电极质量评估方法以及电极制造方法技术

提供的是一种用于评估电极质量的方法，该方法能够通过在辊压之前测量电极的颜色坐标值来简单且迅速地滤除有缺陷的电极，并且具体地包括：提供电极，该电极包括集电器和形成在所述集电器上的活性材料层，并且未被辊压；使用光学仪器测量活性材料层的颜色坐标值；以及当所测量的颜色坐标值满足预定电极质量评估标准时，将电极评估为良品，并且当所测量的颜色坐标值不满足预定电极质量评估标准时，将电极评估为有缺陷的。还提供了一种制造电极的方法，其包括：通过将包括活性材料、导电材料和粘合剂的浆料施加到集电器上并且干燥来形成活性材料层，从而制造未被辊压的电极；通过上述方法评估电极的质量；以及辊压被评估为良品的电极。电极。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电极质量评估方法以及电极制造方法


[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2020年4月13日提交的韩国专利申请No.10
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2020
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0044899和于2020年9月17日提交的韩国专利申请No.10
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2020
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0119927的优先权和权益，其公开内容通过引用以其整体并入本文。
[0003]

[0004]本专利技术涉及一种通过在辊压之前测量电极的颜色坐标值的简单手段来评估电极质量的方法以及一种包括通过该方法评估电极质量的制造电极的方法。

技术介绍

[0005]粘合、厚度和负荷量是一些公知电极质量检查项目。在这些电极质量检查项目中，粘合是用于滤除在电极组装工艺中分离的电极、在活化工艺中剥离的电极等的项目，并且是非常重要的质量检查项目。
[0006]然而，存在的问题在于，电极的粘合仅可以在辊压之后评估，并且不能实时评估电极质量。
[0007]因此，需要开发一种能够通过在辊压之前评估性质来评估电极质量的方法。

