高速运放测试电路制造技术

本申请提供了一种高速运放测试电路，包括被测运算放大器、辅助运放环路、第一补偿电路和第二补偿电路，其中，第一补偿电路与被测运算放大器的反相输入端连接；第二补偿电路与被测运算放大器的同相输入端连接；被测运算放大器、第一补偿电路以及第二补偿电路与所述辅助运放环路连接。本申请提供的高速运放测试电路消除了失调电流对失调电压测试的影响。消除了失调电流对失调电压测试的影响。消除了失调电流对失调电压测试的影响。

【技术实现步骤摘要】
高速运放测试电路


[0001]本申请涉及集成电路测试领域，特别是涉及一种高速运放测试电路。

技术介绍

[0002]随着集成电路技术的发展，对运算放大器的参数测试产生了更多需求。
[0003]传统的运算放大器测试电路在测试高速运放时，被测器件的自激振荡现象会导致高速运放的测试结果错误。另外，高速运放具有输入失调电流较大的特点，传统的运算放大器测试电路在测试高速运放的失调电压参数时，不能有效消除失调电流对失调电压测试的影响。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要提供一种高速运放测试电路，以消除失调电流对失调电压测试的影响。
[0005]一种高速运放测试电路，包括：被测运算放大器、辅助运放环路、第一补偿电路和第二补偿电路，其中，
[0006]所述第一补偿电路与所述被测运算放大器的反相输入端连接；
[0007]所述第二补偿电路与所述被测运算放大器的同相输入端连接；
[0008]所述被测运算放大器、所述第一补偿电路以及所述第二补偿电路与所述辅助运放环路连接。
[0009]在一个实施例中，所述第一补偿电路包括：第一运算放大器、第二运算放大器，其中，
[0010]所述第一运算放大器的同相输入端与所述被测运算放大器的反相输入端连接；
[0011]所述第二运算放大器的同相输入端与所述辅助运放环路的输出端连接。
[0012]在一个实施例中，所述第一补偿电路还包括：第一电阻、第一电容以及第一偏置电阻，其中，
[0013]所述第一电阻的第一端与所述第一运算放大器的反相输入端、以及所述第一运算放大器的输出端连接，所述第一电阻的第二端与所述第二运算放大器的反相输入端连接；
[0014]所述第一电容的第一端与所述第一电阻的第二端、以及所述第二运算放大器的反相输入端连接，所述第一电容的第二端与所述第二运算放大器的输出端连接；
[0015]所述第一偏置电阻的第一端与所述第二运算放大器的输出端、以及所述第一电容的第二端连接，所述第一偏置电阻的第二端与所述第一运算放大器的同相输入端、以及所述被测运算放大器的反相输入端连接。
[0016]在一个实施例中，所述辅助运放环路包括：第一输入电阻，所述第一输入电阻的第一端与所述第二运算放大器的同相输入端连接，所述第一输入电阻的第二端接地。
[0017]在一个实施例中，所述第二补偿电路包括：第三运算放大器、第四运算放大器，其中，
[0018]所述第三运算放大器的同相输入端与所述被测运算放大器的同相输入端连接；
[0019]所述第四运算放大器的同相输入端与所述辅助运放环路连接。
[0020]在一个实施例中，所述第二补偿电路还包括：第二电阻、第二电容以及第二偏置电阻，其中，
[0021]所述第二电阻的第一端与所述第三运算放大器的反相输入端、以及所述第三运算放大器的输出端连接，所述第二电阻的第二端与所述第四运算放大器的反相输入端连接；
[0022]所述第二电容的第一端与所述第二电阻的第二端、以及所述第四运算放大器的反相输入端连接，所述第二电容的第二端与所述第四运算放大器的输出端连接；
[0023]所述第二偏置电阻的第一端与所述第四运算放大器的输出端、以及所述第二电容的第二端连接，所述第二偏置电阻的第二端与所述第三运算放大器的同相输入端、以及所述被测运算放大器的同相输入端连接。
[0024]在一个实施例中，所述辅助运放环路还包括：第二输入电阻，所述第二输入电阻的第一端与所述第四运算放大器的同相输入端连接，所述第二输入电阻的第二端接地。
[0025]在一个实施例中，所述电路还包括：第五运算放大器，所述第五运算放大器的反相输入端与所述第一运算放大器的反相输入端、所述第一运算放大器的输出端、以及所述第一电阻的第一端连接，所述第五运算放大器的同相输入端与所述第一电容的第二端、所述第一偏置电阻的第一端、以及所述第二运算放大器的输出端连接。
