一种信号测量电路及电容触控屏制造技术

本申请实施例涉及微电子技术领域，公开了一种信号测量电路和电容触控屏。上述信号测量电路包括：第一信号测量电路和第二信号测量电路；所述第一信号测量电路的第一端接地，所述第一信号测量电路的第二端与所述第二信号测量电路的第一端连接，所述第一信号测量电路用于接收第一信号，并将所述第一信号输入至所述第二信号测量电路；所述第二信号测量电路的第二端与待测电容的第一端连接，所述第二信号测量电路的第二端还接地，所述待测电容的第二端配置有激励电压，所述第二信号测量电路用于接收第二信号，并根据所述第一信号和所述第二信号输出第三信号。可以不影响电容触控屏的报点率，且有效抑制产生的干扰，得到正常电容信号变化的准确值。变化的准确值。变化的准确值。

【技术实现步骤摘要】
一种信号测量电路及电容触控屏


[0001]本申请实施例涉及微电子
，特别涉及一种信号测量电路及电容触控屏。

技术介绍

[0002]目前在电容触控屏的应用中，为了降低外部干扰，电容触控屏往往贴近显示屏的阴极板放置，该阴极板即显示屏的公共地。图1是一种基于有源矩阵有机发光二极体（Active
‑
matrix organic light
‑
emitting diode，AMOLED）的显示屏的行列排布方式，在显示过程中，通过行信号逐行对LED灯使能开关选通，再通过列信号进行高或低赋值，可以实现显示屏的开灯或者关灯。但是在上述实现过程中，显示屏的阴极板会受到巨大的干扰，而该干扰会通过阴极板与电容触控屏的接收金属线（RX线）之间的电容耦合到接收端，且该干扰往往比正常信号的幅值大很多，从而干扰了电容触控屏正常信号的接收。
[0003]为了抑制上述干扰，一种方式是将两路RX线接收到的信号进行相减，以抑制干扰，但是这种方式会减掉正常信号的共模部分，导致无法得到RX线接收的正常电容信号变化的准确值；另一种方式是利用分时方法，使两路RX线分别测量电容信号与干扰信号，并将两路信号相减，但是这种方式会降低电容触控屏的报点率。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的在于提供一种信号测量通道及触电容触控屏，可以在不影响报点率的前提下，有效抑制电容触控屏受到的干扰，以得到正常电容信号变化的准确值。
[0005]为解决上述技术问题，本申请的实施例提供了一种信号测量电路，包括：第一信号测量电路和第二信号测量电路；所述第一信号测量电路的第一端接地，所述第一信号测量电路的第二端与所述第二信号测量电路的第一端连接，所述第一信号测量电路用于接收第一信号，并将所述第一信号输入至所述第二信号测量电路；所述第二信号测量电路的第二端与待测电容的第一端连接，所述第二信号测量电路的第二端还接地，所述待测电容的第二端配置有激励电压，所述第二信号测量电路用于接收第二信号，并根据所述第一信号和所述第二信号输出第三信号。
[0006]本申请的实施例还提供了一种电容触控屏，包括上述的信号测量电路。
[0007]本申请实施例相对于现有技术而言，信号测量电路包括：第一信号测量电路和第二信号测量电路，由于第一信号测量电路的第一端接地，则第一信号测量电路可以接收到来自地端的第一信号，即显示屏的阴极板产生的干扰信号，而第一信号测量电路的第二端与第二信号测量电路的第一端连接，则第一信号测量电路可以将接收到的第一信号输入到第二信号测量电路中，第二信号测量电路的第二端与待测电容的第一端连接，第二信号测量电路的第二端还接地，且待测电容的第二端配置有激励电压，则第二信号测量电路可以接收到第二信号，其中，第二信号具体包括待测电容的正常电容信号以及干扰信号，因此，第二信号测量电路可以根据第二信号与第一信号测量电路输入的第一信号输出第三信号，即将第二信号与第一信号进行相减，消除其中的干扰信号。本申请中由于通过第一信号测
量电路单独接收干扰信号，因此，在将第二信号与第一信号相减时，不会对正常电容信号造成影响，可以得到RX线接收的正常电容信号变化的准确值；并且第一信号测量电路和第二信号测量电路的信号接收工作同时进行，不会降低电容触控屏的报点率即触控延时，也就不需要增加更多的功耗维持电容触控屏的正常报点率。
[0008]另外，所述信号测量电路还包括第一元器件，所述第一信号测量电路通过所述第一元器件与所述第二信号测量电路连接，所述第一元器件用于调整所述第一信号的大小。本申请中通过第一元器件调整第一信号的大小，以使第二信号测量电路中的干扰信号与第一信号尽可能相等，以完全消除干扰。
[0009]另外，所述第一信号测量电路包括第一电容、第一放大器和第二元器件；所述第一电容的第一端接地，所述第一电容的第二端与所述第一放大器的反相输入端连接，所述第二元器件跨接在所述第一放大器的反相输入端和输出端；所述第一电容用于接收所述第一信号，并将所述第一信号输入至所述第一放大器，所述第一放大器用于根据所述第一信号输出第四信号，并将所述第四信号输入至所述第二信号测量电路。
