扫描装置以及测距装置制造方法及图纸

扫描装置包括第一照射部、第二照射部、扫描部、导波部以及检测部。第一照射部照射用于扫描对象物的第一电磁波。第二照射部照射第二电磁波。扫描部使由第一照射部照射的第一电磁波和由第二照射部照射的第二电磁波偏转并输出。导波部将由扫描部输出的第二电磁波的至少一部分引导至与第一电磁波不同的方向。检测部检测被导波部引导至与第一电磁波不同的方向的第二电磁波。的第二电磁波。的第二电磁波。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】扫描装置以及测距装置
[0001]相关申请的相互参照
[0002]本申请主张2020年3月19日在日本申请的日本特愿2020
‑
49980的优先权，并将在先申请的全部内容引入于此以用于参照。


[0003]本专利技术涉及扫描装置以及测距装置。

技术介绍

[0004]近年来，正在不断地研发从电磁波的检测结果获取与周边物体等相关的信息的装置。例如，已知有利用激光雷达来测定由红外线摄像头拍摄的图像中的物体的位置的装置等(例如，专利文献1)。另外，作为扫描电磁波的扫描装置，有通过反射镜使从照射部照射的电磁波反射从而偏转的装置(例如，专利文献2)。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：日本特开2011－220732号公报
[0008]专利文献2：日本特开2015－132762号公报

