图像处理系统和计算机程序技术方案

图像处理系统具有：处理器；存储器；以及存储装置，其保存有根据拍摄合格品而得的至少一张合格品图像生成的至少一张合格品微分图像的数据。处理器按照程序而执行如下处理：获取拍摄被检查物而得的检查用图像的数据；生成获取到的检查用图像的微分图像；按照合格品微分图像和所生成的微分图像的相同的位置的每个像素，计算所生成的微分图像的像素值和合格品微分图像的像素值之差或之比；以及在差或比大于预先确定的情况下，检测赋予了差或比的检查用图像的像素作为包含被检查物的缺陷的像的像素的候选。像素的候选。像素的候选。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像处理系统和计算机程序


[0001]本公开涉及图像处理系统和计算机程序。

技术介绍

[0002]以往，利用对被检查物进行拍摄而获取的图像，进行对被检查物是否存在缺陷、即被检查物是否为合格品进行判定的外观检查。
[0003]例如，在日本特开2000
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132684号公报中公开了能够与条纹图案区别地检测在具有条纹图案的被检查物的表面产生的缺陷的外观检查方法。在日本特开2000
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132684号公报中，通过图像的微分处理检测条纹的边缘，着眼于检测出的边缘的紊乱，判定有无缺陷。
[0004]在日本特开2000
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329538号公报中公开了对图像实施微分处理，进而使用二值化阈值进行二值化来判定缺陷的方法。并且，在日本特开2000
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329538号公报中，即使存在图像的不均匀性，通过按照每个规定的区域计算二值化阈值，也能够均匀地提高在整个摄像图像中提取缺陷的性能。
[0005]在日本特开2005
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265661号公报中公开了从多个合格品图像组中按照每个像素确定合格品范围，进行合格与否判定的方法。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：日本特开2000
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132684号公报
[0009]专利文献2：日本特开2000
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329538号公报
[0010]专利文献3：日本特开2005
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265661号公报

