NFC模块读卡寿命测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种NFC模块读卡寿命测试装置，包括：竖向支撑装置；用于放置带有NFC模块的电子产品的测试平台，所述测试平台固定于所述竖向支撑装置的底部；可沿所述竖向支撑装置往复运动的运动机构，所述运动机构上固定有用于放置NFC卡的水平放置架，所述水平放置架对位于所述测试平台；固定于所述竖向支撑装置的顶部的控制器，所述控制器控制连接于所述运动机构。本实用新型专利技术结构简单、操作方便、可靠性高、且能够高效准确地测量电子产品中NFC模块的读卡寿命。的读卡寿命。的读卡寿命。

【技术实现步骤摘要】
NFC模块读卡寿命测试装置


[0001]本技术涉及电子产品测试领域，特别涉及一种NFC模块读卡寿命测试装置。

技术介绍

[0002]目前市面上NFC卡的种类繁多，随着经济的发展，人们对电子产品 NFC模块的读卡可靠性和读卡寿命的要求越来越高，但目前还没有专门针对电子产品中NFC模块的读卡寿命进行测试的测试装置。

技术实现思路

[0003]为了解决上述问题，本技术提供了一种NFC模块读卡寿命测试装置，结构简单、操作方便、可靠性高、且能够高效准确地测量电子产品中NFC模块的读卡寿命。
[0004]本技术通过如下方案来实现：一种NFC模块读卡寿命测试装置，包括：
[0005]竖向支撑装置；
[0006]用于放置带有NFC模块的电子产品的测试平台，所述测试平台固定于所述竖向支撑装置的底部；
[0007]可沿所述竖向支撑装置往复运动的运动机构，所述运动机构上固定有用于放置NFC卡的水平放置架，所述水平放置架对位于所述测试平台；
[0008]固定于所述竖向支撑装置的顶部的控制器，所述控制器控制连接于所述运本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种NFC模块读卡寿命测试装置，其特征在于，包括：竖向支撑装置；用于放置带有NFC模块的电子产品的测试平台，所述测试平台固定于所述竖向支撑装置的底部；可沿所述竖向支撑装置往复运动的运动机构，所述运动机构上固定有用于放置NFC卡的水平放置架，所述水平放置架对位于所述测试平台；固定于所述竖向支撑装置的顶部的控制器，所述控制器控制连接于所述运动机构。2.如权利要求1所述的NFC模块读卡寿命测试装置，其特征在于，所述水平放置架包括矩形框，所述矩形框上分隔设置有用于一一对应放...

【专利技术属性】
技术研发人员：程凌新，
申请(专利权)人：上海晨兴希姆通电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：