技术实现思路

[0009]一实施方式的扫描装置包括：
[0010]第一照射部，照射用于扫描对象物的第一电磁波；
[0011]第二照射部，照射第二电磁波；
[0012]扫描部，使由所述第一照射部照射的第一电磁波和由所述第二照射部照射的第二电磁波偏转并输出；
[0013]导波部，将由所述扫描部输出的所述第二电磁波的至少一部分引导至与所述第一电磁波不同的方向；以及
[0014]检测部，检测被所述导波部引导至与所述第一电磁波不同的方向的第二电磁波。
[0015]另外，一实施方式的测距装置包括一实施方式的扫描装置。
[0016]另外，一实施方式的扫描装置包括：
[0017]扫描部，使射入的电磁波偏转；
[0018]导波部，将因所述扫描部而偏转的电磁波分离为第一电磁波和第二电磁波；以及
[0019]检测部，检测因所述导波部而分离的第二电磁波。
[0020]所述检测部定位于因所述扫描部而偏转的电磁波中的因所述导波部而分离的第一电磁波的照射范围外。
[0021]如上所述，以扫描装置以及测距装置说明了本专利技术的解决问题的手段。本专利技术可以以包括它们的形态实现，另外，也可以以与它们实质上相同的方法、程序、记录有程序的存储介质实现，应当理解为本专利技术的范围包括这些。
附图说明
[0022]图1是示出一实施方式的扫描装置的概略构成的图。
[0023]图2是从另一方向观察图1所示的扫描装置的概略构成的图。
[0024]图3是从又一方向观察图1所示的扫描装置的概略构成的图。
[0025]图4是示出一实施方式的配置有检测部的基板的图。
[0026]图5是示出用于说明一实施方式的扫描装置的效果的比较例的概略构成的图。
具体实施方式
[0027]在扫描电磁波的扫描装置中，例如，利用基于微机械技术的机电转换元件等来旋转驱动使电磁波偏转的反射镜。在这种装置中，有时为了检测出被旋转驱动的反射镜的摆动角(摆角)，而使用检测因该反射镜而偏转的电磁波的传感器，例如光电二极管。这种传感器有必要配置于可检测因反射镜而偏转的电磁波的位置。因此，在通过电磁波来进行扫描的扫描装置中，照射电磁波的范围(可扫描范围)因用于检测反射镜的摆动角度的传感器的配置位置而受限。本专利技术的目在于，提供一种可以确保或扩张照射电磁波的范围的扫描装置以及测距装置。根据一实施方式，可以提供一种可确保或扩张照射电磁波的范围的扫描装置以及测距装置。以下，参照附图，对一实施方式的扫描装置进行说明。
[0028]图1至图3是示出一实施方式的扫描装置的概略构成的图。图1是示出一实施方式的扫描装置的概略构成的立体图。图2是示出从与图1不同的方向观察图1所示的扫描装置的概略构成的图(俯视图)。图3是从与图1和图2不同的方向观察图1和图2所示的扫描装置的概略构成的图(右视图)。
[0029]在图1至图3所示的坐标轴中，X轴正方向可以与图2中的右方向对应，X轴负方向可以与图2中的左方向对应。在图1至图3所示坐标轴中，Y轴正方向可以与图1中的朝内方向(被反射镜反射的电磁波的行进方向)对应，Y轴负方向可以与图1中的朝外方向对应。在图1至图3所示的坐标轴中，Z轴正方向可以与图3中的上方向对应，Z轴负方向可以与图3中的下方向对应。
[0030]如图1至图3所示，一实施方式的扫描装置1可以包括基板10、第一检测部21、第二检测部22、第一照射部31、第二照射部32、合成部40、扫描部50、导波部60以及射出部70。一实施方式的扫描装置1可以将上述功能部全部包括，也可以包括上述功能部以外的功能，也可以不包括上述功能部的一部分。
[0031]在图1至图3中，上述各功能部彼此充分地分开，以便于说明。在实际构成一实施方式的扫描装置1时，构成扫描装置1的各功能部可以比图1至图3所示的状态更密集。例如，扫描装置1可以将各功能部配置为适合几厘米见方的程度的小型地构成。
[0032]在图1至图3中，从各功能块凸出的箭头表示光束状的电磁波。另外，图1至图3所示的各功能块可以以有线或无线的方式适当地与控制和/或驱动所述各功能块的各种功能部连接。在图1至图3中，省略了控制和/或驱动各功能块的各种功能部，以便于说明。进一步，图1至图3所示的各功能块可以适当地与向所述各功能块供电的功能部连接。在图1至图3中，省略了向各功能块供电的功能部，以便于说明。图1至图3所示的各功能块可以适当地固定和/或定位在如图1至图3所示的各位置。在图1至图3中省略了固定和/或定位各功能块的各种部件，以便于说明。
[0033]如下述的进一步说明，一实施方式的扫描装置1可以照射电磁波，并且使照射的电磁波偏转输出。通过扫描装置1而偏转的电磁波的至少一部分可以被规定的对象物(物体等)反射。被规定的物体等反射的电磁波(反射波)可以被例如电磁波检测装置等检测。可以以包含一实施方式的扫描装置1和如上所述的电磁波检测装置的方式构成一实施方式的信息获取系统(例如，测距装置)。即，一实施方式的测距装置可以包括一实施方式的扫描装置1并且可以测量到对象物的距离。一实施方式的信息获取系统可以采用，例如，在“光检测和测距”或“激光图像检测和测距”中使用的LIDAR(Light Detection and Ranging(光探测和测距),Laser Imaging Detection and Ranging(激光成像探测与测距”))的技术。根据一实施方式的信息获取系统，例如，可以通过测量针对以脉冲形状发光的激光照射的散乱光，来分析到位于相对远距离的对象的距离和/或该对象的性质等。
[0034]如图1和图2所示，在扫描装置1中，基板10可以是将X轴方向设定为长度方向，将Y轴方向设定为宽度方向的基板。另外，如图3所示，基板10可以是在Z轴方向上具有厚度的基板。如图1至图3所示，基板10可以在扫描装置1中固定为与XY平面平行。如图3所示，基板10具有第一面10A和第二面10B。基板10的第一面10A可以是基板10中朝向Z轴负方向的面，即可以是基板10的朝本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种扫描装置，其中，包括：第一照射部，照射用于扫描对象物的第一电磁波；第二照射部，照射第二电磁波；扫描部，使由所述第一照射部照射的第一电磁波和由所述第二照射部照射的第二电磁波偏转并输出；导波部，将由所述扫描部输出的所述第二电磁波的至少一部分引导至与所述第一电磁波不同的方向；以及检测部，检测被所述导波部引导至与所述第一电磁波不同的方向的第二电磁波。2.根据权利要求1所述的扫描装置，其中，所述检测部定位于由所述扫描部输出的第一电磁波的照射范围外。3.根据权利要求1或2中任一项所述的扫描装置，其中，包括：合成部，使所述第一电磁波的行进方向和所述第二电磁波的行进方向一致，所述扫描部使从所述合成部输出的第一电磁波和第二电磁波进行扫描。4.根据权利要求3所述的扫描装置，其中，所述合成部以使由所述第一照射部照射的第一电磁波和由所述第二照射部照射的第二电磁波射入的方式定位。5.根据权利要求1至4中任一项所述的扫描装置，其中，包括：射出部，使由所述扫描部输出的第一电磁波射出，所述导波部定位在由所述扫描部输出的第一电磁波由所述射出部射出为止的路径上。6.根据权利要求1至5中任一项所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：长屋竜也，冈田浩希，高桥大助，水谷秀次，
申请(专利权)人：京瓷办公信息系统株式会社，
类型：发明
国别省市：