本申请公开了一种显示面板的残影检测方法和装置，方法包括：控制显示面板显示第一画面，第一画面包括棋盘格显示区域和第一显示区域，第一显示区域为纯色显示区域；在第一画面显示第一时长后，控制显示面板将第一画面切换为检测画面，检测画面包括与棋盘格显示区域对应的检测区域以及与第一显示区域对应的限样区域，检测区域的灰阶为第三灰阶，限样区域包括具有第三灰阶的第一子区域和具有第四灰阶的第二子区域，第三灰阶和第四灰阶之间满足预设标准限样条件；比对检测区域和限样区域，以得到显示面板的残影程度。本申请提高了棋盘格残影测试结果的准确性。残影测试结果的准确性。残影测试结果的准确性。
【技术实现步骤摘要】
显示面板的残影检测方法和装置
[0001]本申请属于显示
，尤其涉及一种显示面板的残影检测方法和装置。
技术介绍
[0002]在OLED(Organic Light
‑
Emitting Diode，有机发光二极管)显示面板出厂前，需要进行棋盘格残影测试。现有技术在进行棋盘格残影测试时，通常是在显示面板上显示残影老化画面，并在一段时间后，将残影老化画面切换为判定画面，由视效组人员观察判定画面中棋盘格消失所需的时间。但由于人工判定棋盘格消失的标准具有较强主观性，导致棋盘格残影测试的结果缺乏准确性。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供了一种显示面板的残影检测方法和装置，能够改善现有技术中棋盘格残影测试的结果缺乏准确性的问题。
[0004]第一方面，提供一种显示面板的残影检测方法，包括：
[0005]控制显示面板显示第一画面，第一画面包括棋盘格显示区域和第一显示区域，棋盘格显示区域包括矩阵排列的多个纯色子画面，每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶，第一显示区域为纯色显示区域；
[0006]在第一画面显示第一时长后，控制显示面板将第一画面切换为检测画面，检测画面包括与棋盘格显示区域对应的检测区域以及与第一显示区域对应的限样区域，检测区域的灰阶为第三灰阶，限样区域包括具有第三灰阶的第一子区域和具有第四灰阶的第二子区域，第三灰阶和第四灰阶之间满足预设标准限样条件；
[0007]比对检测区域和限样区域，以得到显示面板的残影程度。
[0008]第二方面，提供一种显示面板的残影检测装置，包括：
[0009]第一控制模块，用于控制显示面板显示第一画面，第一画面包括棋盘格显示区域和第一显示区域，棋盘格显示区域包括矩阵排列的多个纯色子画面，每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶，第一显示区域为纯色显示区域；
[0010]第二控制模块，用于在第一画面显示第一时长后，控制显示面板将第一画面切换为检测画面，检测画面包括与棋盘格显示区域对应的检测区域以及与第一显示区域对应的限样区域，检测区域的灰阶为第三灰阶，限样区域包括具有第三灰阶的第一子区域和具有第四灰阶的第二子区域，第三灰阶和第四灰阶之间满足预设标准限样条件；
[0011]比对模块，用于比对检测区域和限样区域，以得到显示面板的残影程度。
[0012]与现有技术相比，本申请实施例提供的显示面板的残影检测方法和装置，通过控制显示面板显示第一画面，并在第一画面显示第一时长后，控制显示面板将第一画面切换为检测画面，进而通过比对检测画面中的检测区域和限样区域，以得到显示面板的残影程度。其中，第一画面包括棋盘格显示区域和第一显示区域，检测画面包括检测区域和限样区域，棋盘格显示区域与检测区域对应，第一显示区域与限样区域对应，而限样区域内的第三
灰阶和第四灰阶之间满足预设标准限样条件，且限样区域对应的第一显示区域为纯色显示区域，因此限样区域不受棋盘格残影影响，且能够与棋盘格显示区域对应的检测区域同时显示，由此能够在进行人工视效比对时，以限样区域为参照标准进行残影检测，提高了棋盘格残影测试结果的准确性，使棋盘格残影测试的结果更具参考价值，从而改善了现有技术中棋盘格残影测试的结果缺乏准确性的问题。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0014]图1是本申请实施例所涉及的相关技术中的残影老化画面示意图。
[0015]图2是本申请实施例所涉及的相关技术中的判定画面示意图。
[0016]图3是本申请一实施例的显示面板的残影检测方法的可选流程示意图。
[0017]图4是本申请一实施例的显示面板的残影检测方法中第一画面的可选示意图。
[0018]图5是本申请一实施例的显示面板的残影检测方法中检测画面的一可选示意图。
[0019]图6是本申请一实施例的显示面板的残影检测方法中检测画面的另一可选示意图。
[0020]图7是本申请一实施例的残影检测方法与相关技术进行对比量测时的用时统计表。
[0021]图8是本申请一实施例的显示面板的残影检测方法在显示第一画面前设置检测点的位置示意图。
[0022]图9是图8所涉及的检测点在使用不同亮度等级以及灰阶条件下的实际显示亮度对比图。
[0023]图10是本申请一实施例的显示面板的残影检测方法中第二画面的一可选示意图。
