一种金属研磨麻点缺陷检测方法技术

技术编号:35552524 阅读:20 留言:0更新日期:2022-11-12 15:32
本发明专利技术涉及一种金属研磨麻点缺陷检测方法,属于数据识别技术领域,该方法步骤包括:当待检测金属工件表面灰度图像中不存在边缘轮廓时判定待检测金属工件为无缺陷工件,当表面灰度图像中存在边缘轮廓时,并获取由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像;当待区分图像的短游程优势小于第一阈值时判定待检测金属工件为非单一类型的缺陷工件,否则计算出待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势;当待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势小于预设第二阈值时,判定待检测金属工件为单一类型的麻点缺陷工件;本发明专利技术根据金属工件表面麻点与表面附着颗粒粉尘的不同特性,准确的识别出金属工件表面是否为麻点缺陷。工件表面是否为麻点缺陷。工件表面是否为麻点缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种金属研磨麻点缺陷检测方法


[0001]本专利技术属于数据识别
,具体涉及一种金属研磨麻点缺陷检测方法。

技术介绍

[0002]在金属材料制备时经常需要对工件表面进行研磨以及抛光,在对金属工件表面进行研磨抛光时,抛光布过于湿润且抛光时间过长时,会在金属工件表面局部形成微电池,加深局部的腐蚀形成小凹坑,在金属工件表面可看到密布的小麻点,对于出现的这些密布的小麻点,研磨机需要重新更换细砂纸进行二次研磨抛光将金属工件表面麻点去除。
[0003]现有技术中对于初次研磨抛光后金属工件表面麻点的检测,一般为先采集金属工件表面图像,然后利用边缘检测等方法来确定金属工件表面的边缘信息,若是图像中存在若干细小的边缘像素点,则认为金属工件表面存在麻点缺陷,但是在对金属工件表面进行初次研磨抛光时由于金属表面被消耗会产生细小的金属颗粒以及粉尘,而细小的金属颗粒以及粉尘在检测时若附着于金属工件表面很容易与麻点混淆,会造成对麻点的识别出现错误,从而造成对不具备麻点缺陷只是附着有金属颗粒或粉尘的金属工件进行二次研磨。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种金属研磨麻点缺陷检测方法,根据金属工件表面麻点缺陷与表面附着颗粒粉尘的不同特性,准确的识别出初次研磨抛光后金属工件表面是否存在麻点缺陷,从而准确的筛选出具有麻点缺陷的金属工件对其进行二次研磨。
[0005]本专利技术的一种金属研磨麻点缺陷检测方法采用如下技术方案:该方法包括:在设定角度光照下采集待检测金属工件表面灰度图像,当表面灰度图像中不存在边缘轮廓时判定待检测金属工件为无缺陷工件;其中,待检测金属工件为初次研磨抛光后金属工件;当表面灰度图像中存在边缘轮廓时,将每个边缘轮廓围成的区域作为一个疑似缺陷区域,并获取由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像;将待区分图像中的灰度值分为多个等级得到分级后图像,构建分级后图像沿光照水平方向上的灰度游程矩阵,利用灰度游程矩阵中全部元素值计算出在光照水平方向下待区分图像的短游程优势;计算出待区分图像中全部疑似缺陷区域的平均面积,根据得到的平均面积计算出全部疑似缺陷区域的平均长度,利用得到的平均长度和灰度游程矩阵中全部元素值计算出第一阈值;当待区分图像的短游程优势小于第一阈值时,判定待检测金属工件为非单一类型的缺陷工件,对待检测金属工件进行二次研磨;当待区分图像的短游程优势大于等于第一阈值时,获取待区分图像中任一疑似缺陷区域的中心点,按照光照垂直方向并过将该疑似缺陷区域的中心点将其分割成左右两部分,利用该左右两部分的平均灰度值,对在光照水平方向下待区分图像的短游程优势进行
灰度加权更新,得到待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势;当待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势小于预设第二阈值时,判定待检测金属工件为单一类型的麻点缺陷,对待检测金属工件进行二次研磨;当待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势大于等于预设第二阈值时,判定待检测金属工件为附着颗粒或粉尘的伪缺陷只需对其进行清洗。
[0006]进一步地,所述并获取由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像的步骤包括:将表面图像中每个疑似缺陷区域进行填充,获取全部疑似缺陷区域的二值图像;将二值图像与表面灰度图像相乘,得到由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像。
[0007]进一步地,所述将待区分图像中的灰度值分为多个等级得到分级后图像的步骤包括:获取待区分图像中的最大灰度值和最小灰度值;计算最大灰度值和最小灰度值的第一差值,计算该第一差值与预设划分等级数的第一比值,并将该第一比值作为每个划分等级内包含的灰度值数量;利用每个划分等级内包含的灰度值数量、待区分图像中的最大灰度值以及待区分图像中的最小灰度值,计算出每个划分等级包含的灰度值范围;将待区分图像中的灰度值按照所属划分等级进行标注得到分级后图像。
[0008]进一步地,所述利用灰度游程矩阵中全部元素值计算出在光照水平方向下待区分图像的短游程优势的步骤包括:计算出灰度游程矩阵中每个元素值占灰度游程矩阵中全部元素值总和的第二比值,并计算出得到的全部第二比值的第二和值;计算出第二比值与对应元素值在灰度游程矩阵中纵坐标平方的第三比值,并计算出得到的全部第三比值的第三和值;将第三和值与第二和值的第四比值作为在光照水平方向下待区分图像的短游程优势。
[0009]进一步地,所述利用得到的平均长度和灰度游程矩阵中全部元素值计算出第一阈值的步骤包括:获取灰度游程矩阵中每个元素值占灰度游程矩阵中全部元素值总和的第二比值,并得到全部第二比值的第二和值;获取灰度游程矩阵中全部疑似缺陷区域四倍平均长度的倒数,计算出第二比值与该倒数平方的第五比值,并获取得到的全部第五比值的第四和值;将第四和值与第二和值的比值作为第一阈值。
