一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置，包括测试平台，所述测试平台上端的一侧固定设置有电动推杆，所述测试平台的中间处固定设置有导轨，所述导轨的上端和测试平台上端的另一侧均设置有测量运动机构。本实用新型专利技术通过在导轨上活动设置测量运动机构，在测试平台上端的另一侧孤单焊接另一个测量运动机构，则在测量运动机构上配合固定设置公插接头，在另一个测量运动机构上配合固定母插接头，在能活动的测量运动机构的一侧连接设置电动推杆，使得电动推杆上的推杆可将整体的测量运动机构直线推拉活动，接着使得测量运动机构上的公插接头可和另一个测量运动机构上固定卡装的母插接头插装配合。动机构上固定卡装的母插接头插装配合。动机构上固定卡装的母插接头插装配合。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置


[0001]本技术涉及连接件接插寿命测试
，具体为一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置。

技术介绍

[0002]随着社会经济的快速发展，连接件接插寿命测试时，在同一批生产的电子电器连接件中抽样拿出公母连接件进行插接连接，则通过重复插接连接件测试连接件接插的次数寿命。
[0003]但是，现有的测试装置对无法适应不同直径大小的连接件，从而导致测试装置整体的使用率较低。因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的测试装置对无法适应不同直径大小的连接件，从而导致测试装置整体的使用率较低等问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置，包括测试平台，所述测试平台上端的一侧固定设置有电动推杆，所述测试平台的中间处固定设置有导轨，所述导轨的上端和测试平台上端的另一侧均设置有测量运动机构；
[0006]所述测量运动机构包括配合块、活动通孔、旋转板、旋转抵柱、弹性压片、橡胶垫、配合型活动块，所述配合型活动块的上端固定焊接有配合块，所述配合块下端的两侧贯穿设置有活动通孔，所述配合块上端的中间处活动配合设置有旋转抵柱，所述旋转抵柱的下端配合设置有弹性压片，所述旋转抵柱的上端固定焊接有旋转板，所述配合型活动块上端的中间处固定设置有橡胶垫。
[0007]优选的，其中一个所述测量运动机构上配合固定设置公插接头，另一个所述测量运动机构上配合固定设置母插接头。
[0008]优选的，所述旋转抵柱的下段和弹性压片竖向活动位于活动通孔内，所述公插接头和母插接头均固定位于弹性压片和橡胶垫之间。
[0009]优选的，所述配合块上端的中间处贯穿设置有活动孔，所述活动孔内旋转固定设置有内螺纹，所述旋转抵柱的表面固定设置有外螺纹，所述配合块和旋转抵柱之间通过螺纹旋转配合活动。
[0010]优选的，其中一个所述测量运动机构的下端固定焊接有T型导块，所述导轨中间处的两侧贯穿设置有T型导槽，所述T型导块横向活动位于T 型导槽内，所述测量运动机构通过T型导块活动位于导轨的上端面。
[0011]优选的，另一个所述测量运动机构固定位于T型导槽一侧的上端面上。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]1、本技术通过在导轨上活动设置测量运动机构，在测试平台上端的另一侧孤单焊接另一个测量运动机构，则在测量运动机构上配合固定设置公插接头，在另一个测量运动机构上配合固定母插接头，在能活动的测量运动机构的一侧连接设置电动推杆，使得电动推杆上的推杆可将整体的测量运动机构直线推拉活动，接着使得测量运动机构上的公插接头可和另一个测量运动机构上固定卡装的母插接头插装配合，公插接头和母插接头之间需进行反复的推拉插装，则在多次插接过后会出现机械性的疲劳，从而导致公插接头和母插接头之间插接的松动，而公插接头和母插接头之间反复插接的次数则为其使用寿命，则工作人员可根据推动的次数记录公插接头和母插接头之间的插接次数；
[0014]2、本技术通过在配合块内旋转设置旋转抵柱，在配合块上端的中间处贯穿设置活动孔，则旋转抵柱和活动孔之间通过螺纹旋转活动配合，工作人员可通过旋转旋转板带动旋转抵柱进行旋转活动，则旋转抵柱下端的弹性压片由弹性金属制成，在配合型活动块的上段固定设置橡胶垫, 橡胶垫和弹性压片之间的配合可固定不同直径大小的公插接头或母插接头，从而使得整体的测量运动机构对公插接头和母插接头之间的插接进行检测。
附图说明
