本实用新型专利技术提供一种半导体光敏元件测试装置，属于传感器测试设备技术领域，以解决对于一些对接受光线的玻璃盖片有改进光敏元件，现检测设备的检测结果不够精确的问题，包括底座，底座中部垂直于长度方向开设有滑槽，底座上位于滑槽两边分别为输出区与感应区；位于输出区的底座上设置有灯光放置组件；位于感应区的底座上设置有信号采集器，信号采集器上电性连接有朝向输出区的光电传感器，输出区与感应区之间设置有遮光板，滑槽内滑动设置有承载板，遮光板放置在承载板上，承载板上位于输出区一面阵列分布有多个透光测试槽，多个透光测试槽内开设有大小、密度各不相同的透光孔。密度各不相同的透光孔。密度各不相同的透光孔。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体光敏元件测试装置
[0001]本技术属于传感器测试设备
，更具体地说，特别涉及一种半导体光敏元件测试装置。
技术介绍
[0002]传感器是一种检测装置，能够将感受到的被测信号转化为电信号或其他所需信息，并将该电信号或信息输出从而满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求。
[0003]其中光电传感器，为光敏元件，其利用光电效应，将光信号转换为电信号；光电传感器通常以精度高，反应快等优点，特别是半导体光敏元件，且半导体光敏元件有灵敏度、探测率、光照率、光照特性、伏安特性、光谱特性、时间和频率响应特性以及温度特性等，它们主要由材料、结构和工艺决定，因此在半导体光敏元件生产初品时需要对其进行性能检测，从而根据需求改变所需的材料和工艺，现所使用的半导体光敏元件检测直接进行照射，无法改变其光线入射角度以及数量，对于一些对接受光线的玻璃盖片有改进光敏元件，则导致其检测结果不够精确。
[0004]于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种半导体光敏元件测试装置，以期达到更具有更加实用价值性的目的。
技术实现思路
[0005]本技术提供一种半导体光敏元件测试装置，以解决对于一些对接受光线的玻璃盖片有改进光敏元件，现检测设备的检测结果不够精确的问题。
[0006]本技术一种半导体光敏元件测试装置的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：
[0007]一种半导体光敏元件测试装置，包括底座，所述底座中部垂直于长度方向开设有滑槽，所述底座上位于滑槽两边分别为输出区与感应区；
[0008]位于输出区的底座上设置有灯光放置组件；
[0009]位于感应区的底座上设置有信号采集器，所述信号采集器上电性连接有朝向输出区的光电传感器，输出区与感应区之间设置有遮光板，所述滑槽内滑动设置有承载板，所述遮光板放置在承载板上，所述承载板上位于输出区一面阵列分布有多个透光测试槽，多个透光测试槽内开设有大小、密度各不相同的透光孔。
[0010]进一步的，所述灯光放置组件包括置光环，所述置光环两边分别设置有固定座与锁扣，所述置光环上方设置有可包围置光环的绑带，所述绑带一端绕设在固定座上，另一端卡设在锁扣内。
[0011]进一步的，所述信号采集器前端设置有圆形的连接插座，所述光电传感器插设在连接插座内，所述连接插座与所述光电传感器外套设有引光筒，所述引光筒一端抵接在遮光板上，另一端内部与连接插座周侧螺纹连接。
[0012]进一步的，所述承载板顶面设置有限位条，所述遮光板底端开设有与限位条对应
的卡槽。
[0013]进一步的，所述限位条阵列分布有多个。
[0014]进一步的，所述信号采集器上设置有显示屏。
[0015]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0016]1、底座上左右分为输出区与感应区，输出区上的灯光放置组件放置灯，灯光向感应区照射在遮光板上，遮光板上通过透光测试槽可将光线透出照射在光电传感器上，即可通过信号采集器对光电传感器进行检测，而遮光板可跟随承载板滑动，即可将不同的透光测试槽移动到光电传感器前方，从而可利用不同的入射光线对光电传感器进行检测，最适用于玻璃盖片改进的光电传感器检测。
[0017]2、通过引光筒的设置，引光筒可与遮光板接触，使得从透光测试槽射入的光线经过引光筒照射在光电传感器上，避免了周围环境光线对光电传感器的影响。
