【技术实现步骤摘要】
监控老炼测试的方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术属于芯片测试
，涉及一种监控老炼测试的方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]目前FPGA(Field Programmable Gate Array)已广泛应用于人工智能、航空、军事、工业等各个领域，因此FPGA的可靠性成为其重要的应用指标。老炼测试作为集成电路可靠性测试的重要手段之一，本质上是模仿DUT(Device Under Test)的工作寿命，将其置于特定的老炼测试装置内，在指定的电压和高温环境下运行特定时间，采集并分析测试数据剔除存在缺陷且早期失效的器件。随着器件种类和数量及老炼测试装置数量不断增加的趋势，现有老炼测试监控只支持监控一款器件且一个批次的测试，导致老炼测试装置使用率、测试效率大幅降低，已不能满足现实生产需求。
技术实现思路
[0003]基于此，本专利技术提供了一种监控老炼测试的方法、装置、设备及存储介质，解决了现有老炼测试监控只支持一种器件一个批次的测试，导致老炼测试装置使用率、测试效率低的问题。
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种监控老炼测试的方法，其特征在于，所述方法包括：接收测试数据并进行校验；解析所述测试数据中通过校验的测试数据，获取第一匹配信息；由所述第一匹配信息匹配出测试设备，通过所述测试设备获取第二匹配信息，由第二匹配信息匹配出具体的待测试件；匹配所述具体的待测试件与所述测试数据，获取所述具体的待测试件的测试结果。2.根据权利要求1所述的一种监控老炼测试的方法，其特征在于，所述由所述第一匹配信息匹配出测试设备，通过所述测试设备获取第二匹配信息，由第二匹配信息匹配出具体的待测试件，包括：通过所述第一匹配信息，将所述测试数据匹配至测试工件，然后根据测试工件匹配出测试设备；根据所述测试设备确定第二匹配信息，通过第二匹配信息获取所述测试设备对应的具体的待测试件，根据所述具体的待测试件确定所述待测件的器件类型、生产批次。3.根据权利要求2所述的一种监控老炼测试的方法，其特征在于，所述通过所述第一匹配信息，将所述测试数据匹配至测试工件，然后根据测试工件匹配出测试设备之前，还包括：建立所述第一匹配信息、测试设备和测试工件之间的映射关系。4.根据权利要求2所述的一种监控老炼测试的方法，其特征在于，所述根据所述测试设备确定第二匹配信息，通过第二匹配信息获取所述测试设备对应的具体的待测试件，根据所述具体的待测试件确定所述待测件的器件类型、生产批次之前，还包括：建立所述待测件类型、生产批次与所述测试设备之间的映射关系；建立所述待测件类型、生产批次中所述具体的待测试件与所述测试工件之间的映射关系。5.根据权利要求1所述的一种监控老炼测试的方法，其特征在于，所述匹配所述具体...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡伟，徐小龙，张敏，
申请(专利权)人：深圳市紫光同创电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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