目标检测框的后处理方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种目标检测框的后处理方法、装置、电子设备及存储介质。该目标检测框的后处理方法包括：获取待处理图像的目标检测结果，目标检测结果包括待处理图像中目标物体的类别及其对应的目标检测框；获取类别对应的误检类别及其误检类别检测框；确定目标检测框和误检类别检测框的重合度；基于重合度处理目标检测框。与现有技术相比，本发明专利技术的技术方案可以基于待处理图像中目标物体对应类别的目标检测框与其相应的误报类别检测框的重合度来判断目标检测框是否为误检，从而有效降低目标检测框的误检率。检测框的误检率。检测框的误检率。

【技术实现步骤摘要】
目标检测框的后处理方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及目标检测
，尤其涉及一种目标检测框的后处理方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前，目标检测领域中广泛使用的后处理方法是非极大值抑制算法(Non
‑
maximum Suppression,简称NMS)。非极大值抑制算法可以用于消除多余的检测框，其通过对检测框置信度进行排序并且计算两个同类别检测框之间的区域交并比(Intersection over Union,简称IoU)来删去其中置信度偏低并且与同类别的其它检测框重合度较高的一部分检测框。但是，此方法对检测框的尺寸没有约束，仍然会保留不少尺寸明显不当的误检框。

技术实现思路

[0003]本专利技术解决的技术问题是，消除目标检测结果中的误检框。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种目标检测框的后处理方法，包括：获取待处理图像的目标检测结果，目标检测结果包括待处理图像中目标物体的类别及其对应的目标检测框；获取类别对应的误检类别及其误检类别检测框；确定目标检测框和误检类别检测框的重合度；基于重合度处理目标检测框。
[0005]可选地，类别为需要进行后处理的类别；后处理方法包括：获取类别的误检率，判断误检率是否大于或者等于误检阈值，若是，则确定类别需要进行后处理。
[0006]可选地，该后处理方法包括：选取不包括目标物体的类别的第一测试图像构成第一测试集；利用预设的检测网络模型对第一测试集中的每个第一测试图像进行目标检测而得到分别与每个第一测试图像对应的第一检测结果；获取第一检测结果中包括目标物体的测试检测框；将测试检测框所在第一测试图像的数量与第一测试集中所有第一测试图像的总数量之比确定为误检率。
[0007]可选地，获取类别对应的误检类别及其误检类别检测框包括：获取类别对应的误检类别；判断目标检测结果中是否包括误检类别，若是，则获取误检类别对应的误检类别检测框。
[0008]可选地，重合度包括第一重合度，第一重合度为目标检测框和误检类别检测框二者交集的面积与并集的面积的比值。
[0009]可选地，该后处理方法包括：预设不同的重合度级别及其对应的判断标准，不同的重合度级别对应于不同的判断标准；基于重合度处理目标检测框包括：获取第一重合度对应的重合度级别及其相应的判断标准，基于判断标准处理目标检测框。
[0010]可选地，该后处理方法包括：预设不同的重合度阈值范围，不同的重合度阈值范围对应于不同的重合度级别；获取第一重合度对应的重合度级别及其相应的判断标准包括：将第一重合度与不同的重合度阈值范围进行比较，以获取第一重合度所属的重合度阈值范围，获取重合度阈值范围对应的重合度级别及其对应的判断标准。
[0011]可选地，判断标准包括第一重合度判断阈值；基于判断标准处理目标检测框包括：判断第一重合度是否大于或者等于第一重合度判断阈值，若是，则消除目标检测框，若否，则保留目标检测框。
[0012]可选地，重合度包括第二重合度或者第三重合度，第二重合度包括目标检测框和误检类别检测框二者交集的面积与目标检测框的面积的比值，第三重合度包括目标检测框和误检类别检测框二者交集的面积与误检类别检测框的面积的比值；判断标准包括第二重合度判断阈值或者第三重合度判断阈值；基于判断标准处理目标检测框包括：判断第二重合度是否大于或者等于第二重合度判断阈值、或者判断第三重合度是否大于或者等于第三重合度判断阈值，若是，则消除目标检测框，若否，则保留目标检测框。
[0013]可选地，该后处理方法包括：确定目标检测框和误检类别检测框的面积比；判断标准包括面积比阈值范围；基于判断标准处理目标检测框包括：判断面积比是否位于面积比阈值范围内，若是，则消除目标检测框，若否，则保留目标检测框。
[0014]可选地，重合度包括第二重合度和第三重合度，第二重合度包括目标检测框和误检类别检测框二者交集的面积与目标检测框的面积的比值，第三重合度包括目标检测框和误检类别检测框二者交集的面积与误检类别检测框的面积的比值；判断标准包括第二重合度判断阈值和第三重合度判断阈值；基于判断标准处理目标检测框包括：判断第二重合度是否大于或者等于第二重合度判断阈值、以及判断第三重合度是否大于或者等于第三重合度判断阈值，若是，则消除目标检测框，若否，则保留目标检测框。
[0015]可选地，重合度级别包括高度重合；后处理方法还包括：预设目标检测框或者误检类别检测框的置信度阈值，获取目标检测框或者误检类别检测框的置信度，判断目标检测框的置信度是否大于或者等于目标检测框的置信度阈值、或者判断误检类别检测框的置信度是否小于或者等于误检类别检测框的置信度阈值，若是，则保留目标检测框，若否，则消除目标检测框。