[0026]在一个实施例中，所述电路还包括：
[0027]第六运算放大器，所述第六运算放大器的反相输入端与所述第三运算放大器的反相输入端、所述第三运算放大器的输出端、以及所述第二电阻的第一端连接，所述第六运算放大器的同相输入端与所述第二电容的第二端、所述第二偏置电阻的第一端、以及所述第四运算放大器的输出端连接。
[0028]在一个实施例中，所述辅助运放环路还包括：辅助运算放大器、和参考电阻，其中，
[0029]所述参考电阻的第一端外接参考电压，所述参考电阻的第二端与所述辅助运算放大器的反相输入端连接；
[0030]所述辅助运算放大器的同相输入端与所述被测运算放大器的输出端连接。
[0031]上述高速运放测试电路包括：被测运算放大器、辅助运放环路、第一补偿电路和第二补偿电路，其中，所述第一补偿电路与所述被测运算放大器的反相输入端连接；所述第二补偿电路与所述被测运算放大器的同相输入端连接；所述被测运算放大器、所述第一补偿电路以及所述第二补偿电路与所述辅助运放环路连接。相比于目前高速运放的测试电路中偏置电流流过输入电阻，产生不同压降，从而对失调电压的测试造成影响，本申请中通过第一补偿电路和第二补偿电路为被测运算放大器提供偏置电流，使偏置电流不会流过输入电阻，从而消除失调电流对失调电压测试的影响。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1为本申请一实施例中高速运放测试电路的电路示意图。
[0034]图2为本申请一实施例中高速运放测试电路的电路示意图。
[0035]图3为传统环路测试中失调电压参数的测试原理图。
[0036]图4为传统环路测试中失调电流参数的测试原理图。
具体实施方式
[0037]为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施的限制。
[0038]本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高速运放测试电路，其特征在于，包括：被测运算放大器、辅助运放环路、第一补偿电路和第二补偿电路，其中，所述第一补偿电路与所述被测运算放大器的反相输入端连接；所述第二补偿电路与所述被测运算放大器的同相输入端连接；所述被测运算放大器、所述第一补偿电路以及所述第二补偿电路与所述辅助运放环路连接。2.如权利要求1所述的高速运放测试电路，其特征在于，所述第一补偿电路包括：第一运算放大器、第二运算放大器，其中，所述第一运算放大器的同相输入端与所述被测运算放大器的反相输入端连接；所述第二运算放大器的同相输入端与所述辅助运放环路的输出端连接。3.如权利要求2所述的高速运放测试电路，其特征在于，所述第一补偿电路还包括：第一电阻、第一电容以及第一偏置电阻，其中，所述第一电阻的第一端与所述第一运算放大器的反相输入端、以及所述第一运算放大器的输出端连接，所述第一电阻的第二端与所述第二运算放大器的反相输入端连接；所述第一电容的第一端与所述第一电阻的第二端、以及所述第二运算放大器的反相输入端连接，所述第一电容的第二端与所述第二运算放大器的输出端连接；所述第一偏置电阻的第一端与所述第二运算放大器的输出端、以及所述第一电容的第二端连接，所述第一偏置电阻的第二端与所述第一运算放大器的同相输入端、以及所述被测运算放大器的反相输入端连接。4.如权利要求3所述的高速运放测试电路，其特征在于，所述辅助运放环路包括：第一输入电阻，所述第一输入电阻的第一端与所述第二运算放大器的同相输入端连接，所述第一输入电阻的第二端接地。5.如权利要求4所述的高速运放测试电路，其特征在于，所述第二补偿电路包括：第三运算放大器、第四运算放大器，其中，所述第三运算放大器的同相输入端与所述被测运算放大器的同相输入端连接；所述第四运算放大器的同相输入端与所述辅助运放环路连接。6.如权利要求5所述的高速运放测试电路，其特征在于，所述第二补偿电路还包括：第二电阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙衍翀，姜祎春，
申请(专利权)人：北京华峰测控技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：