哈特曼波前复原方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光学技术领域，提供一种哈特曼波前复原方法及装置，其中，所述方法包括：获取哈特曼传感器采集的光斑图像；对光斑图像进行分区处理，得到多个有交集关系的子光斑图像；对每个子光斑图像均进行波前复原和差分处理，得到多个子差分波面图像；依据交集关系对多个子差分波面图像进行复原拼接处理，得到波前复原图像。与现有技术相比，本发明专利技术提供的哈特曼波前复原方法及装置实现了对不同形状口径的光学系统的波前重构，提高了光学系统的通用性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
哈特曼波前复原方法及装置


[0001]本专利技术涉及光学
，具体而言，涉及一种哈特曼波前复原方法及装置。

技术介绍

[0002]哈特曼传感器已被广泛用于自适应光学系统，它可以用很高的采样频率同时测量出光场的相位分布和强度分布，而且还可以事先用一束高质量的参考光标定，从而在现场测量时无需参考光，对环境的要求不敏感。因此哈特曼波前传感器已成功用于激光光束质量诊断、光学元件和光学系统检测、大气扰动测量等诸多领域。
[0003]哈特曼测量的是波前相位斜率，需要经过波前复原求出相位值。复原的方法主要有区域法和模式法两类。哈特曼模式法是根据哈特曼传感器测得的各子孔径波前斜率计算波前相位误差的算法，在哈特曼传感器的具体应用中，经常遇到的光学系统多数为圆形和环形的；在激光光束质量测量一类的应用中，还经常有矩形口径的系统。哈特曼模式法只对圆域比较成熟，仅对圆形口径哈特曼波前复原有较好的效果，而对于非圆形的口径，哈特曼波前复原效果不佳，那么针对不同形状口径的光学系统，需要使用不同的波前重构方法，光学系统的通用性低。
专利技术内容
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种哈特曼波前复原方法，其特征在于，所述方法包括：获取哈特曼传感器采集的光斑图像；对所述光斑图像进行分区处理，得到多个有交集关系的子光斑图像；对每个所述子光斑图像均进行波前复原和差分处理，得到多个子差分波面图像；依据所述交集关系对多个子差分波面图像进行复原拼接处理，得到波前复原图像。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每个所述子光斑图像均进行波前复原和差分处理，得到多个子差分波面图像的步骤，包括：对每个所述子光斑图像均进行波前复原，得到多个子波面图像；对每个子波面图像均进行差分处理，得到多个子差分波面图像。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对每个子波面图像均进行差分处理，得到多个子差分波面图像的步骤，包括：获取每个子波面图像的中每列的像素数据；计算每个子波面图像中相邻列的像素数据差，得到多个子差分波面图像。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对每个子波面图像均进行差分处理，得到多个子差分波面图像的步骤，包括：获取每个子波面图像的中每行的像素数据；计算每个子波面图像中相邻行的像素数据差，得到多个子差分波面图像。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述交集关系对多个子差分波面图像进行复原拼接处理，得到波前复原图像的步骤，包括：依据所述交集关系对多个子差分波面图像拼接融合，得到差分融合图像；对所述差分融...

【专利技术属性】
技术研发人员：马晓燠，杨奇龙，游双慧，涂鸿，丁培娇，李成平，罗文韬，
申请(专利权)人：重庆连芯智能科技研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：