一种用于PCB板测试的外引结构制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于PCB板测试的外引结构，测试箱，测试系统电路板，安装在测试系统电路板上的探针，与探针连接的外部接口，包括：用于放置待测PCB板的基座；基座安装在测试箱顶部，位于测试系统电流板上方，基座上安装有用于放置待测PCB板的测试架，测试架包括多个，每个测试架高低设置；探针设有多种，每种探针分别与多个测试架相对应，探针延伸至与对应测试架的水平位置。本实用新型专利技术所述的一种用于PCB板测试的外引结构，便于对多项PCB板检测线路的排查问题，配合使用一种用于PCB板测试的外引结构，通过束线装置对线路进行梳理，有助于排查，以及配合多个测试支撑架，适用于不同型号的PCB板测试，通过测试机测试减少了人工测试，节省人力。节省人力。节省人力。

【技术实现步骤摘要】
一种用于PCB板测试的外引结构


[0001]本技术属于PCB板测试
，尤其是涉及一种用于PCB板测试的外引结构。

技术介绍

[0002]在生产PCB成品板时，需要检测PCB板是否存在虚焊漏焊的问题，测试系统一般的测试项目多达上百项，每一项都要有一根线接插在PCB板对应焊盘上进行信号的测试，但测试内容较多时，测试机内的信号走线也就非常多，出现问题不利于排查；
[0003]信号线的测试探针是通过引出线接插的检测板的焊盘上，一般信号走线多的PCB板引出线也会比较多，并且需要熟悉走线的工人进行操作。采用传统引出线接插检测方式比较危险，如果操作人员操作不当的话容易造成PCB板的损坏，容易造成资源浪费。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术旨在提出一种用于PCB板测试的外引结构，配合使用以解决现有技术中对于焊接检测探针线路较多不利于排查及人工检测造成资源浪费的问题。
[0005]为达到上述目的，本技术的技术方案是这样实现的：
[0006]一种用于PCB板测试的外引结构，测试箱，安装在测试箱内的测试系统电路板，安装在测试系统电路板上的探针，与探针连接的外部接口，还包括：用于放置待测PCB板的基座；
[0007]基座安装在测试箱顶部，位于测试系统电流板上方，基座上安装有用于放置待测PCB板的测试架，测试架包括多个，每个测试架高低设置；探针设有多种，每种探针分别与多个测试架相对应，探针延伸至与对应测试架的水平位置。
[0008]进一步的，测试架包括多个测试架一、多个测试架二，多个测试架一包括四个，基座为框架结构，四个测试架一分别布置在基座内部的四角处，多个测试架二包括四个，四个测试架二与四个测试架一对应，四个测试架二与四个测试架一相邻安装，位于四个测试架一内部。
[0009]进一步的，四个测试架一的安装高度高于四个测试架二的安装高度，每个测试架上均设有多个安装槽，每个安装槽的高度及大小均不相同。
[0010]进一步的，测试箱内部四角处设有安装座，测试系统电路板通过螺栓固定在安装座上。
[0011]进一步的，探针包括多个第一探针、多个第二探针，第一探针高度高于第二探针高度，多个第一探针的高度与测试架一高度相对应，多个第二探针的高度与测试架二的高度相对应。
[0012]进一步的，测试箱内底部安装有多个束线件，多个束线件通过螺栓固定，所述探针通过线路与安装在测试箱外壁的外部接口连接，线路贯穿束线件。
[0013]进一步的，所述束线件包括束线卡扣、限位板，束线卡扣为钩子形状，限位板安装
在束线卡扣的开口处，限位板与束线卡扣的端部错位安装，束线卡扣一端设有弧形凸起，限位板的一端设有弧形凸边，弧形凸起与弧形凸边错位。
[0014]进一步的，限位板通过转轴安装在束线卡扣的底板上，转轴上安装有扭簧。
[0015]相对于现有技术，本技术所述的一种用于PCB板测试的外引结构具有以下优势：
[0016]本技术所述的一种用于PCB板测试的外引结构，便于对多项PCB板检测线路的排查问题，配合使用一种用于PCB板测试的外引结构，通过束线装置对线路进行梳理，有助于排查，以及配合多个测试支撑架，适用于不同型号的PCB板测试，通过测试机测试减少了人工测试，节省人力。
附图说明
[0017]构成本技术的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。