技术实现思路

[0011]专利技术要解决的课题
[0012]根据上述的任一技术，均无法检测出缺陷整体，而无法检测微分值低的像素或合格品范围内的像素。其结果为，有可能将缺陷判定为较小，或者分裂地判定为多个缺陷。
[0013]本公开的实施方式提供能够用于外观检查的新的图像处理系统和计算机程序。
[0014]用于解决课题的手段
[0015]在例示性的实施方式中，本公开的图像处理系统具有：处理器；存储器，其存储有控制所述处理器的动作的程序；以及存储装置，其保存有根据拍摄合格品而得的至少一张合格品图像而生成的至少一张合格品微分图像的数据，所述处理器按照所述程序而执行如下处理：获取拍摄所述被检查物而得的检查用图像的数据；生成获取到的所述检查用图像的微分图像；按照所述合格品微分图像和所生成的所述微分图像的相同的位置的每个像素，计算所生成的所述微分图像的像素值和所述合格品微分图像的像素值之差或之比；以及在所述差或所述比大于预先确定的情况下，检测赋予了所述差或所述比的所述检查用图像的像素作为包含所述被检查物的缺陷的像的像素的候选。
[0016]在例示性的实施方式中，本公开的计算机程序由图像处理系统的计算机来执行，
其中，所述图像处理系统具有：作为所述计算机的处理器；存储器，其存储有控制所述处理器的动作的程序；以及存储装置，其保存有根据拍摄合格品而得的至少一张合格品图像而生成的至少一张合格品微分图像的数据，所述计算机程序使所述处理器执行如下处理：获取拍摄所述被检查物而得的检查用图像的数据；生成获取到的所述检查用图像的微分图像；按照所述合格品微分图像和所生成的所述微分图像的相同的位置的每个像素，计算所生成的所述微分图像的像素值和所述合格品微分图像的像素值之差或之比；以及在所述差或所述比大于预先确定的阈值的情况下，检测赋予了所述差或所述比的所述检查用图像的像素作为包含所述被检查物的缺陷的像的像素的候选。
[0017]专利技术效果
[0018]根据本公开的例示性的实施方式，能够适当地检测出缺陷的候选。
附图说明
[0019]图1是示出具有图像处理系统100的本公开的外观检查系统1000的结构例的图。
[0020]图2是主要示意性地示出图像处理系统100的结构例的图。
[0021]图3是用于说明第1例的检测薄的划痕(线损伤)时的图像处理的流程的图。
[0022]图4是用于说明第2例的检测薄的划痕(线损伤)时的图像处理的流程的图。
[0023]图5是对比地示出原图像和进行了损伤的检测处理后的检测结果的图。
[0024]图6是示意性地示出线损伤的像素值的变化的图。
[0025]图7A是用于说明第1例的微分图像的生成处理的图。
[0026]图7B是用于说明第2例的微分图像的生成处理的图。
[0027]图8是示出在本实施方式的图像处理系统100中进行的处理的过程的流程图。
[0028]图9是用于说明本实施方式的检测结果的图。
[0029]图10是用于说明合格品图像具有像素值的平缓的梯度的情况下的本实施方式的检测结果的图。
[0030]图11是用于说明合格品图像具有像素值的陡峭的梯度和平缓的梯度的情况下的本实施方式的检测结果的图。
[0031]图12是用于说明用于抑制过度检测的又一方法的图。
具体实施方式
[0032]以下，参照附图对本公开的外观检查系统的实施方式进行说明。在本说明书中，有时省略必要以上的详细说明。例如，有时省略已经众所周知的事项的详细说明、对实质上相同的结构的重复说明。这是为了避免以下的说明变得不必要地冗长，使本领域技术人员容易理解。另外，本专利技术人为了使本领域技术人员充分理解本公开而提供附图和以下的说明，并不意图通过这些来限定权利要求书所记载的主题。在以下的说明中，对相同或类似的构成要素标注相同的参照标号。
[0033]本公开的图像处理系统例如能够适合用于工厂等制造现场中的物品或者部件的外观检查系统的预处理。以下，根据与外观检查系统的关系，对图像处理系统的结构进行说明。
[0034]图1是示出具有图像处理系统100的本公开的外观检查系统1000的结构例的图。图
2是主要示意性地示出图像处理系统100的结构例的图。
[0035]在图示的例子中，外观检查系统1000具有摄像装置30、图像处理系统100以及监视器130。图像处理系统100、输入装置120以及监视器130能够通过通用的数字计算机系统例如PC来实现。另外，摄像装置30可以是数码相机。摄像装置30通过未图示的有线的通信线缆或无线通信线路以能够通信的方式与图像处理系统100连接。监视器130通过未图示的有线的通信线缆以能够通信的方式与图像处理系统100连接。
[0036]摄像装置30对被检查物进行拍摄，并将通过拍摄获取到的图像数据发送给图像处理系统100。图像处理系统100按照后述的过程，对从摄像装置30接收到的图像数据进行用于缺陷检测的“预处理”。通过预处理，判定构成图像数据的各像素是否能够成为包含被检查物的缺陷的像的像素的候选(缺陷像素候选)。该“预处理”是本实施方式的图像处理系统100的主要的处理。
[0037]利用所有的缺陷像素候选，之后从图像数据中提取缺陷。在外观检查系统1000中，根据连续存在的缺陷像素候选的大小和/或范围，判定是否存在缺本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种图像处理系统，其具有：处理器；存储器，其存储有控制所述处理器的动作的程序；以及存储装置，其保存有根据拍摄合格品而得的至少一张合格品图像而生成的至少一张合格品微分图像的数据，所述处理器按照所述程序而执行如下处理：获取拍摄所述被检查物而得的检查用图像的数据；生成获取到的所述检查用图像的微分图像；按照所述合格品微分图像和所生成的所述微分图像的相同的位置的每个像素，计算所生成的所述微分图像的像素值和所述合格品微分图像的像素值之差或之比；以及在所述差或所述比大于预先确定的情况下，检测赋予了所述差或所述比的所述检查用图像的像素作为包含所述被检查物的缺陷的像的像素的候选。2.根据权利要求1所述的图像处理系统，其中，在生成所述微分图像的所述处理中，通过计算所述检查用图像的相互相邻的至少两个像素的像素值的微分值作为所述微分图像的各像素值，生成所述检查用图像的微分图像，在进行检测的所述处理中，在所述差或所述比大于所述预先确定的阈值的情况下，检测赋予了所述差或所述比的所述检查用图像的所述至少两个像素中的一个像素作为所述候选。3.根据权利要求2所述的图像处理系统，其中，在进行计算的所述处理中，按照每个像素计算所述微分图像的像素值与所述合格品微分图像的像素值之差。4.根据权利要求2所述的图像处理系统，其中，在进行计算的所述处理中，按照每个像素计算所述微分图像的像素值与所述合格品微分图像的像素值之比。5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的图像处理系统，其中，所述处理器保持有预先确定的像素值的第1上限值和第1下限值，所述处理器按照所述检查用图像的每个像素判定像素值是否小于所述第1下限值以及像素值是否大于所述第1上限值，在所述像素值小于所述第1下限值的情况下或者所述像素值大于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：山田荣二，
申请(专利权)人：日本电产株式会社，
类型：发明
国别省市：