[0016]可选地，重合度级别包括中度重合；后处理方法还包括：获取目标检测框和误检类别检测框的置信度，判断目标检测框的置信度是否大于或者等于误检类别检测框的置信度，若是，则保留目标检测框，若否，则消除目标检测框。
[0017]可选地，重合度级别包括中度重合；后处理方法还包括：预设置信度差值阈值，获取目标检测框和误检类别检测框的置信度，判断误检类别检测框的置信度减去目标检测框的置信度的差值是否小于或者等于置信度差值阈值，若是，则保留目标检测框，若否，则消除目标检测框。
[0018]本专利技术实施例还提供一种目标检测框的后处理装置，包括：第一获取模块，用以获取待处理图像的目标检测结果，目标检测结果包括待处理图像中目标物体的类别及其对应的目标检测框；第二获取模块，用以获取类别对应的误检类别及其误检类别检测框；第一处理模块，用以确定目标检测框和误检类别检测框的重合度；第二处理模块，用以基于重合度处理目标检测框。
[0019]本专利技术实施例还提供一种电子设备，包括：处理器；存储器，存储有可在处理器上运行的计算机程序；其中，计算机程序被处理器执行时实现上述的目标检测框的后处理方法。
[0020]本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算
机程序，计算机程序被执行时实现上述的目标检测框的后处理方法。
[0021]与现有技术相比，本专利技术实施例的技术方案具有有益效果。
[0022]例如，基于待处理图像中目标物体对应类别的目标检测框与其相应的误报类别检测框的重合度来判断目标检测框是否为误检，可以有效降低目标检测框的误检率。
[0023]又例如，目标检测框既可以基于第一重合度判断是否消除，也可以基于第二重合度或者第三重合度判断是否消除，还可以基于第二重合度和第三重合度判断是否消除，选择多样灵活，易于操作。
[0024]又例如，对于目标检测框和误检类别检测框在高度重合和中度重合的情形下，还可以结合重合度和置信度判断目标检测框是否消除，以有效提高误检判断的准确率，从而可以有效消除待处理图像中目标物体的误检框。
[0025]又例如，对于目标检测框和误检类别检测框在低度重合的情本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种目标检测框的后处理方法，其特征在于，包括：获取待处理图像的目标检测结果，所述目标检测结果包括所述待处理图像中目标物体的类别及其对应的目标检测框；获取所述类别对应的误检类别及其误检类别检测框；确定所述目标检测框和所述误检类别检测框的重合度；基于所述重合度处理所述目标检测框。2.根据权利要求1所述的后处理方法，其特征在于，所述类别为需要进行后处理的类别；所述后处理方法包括：获取所述类别的误检率，判断所述误检率是否大于或者等于误检阈值，若是，则确定所述类别需要进行后处理。3.根据权利要求2所述的后处理方法，其特征在于，包括：选取不包括所述目标物体的所述类别的第一测试图像构成第一测试集；利用预设的检测网络模型对所述第一测试集中的每个第一测试图像进行目标检测而得到分别与所述每个第一测试图像对应的第一检测结果；获取所述第一检测结果中包括所述目标物体的测试检测框；将所述测试检测框所在第一测试图像的数量与所述第一测试集中所有第一测试图像的总数量之比确定为所述误检率。4.根据权利要求1所述的后处理方法，其特征在于，所述获取所述类别对应的误检类别及其误检类别检测框包括：获取所述类别对应的误检类别；判断所述目标检测结果中是否包括所述误检类别，若是，则获取所述误检类别对应的误检类别检测框。5.根据权利要求1所述的后处理方法，其特征在于，所述重合度包括第一重合度，所述第一重合度为所述目标检测框和所述误检类别检测框二者交集的面积与并集的面积的比值。6.根据权利要求5所述的后处理方法，其特征在于，包括：预设不同的重合度级别及其对应的判断标准，不同的重合度级别对应于不同的判断标准；所述基于所述重合度处理所述目标检测框包括：获取所述第一重合度对应的重合度级别及其相应的判断标准，基于所述判断标准处理所述目标检测框。7.根据权利要求6所述的后处理方法，其特征在于，包括：预设不同的重合度阈值范围，不同的重合度阈值范围对应于不同的重合度级别；所述获取所述第一重合度对应的重合度级别及其相应的判断标准包括：将所述第一重合度与不同的重合度阈值范围进行比较，以获取所述第一重合度所属的重合度阈值范围，获取所述重合度阈值范围对应的重合度级别及其对应的判断标准。8.根据权利要求6所述的后处理方法，其特征在于，所述判断标准包括第一重合度判断阈值；基于所述判断标准处理所述目标检测框包括：判断所述第一重合度是否大于或者等于所述第一重合度判断阈值，若是，则消除所述
目标检测框，若否，则保留所述目标检测框。9.根据权利要求6所述的后处理方法，其特征在于，所述重合度包括第二重合度或者所述第三重合度，所述第二重合度包括所述目标检测框和所述误检类别检测框二者交集的面积与所述目标检测框的面积的比值，所述第三重合度包括所述目标检测框和所述误检类别检测框二者交集的面积与所述误检类别检测框的面积的比值；所述判断标准包括第二重合度判断阈值或者第三重合度判断阈值；所述基于所述判断标准处理所述目标检测框包括：判断所述第二重合度是否大于或者等于所述第二重合度判断阈值、或者判断所述第三重合度是否大于或者等于所述第三重合度判断阈值，若是，则消除所述目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾怡韵，秦亮，陈剑南，董有政，陆继承，李新伟，
申请(专利权)人：上海复旦微电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：