[0024]图11是本申请一实施例的显示面板的残影检测方法中在进行限样区域的显示稳定性验证的单次判定结果表。
具体实施方式
[0025]下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本申请的全面理解。但是，对于本领域技术人员来说很明显的是，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请的更好的理解。
[0026]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将结合附图对实施例进行详细描述。
[0027]目前，在OLED显示面板出厂前，需要进行棋盘格残影测试，而参看图1至图2，该棋盘格残影测试的判定过程通常是先点亮屏幕，使显示面板(或显示模组)显示一残影老化画面，例如残影老化画面可以是图1中的8*8棋盘格。
[0028]在该残影老化画面显示一段时间后，可以控制显示面板从残影老化画面切换为一
固定灰阶(后续又称为原始检测灰阶)的判定画面(后续又称为检测画面)。而由于OLED面板的长期残影滞留，会使得原本固定灰阶的判定画面呈现如图2所示的亮度深浅不一的类棋盘格画面，而随着时间的推移，图2所示的类棋盘格画面将消失，在该过程中可以通过人眼进行目视判定，即由视效组人员判定棋盘格消失所需达到的时间。
[0029]但由于判定人员具有主观性，由此不同判定人员对同一片屏幕棋盘格消失的时间判定上存在差异，因此对不同批次产品的验证数据之间的对比造成干扰，使得经过棋盘格残影测试的结果准确性低，测试结果本身缺乏参考性。
[0030]为了解决上述问题，本申请实施例提供一种显示面板的残影检测方法和装置，通过对显示面板的棋盘格残影测试时，点亮屏幕后所输出的残影老化画面和判定画面进行了改进，使得判定人员在目视判定时，可以以判定画面(即检测画面)上显示的限样区域为参考，对同时显示的检测画面的残影消失时间进行判定，进而得到显示面板的残影程度，以提高残影测试结果的准确性和残影测试结果的参考价值。
[0031]以下结合附图，先对本申请实施例提供的显示面板的残影检测方法进行说明。
[0032]请一并参看图3至图6，在本申请显示面板的残影本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板的残影检测方法，其特征在于，包括：控制所述显示面板显示第一画面，所述第一画面包括棋盘格显示区域和第一显示区域，所述棋盘格显示区域包括矩阵排列的多个纯色子画面，每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶，所述第一显示区域为纯色显示区域；在所述第一画面显示第一时长后，控制所述显示面板将所述第一画面切换为检测画面，所述检测画面包括与所述棋盘格显示区域对应的检测区域以及与所述第一显示区域对应的限样区域，所述检测区域的灰阶为第三灰阶，所述限样区域包括具有所述第三灰阶的第一子区域和具有第四灰阶的第二子区域，所述第三灰阶和所述第四灰阶之间满足预设标准限样条件；比对所述检测区域和所述限样区域，以得到所述显示面板的残影程度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述显示面板将所述第一画面切换为检测画面，包括：控制所述显示面板将第一亮度等级下的所述第一画面切换为在第二亮度等级下的所述检测画面；所述显示面板在所述第一亮度等级下的原始检测灰阶显示时的显示亮度为L1，所述检测画面在所述第二亮度等级下的所述第三灰阶显示时的显示亮度为L2，|L1
‑
L2|<L，L为亮度阈值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制所述显示面板显示第一画面之前，还包括：确定所述显示面板的所述第一亮度等级以及所述第一亮度等级下的所述原始检测灰阶；获取所述显示面板在所述第一亮度等级下的所述原始检测灰阶显示时的实际显示亮度和/或理论显示亮度；根据所述实际显示亮度和/或理论显示亮度，确定所述第二亮度等级以及所述第二亮度等级下的所述第三灰阶和所述第四灰阶。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述原始检测灰阶为128灰阶时，所述第三灰阶为254灰阶，第四灰阶为253灰阶。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一子区域包括矩阵排列的多个第一子画面，所述第二子区域包括矩阵排列的多个第二子画面，所述第一子画面和所述第二子画面间隔设置。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述显示面板显示第一画面...
【专利技术属性】
技术研发人员：凡艳云，
申请(专利权)人：武汉天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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