[0015]图1为本技术整体的立体结构示意图；
[0016]图2为本技术整体图1中A处的立体结构示意图；
[0017]图3为本技术图2中立体结构的侧视剖切图。
[0018]图中：1、电动推杆；2、测试平台；3、测量运动机构；301、配合块； 302、活动通孔；303、旋转板；304、旋转抵柱；305、弹性压片；306、橡胶垫；307、配合型活动块；4、导轨；5、T型导槽；6、公插接头；7、母插接头；8、T型导块。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0020]本技术所提到的电动推杆(型号为HB
‑
DJ809)可从市场采购或私人定制获得。
[0021]请参阅图1至图3，本技术提供的一种实施例：一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置，包括测试平台2，测试平台2上端的一侧固定设置有电动推杆1，测试平台2的中间处固定设置有导轨4，导轨4的上端和测试平台2上端的另一侧均设置有测量运动机构3
[0022]测量运动机构3包括配合块301、活动通孔302、旋转板303、旋转抵柱304、弹性压片305、橡胶垫306、配合型活动块307、308，配合型活动块307的上端固定焊接有配合块301，配合块301下端的两侧贯穿设置有活动通孔302，配合块301上端的中间处活动配合设置有旋转抵柱 304，旋转抵柱304的下端配合设置有弹性压片305，旋转抵柱304的上端固定焊接有旋转板303，配合型活动块307上端的中间处固定设置有橡胶垫306。
[0023]进一步，其中一个测量运动机构3上配合固定设置公插接头6，另一个测量运动机
构3上配合固定设置母插接头7，相同的测量运动机构3对公插接头6和母插接头7进行固定，进而使得公插接头6和母插接头7 在同一轴线上，使得公插接头6可和母插接头7插装配合。
[0024]进一步，旋转抵柱304的下段和弹性压片305竖向活动位于活动通孔 302内，公插接头6和母插接头7均固定位于弹性压片305和橡胶垫306 之间，活动通孔302有利于旋转抵柱304和弹性压片305竖向的活动。
[0025]进一步，配合块301上端的中间处贯穿设置有活动孔，活动孔内旋转固定设置有内螺纹，旋转抵柱304的表面固定设置有外螺纹，配合块301 和旋转抵柱304之间通过螺纹旋转配合活动，活动孔进一步提高了旋转抵柱304竖向的活动性。
[0026]进一步，其中一个测量运动机构3的下端固定焊接有T型导块8，导轨4中间处的两侧贯穿设置有T型导槽5，T型导块8横向活动位于T型导槽5内，测量运动机构3通过T型导块8活动位于导轨4的上端面，T 型导块8和T型导槽5之间横向的活动有利于整体测量运动机构3在导轨 4上的活动性。
[0027]进一步，另一个测量运动机构3固定位于T型导槽5一侧的上端面上。
[0028]工作原理：使用时，通过在导轨4上活动设置测量运动机构3，在测试平台2上端的另一侧孤单焊接另一个测量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置，包括测试平台(2)，其特征在于：所述测试平台(2)上端的一侧固定设置有电动推杆(1)，所述测试平台(2)的中间处固定设置有导轨(4)，所述导轨(4)的上端和测试平台(2)上端的另一侧均设置有测量运动机构(3)所述测量运动机构(3)包括配合块(301)、活动通孔(302)、旋转板(303)、旋转抵柱(304)、弹性压片(305)、橡胶垫(306)、配合型活动块(307)、308，所述配合型活动块(307)的上端固定焊接有配合块(301)，所述配合块(301)下端的两侧贯穿设置有活动通孔(302)，所述配合块(301)上端的中间处活动配合设置有旋转抵柱(304)，所述旋转抵柱(304)的下端配合设置有弹性压片(305)，所述旋转抵柱(304)的上端固定焊接有旋转板(303)，所述配合型活动块(307)上端的中间处固定设置有橡胶垫(306)。2.根据权利要求1所述的一种用于电子电器连接件接插寿命测试的测试装置，其特征在于：其中一个所述测量运动机构(3)上配合固定设置公插接头(6)，另一个所述测量运动机构(3)上配合固定设置母插接头(7)。3...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈奂奕，吴建臻，李讲，黄庆盛，
申请(专利权)人：深圳市虹彩检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：