[0018]在附图中：
[0019]图1为本技术实施例所述的一种用于PCB板测试的外引结构示意图；
[0020]图2为本技术实施例所述的一种用于PCB板测试的外引结构剖视结构示意图；
[0021]图3为本技术实施例所述的束线件结构示意图。
[0022]附图标记说明：
[0023]1、测试箱；11、外部接口；12、基座；13、安装座；2、测试系统电路板；3、探针；4、测试支架一；5、测试支架二；31、第一探针；32、第二探针；6、束线件；61、束线卡扣；62、限位板；63、转轴；64、扭簧；621、凸边；65、底板。
具体实施方式
[0024]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0025]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0026]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0027]下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
[0028]如图1至图2所示，一种用于PCB板测试的外引结构，测试箱1，安装在测试箱1内的测试系统电路板2，安装在测试系统电路板2上的探针3，与探针3连接的外部接口11，其特征在于包括：用于放置待测PCB板的基座12；
[0029]基座12安装在测试箱1顶部，位于测试系统电流板上方，基座12上安装有用于放置待测PCB板的测试架，测试架包括多个，每个测试架高低设置；探针3设有多种，每种探针3分别与多个测试架相对应，探针3延伸至与对应测试架的水平位置。
[0030]测试架包括多个测试架一、多个测试架二，多个测试架一包括四个，基座12为框架结构，四个测试架一分别布置在基座12内部的四角处，多个测试架二包括四个，四个测试架二与四个测试架一对应，四个测试架二与四个测试架一相邻安装，位于四个测试架一内部。
[0031]四个测试架一的安装高度高于四个测试架二的安装高度，每个测试架上均设有多个安装槽，每个安装槽的高度及大小均不相同。
[0032]如图1所示，四个测试架一位于基座12内部的四角处，而四个测试架二位于四个测试架一的内部，并且四个测试架二高度低于四个测试架一的高度，并且四个测试架二的顶部与四个测试架一的底部平行，每个测试架上均设有安装槽，四角对应的测试架的安装槽均对应设置，形成矩形放置空间，便本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于PCB板测试的外引结构，测试箱(1)，安装在测试箱(1)内的测试系统电路板(2)，安装在测试系统电路板(2)上的探针(3)，与探针(3)连接的外部接口(11)，其特征在于包括：用于放置待测PCB板的基座(12)；基座(12)安装在测试箱(1)顶部，位于测试系统电流板上方，基座(12)上安装有用于放置待测PCB板的测试架，测试架包括多个，每个测试架高低设置；探针(3)设有多种，每种探针(3)分别与多个测试架相对应，探针(3)延伸至与对应测试架的水平位置。2.根据权利要求1所述的一种用于PCB板测试的外引结构，其特征在于：测试架包括多个测试架一、多个测试架二，多个测试架一包括四个，基座(12)为框架结构，四个测试架一分别布置在基座(12)内部的四角处，多个测试架二包括四个，四个测试架二与四个测试架一对应，四个测试架二与四个测试架一相邻安装，位于四个测试架一内部。3.根据权利要求2所述的一种用于PCB板测试的外引结构，其特征在于：四个测试架一的安装高度高于四个测试架二的安装高度，每个测试架上均设有多个安装槽，每个安装槽的高度及大小均不相同。4.根据权利要求1所述的一种用于PCB板测试的外引结构，其特征在于：测试箱(1)内部四角处设有安装座(13)，测试系统电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：王皓吉，滕浩宇，
申请(专利权)人：天津市天科云创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：