技术实现思路

[0008]技术问题
[0009]本专利技术的涉及提供一种评估电极质量的方法，其能够通过在辊压之前测量电极的颜色坐标值的简单手段来在辊压之前滤除有缺陷的电极。
[0010]技术方案
[0011]本专利技术的一个方面提供一种评估电极质量的方法，该方法能够通过在辊压之前测量电极的颜色坐标值来简单迅速地滤除有缺陷的电极，该方法具体地包括：提供电极，该电极包括集电器和形成在发生集电器上的活性材料层，并且未被辊压；使用光学仪器测量发生活性材料层的颜色坐标值；以及当所测量的颜色坐标值满足预定电极质量评估标准时，将电极评估为良品，而当所测量的颜色坐标值不满足预定电极质量评估标准时，将该电极评估为有缺陷的。
[0012]本专利技术的另一个方面提供了一种制造电极的方法，该方法包括：通过将包括活性材料、导电材料和粘合剂的浆料施加到集电器上并且干燥来形成活性材料层，从而制造未被辊压的电极；通过上述方法评估电极的质量；以及辊压被评估为良品的电极。
[0013]有益效果
[0014]根据本专利技术的评估电极质量的方法能够通过在辊压之前测量电极的颜色坐标值来简单且迅速地滤除有缺陷的电极。即，可以甚至在辊压之前滤除有缺陷的电极，因此可以显著地降低电极成品的缺陷率。
[0015]另外，根据本专利技术，可以通过在辊压之前测量颜色坐标值的简单手段来预测作为
辊压之后获得的性质的粘合。
具体实施方式
[0016]在本说明书和权利要求书中使用的术语和词语不应被解释为限于通常使用的含义或字典中的含义，并且基于专利技术人能够适当地定义术语的概念以便以最佳方式描述其专利技术的原理，术语和词语应被解释为具有与本专利技术的技术精神一致的含义和概念。
[0017]应当理解，当在本说明书中使用时，诸如“包括”、“包含”、“含”、“有”、“具有”或“带有”的术语指定所陈述的特征、数量、步骤、部件或其组合的存在，并且不排除一个或多个其它特征、数量、步骤、部件或其组合的存在或添加的可能性。
[0018]以下，将详细描述本专利技术。
[0019]<评估电极质量的方法>
[0020]根据本专利技术的评估电极质量的方法是能够通过在辊压之前测量电极的颜色坐标值来简单且迅速地滤除有缺陷的电极的电极质量评估方法，该方法具体包括：提供电极，该电极包括集电器和形成在该集电器上的活性材料层，并且未被压辊；使用光学仪器测量活性材料层的颜色坐标值；以及当所测量的颜色坐标值满足预定电极质量评估标准时，将电极评估为良品，并且当所测量的颜色坐标值不满足预定电极质量评估标准时，将电极评估为有缺陷的。
[0021]当未被辊压的电极的活性材料层的颜色坐标值如上所述使用光学仪器测量并且满足预定电极质量评估标准时，在电极被辊压之后，由于集电器和活性材料层之间的粘合优异，因此可能不会发生粘合缺陷。例如，当辊压根据本专利技术被分类为良品的电极时，可以在电极的集电器和活性材料层之间确保40gf/20mm以上的粘合强度。
[0022]根据本专利技术，可以通过在辊压之前测量颜色坐标值的简单手段来预测作为在辊压之后获得的性质的粘合并且在辊压之前滤除有缺陷的电极。也就是说，可以甚至在辊压之前滤除有缺陷的电极，因此可以显著地降低电极成品的缺陷率。
[0023]以下，将更详细地描述根据本专利技术的评估电极质量的方法的每个步骤。
[0024]提供未被辊压的电极
[0025]本专利技术包括下述步骤：提供电极，该电极包括集电器和形成在该集电器上的活性材料层，并且未被辊压。
[0026]本专利技术不是像传统的电极质量评估中那样评估已被辊压的电极，而是评估未被辊压的电池电极的质量，因此可以在辊压之前滤除有缺陷的电极，并且可以显著地降低辊压之后的缺陷率。
[0027]测量电极的活性材料层的颜色坐标值
[0028]本专利技术包括下述步骤：使用光学仪器测量活性材料层的颜色坐标值。
[0029]光学仪器是包括光源和图像传感器的仪器，并且当使用光学仪器分析电极中的每个的活性材料层时，来自电极中的每个的活性材料层的表面的颜色信息被转换成颜色坐标值并且被检测。图像传感器是能够将入射光转换为电信号的器件并且可以是例如电荷耦合器件(CCD)传感器或互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器。
[0030]根据本专利技术，光学仪器可以是分光光度计或色度计。
[0031]颜色坐标值统称指的是在三维颜色空间中表示为坐标的数值，例如，颜色坐标值
可以是L*值、a*值、或者白色值。
[0032]根据本专利技术，活性材料层的颜色坐标值可以通过接触色度计或非接触色度计来测量。即，色度计可以是接触色度计或非接触色度计。在使用非接触色度计的情况下，由于可以在不与样品直接接触的情况下进行测量，因此测量方便，并且可以在连续制造过程中进行测量。
[0033]活性材料层的颜色坐标值可以例如使用Konica Minolta(柯尼卡美能达)公司制造的CM2600d色度计来测量。具体地，颜色坐标值可以通过下述步骤使用Konica Minolta公司制造的CM2600d色度计来测量：将测量模式设置为包括镜面反射分量(SCI)或不包括镜面反射分量(SCE)并且选择D65标准光源(色温：6,500K)和CIE1976 10
°
标准观察器，执行白色校正，然后使色度计与待测量的位置接触。
[0034]通过将所测量的颜色坐标值与预定电极质量评估标准进行比较来评估电极是好的还是有缺陷的
[0035]本专利技术包括下述步骤：当所测量的颜色坐标值满足预定电极质量评估标准时将电极评估为良品，并且当所测量的颜色坐标值不满足预定电极质量评估标准时将电极评估为有缺陷的。
[0036]当所测量的颜色坐标值满足预定电极质量评估标准时，由于在辊压之后可以确保集电器与活性材料层本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种评估电极质量的方法，包括：提供电极，所述电极包括集电器和形成在所述集电器上的活性材料层，并且未被辊压；使用光学仪器测量所述活性材料层的颜色坐标值；以及当所测量的颜色坐标值满足预定电极质量评估标准时，将所述电极评估为良品，并且当所测量的颜色坐标值不满足所述预定电极质量评估标准时，将所述电极评估为有缺陷的。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述颜色坐标值是L*值，并且用于所述L*值的预定电极质量评估标准是35.4以上。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述颜色坐标值是a*值，并且用于所述a*值的预定电极质量评估标准是0.78以上。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述颜色坐标值是白色值，并且用于所述白色值的所述预定电极质量评估标准是7以上。5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述光学仪器是分光光度计或色度计。6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述色度计是接触色度计或非接触色度计。7.一种制造电极的方法，包括：通过将包括活性材料、导电材料和粘合剂的浆料施加到集电器上并且干燥来形成活性材料层，从而制造未被辊压的电极；通过根据权利要求1所述的方法评估所述电极的质量；以及辊压被评估为良品的电极。8.根据权利要求7所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李玹燮，梁贤真，罗钧日，金敬浩，李明汉，李炅娓，赵源奭，
申请(专利权)人：株式会社LG新能源，
类型：发明
国别省市：