[0010]另外，所述第二信号测量电路包括：第二电容、第二放大器和第三元器件；所述第二电容的第一端接地，所述第二电容的第二端与所述第二放大器的反相输入端连接，所述第二放大器的反相输入端还与所述待测电容的第一端连接，所述第三元器件跨接在所述第二放大器的反相输入端和输出端；所述第一放大器的输出端与所述第二放大器的反相输入端连接，所述第二放大器用于接收所述第二信号和所述第四信号，并根据所述第二信号和所述第四信号输出第五信号。
[0011]另外，所述第一元器件的第一端具体与所述第一放大器的输出端连接，所述第一元器件的第二端具体与所述第二放大器的反相输入端连接；所述第一元器件具体用于调整所述第四信号的大小。
[0012]另外，所述第一信号测量电路还包括第三放大器、第四元器件和第五元器件；所述第四元器件的第一端与所述第一放大器的输出端连接，所述第四元器件的第二端与所述第三放大器的反相输入端连接，所述第五元器件跨接在所述第三放大器的反相输入端和输出端；所述第三放大器用于根据所述第四信号输出第六信号，并将所述第六信号输入至所述第二信号测量电路。
[0013]另外，所述第二信号测量电路还包括：第四放大器、第六元器件和第七元器件；所述第六元器件的第一端与所述第二放大器的输出端连接，所述第六元器件的第二端与所述第四放大器的反相输入端连接，所述第七元器件跨接在所述第四放大器的反相输入端和输出端；所述第二放大器用于根据所述第二信号输出第七信号；所述第三放大器的输出端与所述第四放大器的反相输入端连接，所述第四放大器用于接收所述第七信号和所述第六信号，并根据所述第七信号和所述第六信号输出第八信号。
[0014]另外，所述第一元器件的第一端具体与所述第三放大器的输出端连接，所述第一元器件的第二端具体与所述第四放大器的反相输入端连接；所述第一元器件具体用于调整所述第六信号的大小。
[0015]另外，所述第一元器件、所述第二元器件、所述第三元器件、所述第四元器件、所述第五元器件、所述第六元器件和所述第七元器件均为电阻。
[0016]另外，所述第五元器件的阻值和所述第一电容的容值的乘积，与所述第四元器件
的阻值和所述第二电容的容值的乘积相等。以更有效地抑制干扰。
[0017]另外，所述第二元器件和所述第三元器件的阻值相等。以更有效地抑制干扰。
附图说明
[0018]一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定。
[0019]图1一种显示屏的行列排布方式示意图；图2是根据本申请的一个实施例提供的一种信号测量电路的连接示意图一；图3是根据本申请的一个实施例提供的一种信号测量电路的连接示意图二；图4是根据本申请的一个实施例提供的一种信号测量电路的连接示意图三；图5是根据本申请的一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信号测量电路，其特征在于，包括：第一信号测量电路和第二信号测量电路；所述第一信号测量电路的第一端接地，所述第一信号测量电路的第二端与所述第二信号测量电路的第一端连接，所述第一信号测量电路用于接收第一信号，并将所述第一信号输入至所述第二信号测量电路；所述第二信号测量电路的第二端与待测电容的第一端连接，所述第二信号测量电路的第二端还接地，所述待测电容的第二端配置有激励电压，所述第二信号测量电路用于接收第二信号，并根据所述第一信号和所述第二信号输出第三信号。2.根据权利要求1所述的信号测量电路，其特征在于，所述信号测量电路还包括第一元器件，所述第一信号测量电路通过所述第一元器件与所述第二信号测量电路连接，所述第一元器件用于调整所述第一信号的大小。3.根据权利要求2所述的信号测量电路，其特征在于，所述第一信号测量电路包括第一电容、第一放大器和第二元器件；所述第一电容的第一端接地，所述第一电容的第二端与所述第一放大器的反相输入端连接，所述第二元器件跨接在所述第一放大器的反相输入端和输出端；所述第一电容用于接收所述第一信号，并将所述第一信号输入至所述第一放大器，所述第一放大器用于根据所述第一信号输出第四信号，并将所述第四信号输入至所述第二信号测量电路。4.根据权利要求3所述的信号测量电路，其特征在于，所述第二信号测量电路包括：第二电容、第二放大器和第三元器件；所述第二电容的第一端接地，所述第二电容的第二端与所述第二放大器的反相输入端连接，所述第二放大器的反相输入端还与所述待测电容的第一端连接，所述第三元器件跨接在所述第二放大器的反相输入端和输出端；所述第一放大器的输出端与所述第二放大器的反相输入端连接，所述第二放大器用于接收所述第二信号和所述第四信号，并根据所述第二信号和所述第四信号输出第五信号。5.根据权利要求4所述的信号测量电路，其特征在于，所述第一元器件的第一端具体与所述第一放大器的输出端连接，所述第一元器件的第二端具体与所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：张耀国，沈海峰，夏波，聂波，俞丛晴，程国凡，倪瑞铭，
申请(专利权)人：基合半导体宁波有限公司，
类型：发明
国别省市：