附图说明
[0018]图1是本技术一种半导体光敏元件测试装置的立体图。
[0019]图2是本技术一种半导体光敏元件测试装置的爆炸图。
[0020]图3是本技术中遮光板的结构示意图。
[0021]图中，部件名称与附图编号的对应关系为：
[0022]1、底座；2、信号采集器；3、显示屏；4、遮光板；5、固定座；6、绑带；7、置光环；8、锁扣；9、连接插座；10、引光筒；11、光电传感器；12、滑槽；13、承载板；14、限位条；16、透光测试槽；17、卡槽。
具体实施方式
[0023]下面结合附图和实施例对本技术的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不能用来限制本技术的范围。
[0024]在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0025]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0026]实施例：
[0027]如附图1至附图3所示：
[0028]本技术提供一种半导体光敏元件测试装置，包括底座1，底座1中部垂直于长度方向开设有滑槽12，底座1上位于滑槽12两边分别为输出区与感应区，输出区用于提供需要的特点光线，感应区用于安装检测光敏元件；
[0029]位于输出区的底座1上设置有灯光放置组件，在本实施例中，灯光放置组件包括置光环7，置光环7呈半圆形环，且有多个并排设置，用于放置一些柱体灯、电筒灯等，置光环7两边分别设置有固定座5与锁扣8，置光环7上方设置有可包围置光环7的绑带6，绑带6与置光环7相互配合可固定光源位置，使得光源能够直射感应区，且便于拆装光源，在本实施例中，绑带6一端绕设在固定座5上，另一端卡设在锁扣8内，可如背包带一样卡设调整绑带6的松紧。
[0030]位于感应区的底座1上设置有信号采集器2，信号采集器2上电性连接有朝向输出区的光电传感器11，光电传感器11将收集到的光信号转换为电信号提供给信号采集器2，从而可对光电传感器11进行检测，且信号采集器2上设置有显示屏3，可通过数值来判断光电传感器11的检测效果；
[0031]输出区与感应区之间设置有遮光板4，遮光板4用于遮挡输出区的光线，从而可对试验所需的光线进行调节；
[0032]滑槽12内滑动设置有承载板13，遮光板4放置在承载板13上，遮光板4可通过承载板13在滑槽12内滑动，可通过手动调节遮光板4位置，承载板13上位于输出区一面阵列分布有多个透光测试槽16，多个透光测试槽16内开设有大小、密度各不相同的透光孔，通过不同的透光测试槽16可将光源以不同形式入射在光电传感器11上，使得信号采集器2呈现不同数据，从而判断光电传感器11的精密度。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体光敏元件测试装置，其特征在于：包括底座(1)，所述底座(1)中部垂直于长度方向开设有滑槽(12)，所述底座(1)上位于滑槽(12)两边分别为输出区与感应区；位于输出区的底座(1)上设置有灯光放置组件；位于感应区的底座(1)上设置有信号采集器(2)，所述信号采集器(2)上电性连接有朝向输出区的光电传感器(11)，输出区与感应区之间设置有遮光板(4)，所述滑槽(12)内滑动设置有承载板(13)，所述遮光板(4)放置在承载板(13)上，所述承载板(13)上位于输出区一面阵列分布有多个透光测试槽(16)，多个透光测试槽(16)内开设有大小、密度各不相同的透光孔。2.如权利要求1所述的一种半导体光敏元件测试装置，其特征在于：所述灯光放置组件包括置光环(7)，所述置光环(7)两边分别设置有固定座(5)与锁扣(8)，所述置光环(7)上方设置有可包围置光环(7)...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒲春森，杨显洪，
申请(专利权)人：重庆玺庞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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