[0010]进一步地,所述计算出待区分图像中全部疑似缺陷区域的平均面积的步骤包括:获取待区分图像中每个疑似缺陷区域内包含的像素点总数量;计算出全部疑似缺陷区域内包含的像素点总数量的总数量,将该总数量与待区分图像中疑似缺陷区域个数的比值作为待区分图像中全部疑似缺陷区域的平均面积。
[0011]进一步地,所述根据得到的平均面积计算出全部疑似缺陷区域的平均长度的步骤包括:在已知疑似缺陷区域近似圆形的条件下,利用得到的平均面积计算出全部疑似缺陷区域的平均半径;
将全部疑似缺陷区域的平均半径的二倍作为全部疑似缺陷区域的平均长度。
[0012]进一步地,所述获取待区分图像中任一疑似缺陷区域的中心点的步骤包括:获取待区分图像中任一疑似缺陷区域沿光照水平方向的最长宽度所在的直线,获取待区分图像中任一疑似缺陷区域沿光照垂直方向的最长长度所在的直线;将最长宽度所在的直线和最长长度所在的直线的交点,作为该疑似缺陷区域的中心点。
[0013]进一步地,所述利用该左右两部分的平均灰度值,计算出待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势的步骤包括:选取待区分图像中任一疑似缺陷区域作为目标疑似缺陷区域;过目标疑似缺陷区域的中心点将其分割成左侧缺陷区域和右侧缺陷区域;利用左侧缺陷区域内全部像素点的灰度值计算出左侧缺陷区域的平均灰度值;利用右侧缺陷区域内全部像素点的灰度值计算出右侧缺陷区域的平均灰度值;计算左侧缺陷区域的平均灰度值与右侧缺陷区域的平均灰度值的第二差值,将该第二差值与在光照水平方向下待区分图像的短游程优势相乘,得到待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势。
[0014]本专利技术的有益效果是:本专利技术在对初次研磨抛光后金属工件表面进行麻点检测时,首先获取只含有疑似缺陷区域的待区分图像,然后构建待区分图像的灰度游程矩阵,利用灰度游程矩阵中全部元素值计算出在光照水平方向下待区分图像的短游程优势;由于若图像中只存在麻点或是附着粉尘,在分级时每个等级所包含的灰度等级较少,麻点或是粉尘的分为多个等级时每个灰度等级所获得的游程相较于同时存在麻点和粉尘时更短,其短游程优势的值相较于同时含有麻点和粉尘时更大,因此,通过计算出待区分图像的短游程优势能初步判断出待检测金属工件为非单一类型的缺陷工件,还是非单一类型的缺陷工件。
[0015]当本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属研磨麻点缺陷检测方法,其特征在于,该方法包括:在设定角度光照下采集待检测金属工件表面灰度图像,当表面灰度图像中不存在边缘轮廓时判定待检测金属工件为无缺陷工件;其中,待检测金属工件为初次研磨抛光后金属工件;当表面灰度图像中存在边缘轮廓时,将每个边缘轮廓围成的区域作为一个疑似缺陷区域,并获取由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像;将待区分图像中的灰度值分为多个等级得到分级后图像,构建分级后图像沿光照水平方向上的灰度游程矩阵,利用灰度游程矩阵中全部元素值计算出在光照水平方向下待区分图像的短游程优势;计算出待区分图像中全部疑似缺陷区域的平均面积,根据得到的平均面积计算出全部疑似缺陷区域的平均长度,利用得到的平均长度和灰度游程矩阵中全部元素值计算出第一阈值;当待区分图像的短游程优势小于第一阈值时,判定待检测金属工件为非单一类型的缺陷工件,对待检测金属工件进行二次研磨;当待区分图像的短游程优势大于等于第一阈值时,获取待区分图像中任一疑似缺陷区域的中心点,按照光照垂直方向并过将该疑似缺陷区域的中心点将其分割成左右两部分,利用该左右两部分的平均灰度值,对在光照水平方向下待区分图像的短游程优势进行灰度加权更新,得到待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势;当待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势小于预设第二阈值时,判定待检测金属工件为单一类型的麻点缺陷,对待检测金属工件进行二次研磨;当待区分图像在灰度加权更新后的短游程优势大于等于预设第二阈值时,判定待检测金属工件为附着颗粒或粉尘的伪缺陷,对待检测金属工件进行清洗。2.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法,其特征在于,所述并获取由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像的步骤包括:将表面图像中每个疑似缺陷区域进行填充,获取全部疑似缺陷区域的二值图像;将二值图像与表面灰度图像相乘,得到由全部疑似缺陷区域构成的待区分图像。3.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法,其特征在于,所述将待区分图像中的灰度值分为多个等级得到分级后图像的步骤包括:获取待区分图像中的最大灰度值和最小灰度值;计算最大灰度值和最小灰度值的第一差值,计算该第一差值与预设划分等级数的第一比值,并将该第一比值作为每个划分等级内包含的灰度值数量;利用每个划分等级内包含的灰度值数量、待区分图像中的最大灰度值以及待区分图像中的最小灰度值,计算出每个划分等级包含的灰度值范围;将待区分图像中的灰度值按照所属划分等级进行标注得到分级后图像。4.根据权利要求1所述的一种金属研磨麻点缺陷检测方法,其特征在于,所述利用灰度游程矩阵中全部元素值计算出在光照水平方向下待区分图像的短游程优势的步骤包括:计算出...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑光晖
申请(专利权)人:南通红运金属科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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