电机轴平键槽对称度检测治具制造技术

本实用新型专利技术涉及电机轴平键槽检测技术领域，尤其是一种电机轴平键槽对称度检测治具。其包括检具本体，所述检具本体下端面中部设置凸出的键槽检测块，键槽检测块和检具本体相互垂直设置，键槽检测块能够塞入待检测的电机轴平键槽中；所述检具本体下端面左右两侧分别设置凸出的第一检测基准块和第二检测基准块，第一检测基准块、第二检测基准块和键槽检测块相互平行设置。本实用新型专利技术结构简单，成本较低，操作方便，只需要放置到电机轴平键槽中，并采用千分尺测量两次就能够判定电机轴平键槽对称度是否满足要求，能够快速便捷的实现电机轴平键槽对称度检测，大大提高了检测效率，满足生产过程中批量检测的需求。产过程中批量检测的需求。产过程中批量检测的需求。

【技术实现步骤摘要】
电机轴平键槽对称度检测治具


[0001]本技术涉及电机轴平键槽检测
，尤其是一种电机轴平键槽对称度检测治具。

技术介绍

[0002]电机轴平键槽一般用铣刀加工形成，平键槽相对其轴线对称度的精度不易控制，电机轴平键槽对称度是否合格直接影响到电机轴的使用效果，因此，需要对加工好的电机轴平键槽进行对称度检测，保证加工成型的电机轴平键槽的对称度在合格尺寸范围内。
[0003]因此需要一种高效率的检测治具，能够对加工成型的电机轴平键槽的对称度进行快速检测，满足生产过程中批量检测的需求。

技术实现思路

[0004]本申请针对上述现有生产技术中的缺点，提供一种结构简单合理的电机轴平键槽对称度检测治具，能够快速便捷的实现电机轴平键槽对称度检测，大大提高了检测效率，满足生产过程中批量检测的需求 。
[0005]本技术所采用的技术方案如下：
[0006]电机轴平键槽对称度检测治具，包括检具本体，所述检具本体下端面中部设置凸出的键槽检测块，键槽检测块和检具本体相互垂直设置，键槽检测块能够塞入待检测的电机轴平键槽中，键槽检测块的宽度与电机轴平键槽的宽度相同；所述检具本体下端面左右两侧分别设置凸出的第一检测基准块和第二检测基准块，第一检测基准块、第二检测基准块和键槽检测块相互平行设置；所述键槽检测块左侧端面到第一检测基准块外侧端面的距离L1等于键槽检测块右侧端面到第二检测基准块外侧端面的距离L2。
[0007]进一步的，键槽检测块和检具本体一体成型。
[0008]进一步的，键槽检测块下端面前后两侧分别设置过渡斜面。
[0009]进一步的，检具本体和第一检测基准块、第二检测基准块一体成型。
[0010]进一步的，第一检测基准块和第二检测基准块在前后方向上相互错开设置，错开的空间能够容纳进行检测的千分尺的一端接触电机轴一侧端面。
[0011]本技术的有益效果如下：
[0012]本技术结构简单，成本较低，操作方便，只需要放置到电机轴平键槽中，并采用千分尺测量两次就能够判定电机轴平键槽对称度是否满足要求，能够快速便捷的实现电机轴平键槽对称度检测，大大提高了检测效率，满足生产过程中批量检测的需求。
附图说明
[0013]图1为本技术第一视角立体图。
[0014]图2为本技术第二视角立体图。
[0015]图3为本技术主视图。
[0016]图4为本技术检测示意图。
[0017]其中：1、检具本体；2、键槽检测块；3、第一检测基准块；4、第二检测基准块；5、过渡斜面；D、电机轴；E、平键槽。
具体实施方式
[0018]下面结合附图，说明本技术的具体实施方式。
[0019]如图1和图2所示的实施例中，电机轴平键槽对称度检测治具包括检具本体1，检具本体1下端面中部设置凸出的键槽检测块2，键槽检测块2和检具本体1相互垂直设置，键槽检测块2能够塞入待检测的电机轴平键槽E中。键槽检测块2的宽度与电机轴平键槽E的宽度相同。键槽检测块2和检具本体1一体成型。
[0020]如图1和图2所示的实施例中，键槽检测块2下端面前后两侧分别设置过渡斜面5，过渡斜面5能避免检测时对电机轴平键槽E造成磕碰伤。
[0021]如图1和图2所示的实施例中，检具本体1下端面左右两侧分别设置凸出的第一检测基准块3和第二检测基准块4，第一检测基准块3、第二检测基准块4和键槽检测块2相互平行设置。检具本体1和第一检测基准块3、第二检测基准块4一体成型。
[0022]如图3所示的实施例中，键槽检测块2左侧端面到第一检测基准块3外侧端面的距离L1等于键槽检测块2右侧端面到第二检测基准块4外侧端面的距离L2。
[0023]如图4所示，在进行检测时，第一检测基准块3外侧面和电机轴D左侧端面分别为第一次千分尺测量的第一接触端面和第二接触端面，第一次千分尺测量能够测得距离A，第二检测基准块4外侧面和电机轴D右侧端面分别为第二次千分尺测量的第一接触端面和第二接触端面，第二次千分尺测量能够测得距离B。
[0024]如图1和图2所示的实施例中，第一检测基准块3和第二检测基准块4在前后方向上相互错开设置，错开的空间能够容纳进行检测的千分尺的一端接触电机轴D一侧端面。
[0025]本技术进行电机轴平键槽对称度检测的方法是：如图4所示，在进行电机轴平键槽E对称度检测时，首先将检具本体1的键槽检测块2从上往下塞入电机轴平键槽E中，键槽检测块2左右两侧端面分别和电机轴平键槽E的左右两侧面接触。接着使用千分尺进行第一次测量，将千分尺两个测量端分别接触第二检测基准块4外侧面和电机轴D左侧端面，千分尺能够测得距离A。然后使用千分尺进行第二次测量，将千分尺两个测量端分别接触第一检测基准块3外侧面和电机轴D右侧端面，千分尺能够测得距离B，计算A和B的差值，当结果小于等于0.02mm的时候，该电机轴平键槽E的对称度符合要求，当结果大于0.02的时候，该电机轴平键槽E的对称度不符合要求。
[0026]本技术结构简单，操作方便，只需要放置到电机轴平键槽中，并采用千分尺测量两次就能够判定电机轴平键槽对称度是否满足要求，能够快速便捷的实现电机轴平键槽对称度检测，大大提高了检测效率，满足生产过程中批量检测的需求。
[0027]以上描述是对本技术的解释，不是对技术的限定，本技术所限定的范围参见权利要求，在本技术的保护范围之内，可以作任何形式的修改。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电机轴平键槽对称度检测治具，包括检具本体（1），其特征在于：所述检具本体（1）下端面中部设置凸出的键槽检测块（2），键槽检测块（2）和检具本体（1）相互垂直设置，键槽检测块（2）能够塞入待检测的电机轴平键槽中，键槽检测块（2）的宽度与电机轴平键槽的宽度相同；所述检具本体（1）下端面左右两侧分别设置凸出的第一检测基准块（3）和第二检测基准块（4），第一检测基准块（3）、第二检测基准块（4）和键槽检测块（2）相互平行设置；所述键槽检测块（2）左侧端面到第一检测基准块（3）外侧端面的距离L1等于键槽检测块（2）右侧端面到第二检测基准块（4）外侧端面的距离L2。2.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海丰，葛钧，单益祥，
申请(专利权)人：无锡东元电机有限公司，
类型：新型
国别省市：