的检查系统，其中，所述第一RCA阵列和所述第二RCA阵列各自包括多个行电极和多个列电极，其中，所述行电极和所述列电极能够配置成具有至少四种状态：1)发射状态，2)接收状态，3)接地状态，和4)高阻抗状态。5.根据权利要求1至4中任一项所述的检查系统，其中，所述发射探测器被配置成在线性扫描模式下操作。6.根据权利要求1至5中任一项所述的检查系统，其中，所述发射探测器被配置成在发射束流控制模式下操作。7.根据权利要求1至6中任一项所述的检查系统，其中，所述接收探测器被配置成在接收束流控制模式下操作。8.一种检测测试对象中的缺陷的方法，所述方法包括：将第一探测器以第一楔角放置在所述测试对象的表面上；将第二探测器以第二楔角放置在所述表面上；使用第一行列寻址(RCA)阵列将超声波从所述第一探测器发射到所述测试对象中；以及在所述第二探测器处使用第二RCA阵列接收所述超声波的反射。9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述超声波通过发射孔径被发射，所述发射孔径由所述第一RCA阵列的行子组和列子组的交会区限定。10.根据权利要求8至9中任一项所述的方法，还包括在第一发射配置或第二发射配置下发射所述超声波，其中在第一发射配置下，用脉冲信号驱动所述列子组，将所述行子组耦接至接地，并将其余的行和列耦接至高阻抗；以及在第二发射配置下，用脉冲信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：张晋驰，弗雷德里克，
申请(专利权)人：加拿大埃维登特有限公司，
类型：发明
国别省市：