本实用新型专利技术涉及LED灯珠分选测试领域，具体为一种用于LED灯珠批量分选的测试装置，包括底座、位于底座正上方的支架板、多个探针阵列组、上电电路板、升降座和外部驱动器，底座上设有和待测试LED板上灯珠对应的透光孔，支架板通过升降座固定连接在外部驱动器上，并可通过外部驱动器相对于底座做往复升降运动；上电电路板位于支架板正上方，并与支架板固定连接；多个探针阵列组安装在支架板和上电电路板之间，支架板上设有孔，多个探针阵列组上的探针顶部与上电电路板对应位置电气连接，探针针尖从支架板的孔伸出，可在测试时与LED板板底的灯珠引脚电气接触。本实用新型专利技术可对LED灯珠进行批量点亮测试，结构简单，测试效率高。测试效率高。测试效率高。
【技术实现步骤摘要】
一种LED灯珠批量分选测试装置
[0001]本技术涉及LED灯珠分选
，特别涉及一种用于整板LED灯珠分选的测试装置。
技术介绍
[0002]现有的LED分选工艺中，首先将整板LED灯珠切割成单颗，然后基于分光机对每颗LED灯珠点亮进行光电特性测试，最后根据光电特性逐颗分级，完成 LED分选，这样单次只能对单颗LED灯珠进行分拣。随着小间距LED市场规模不断扩大，LED灯珠尺寸微型化趋势不可阻挡，先切割后逐颗分选的工艺的方法严重制约了LED产业产能提升。
技术实现思路
[0003]本技术提供了一种用于LED灯珠批量分选测试装置，以解决现有技术中先切割后点亮测试导致效率低下的技术问题。
[0004]为达到上述目的，本技术采用如下技术方案：
[0005]一种LED灯珠批量分选测试装置，包括用于放置待测试LED板的底座、位于底座正上方的支架板、多个探针阵列组、上电电路板、升降座和外部驱动器，所述底座上设有和待测试LED板上灯珠对应的透光孔；所述支架板位于所述升降座正下方，并与其固定连接，所述升降座位于所述外部驱动器正下方，并与其固定连接，所述外部驱动器可通过所述升降座带动所述支架板相对于底座做往复升降运动；所述上电电路板位于所述支架板正上方，并与支架板固定连接；多个所述探针阵列组安装在所述支架板和上电电路板之间，支架板上设有多个供探针穿过的孔，多个所述探针阵列组上的探针顶部与所述上电电路板对应位置电气连接，探针针尖从所述支架板的孔伸出，可在测试时与放置于所述底座上的待测试LED板板底的灯珠引脚电气接触。
[0006]优选地，所述测试装置还包括压紧固定板，其设置于所述支架板的正下方，可与所述支架板贴合或分离，所述压紧固定板中间设有供多个探针阵列组上的探针伸缩的孔，其底部边缘设有朝所述底座伸出的，且与待测试LED板板边第一对应孔(81)和第二对应孔(82)孔径相匹配的第一定位结构(21)和第二定位结构(22)。
[0007]优选地，多个所述探针阵列组中的探针的长度均为：在所述压紧固定板与所述支架板贴合时，多个所述探针阵列组上的探针针尖可以伸出所述压紧固定板；在所述压紧固定板与所述支架板分离后，探针针尖位于压紧固定板与支架板之间。
[0008]优选地，所述压紧固定板通过弹性结构连接在所述支架板上，并可与所述支架板贴合或分离。
[0009]优选地，所述弹性结构为弹簧和铆柱，弹簧套设在铆柱上，所述压紧固定板上设有和铆柱对应的孔，铆柱一端铆接在支架板上，另一端套设在压紧固定板上。
[0010]优选地，所述第一定位结构和第二定位结构均为锥状。
[0011]优选地，多个所述探针阵列组上的探针顶部与所述上电电路板的连接方式为均可
拆卸连接。
[0012]优选地，所述上电电路板靠近探针顶部一面设计有和探针顶部位置一致的焊盘，多个所述探针阵列组通过螺钉安装在所述上电电路板下方，使焊盘和探针顶部电气接触。
[0013]优选地，所述上电电路板通过支撑柱和螺钉安装在所述支架板上，上电电路板四个角上设有通孔，支架板上设有相应的通孔，支撑柱位于上电电路板和支架板之间，支撑柱、上电电路板和支架板上的孔位对正，螺钉从上电电路板一侧的孔穿入，从支架板上的孔位穿出后拧上螺母。
[0014]优选地，所述升降座通过螺钉安装在所述外部驱动器上。
[0015]本技术的有益效果：
[0016]1、本技术通过在测试装置上设置多个所述探针阵列组，可实现对整板 LED同时通电点亮测试，相对传统的先分割成单颗再点亮测试的方式，本技术测试效率更高；
[0017]2、本技术利用待测试LED板板边上现有的孔，通过设置压紧固定板，其底部的第一定位结构和第二定位结构可在通电测试前对LED板的位置进行校正，使得灯珠引脚和探针阵列组的探针针尖更好对应，可避免接触不当引起的测试不良。
附图说明
[0018]图1为本技术的结构示意图；
[0019]图2为本技术的探针阵列组示意图；
[0020]图3为本技术支架板和压紧固定板的结构示意图；
[0021]图4为本技术中待测试的整板LED模型图。
[0022]附图标记说明：
[0023]1、底座；2、压紧固定板；3、支架板；4、探针阵列组；5、上电电路板； 6、升降座；7、外部驱动器；8、整板LED；21、第一定位结构；22、第二定位结构；81、板边第一定位孔；82、板边第二定位孔；83、LED灯珠。
具体实施方式
[0024]下面结合附图及具体实施例对本技术再作进一步详细的说明。在本技术的描述中，相关方位或位置关系为基于图1所示的方位或位置关系，其中，“上”、“下”是指图1的上下方向。需要理解的是，这些方位术语仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0025]另外，在本技术中的“第一”、“第二”等描述，仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或顺序。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个、三个等，除非另有明确具体的限定。
[0026]参见图1和图2，图1为本技术的结构示意图，图2本技术的探针阵列组示意图。
[0027]第一实施例：
[0028]如图1所示，图1中有多个探针阵列组4，仅示出其中一个。本申请实施例提供了一
种LED灯珠批量分选测试装置，包括底座1、位于底座正上方的支架板3、多个所述探针阵列组4、上电电路板5、升降座6和外部驱动器7，底座1用于放置待测试的LED板，其上设有和待测试LED板上灯珠对应的透光孔；上电电路板5 用于将外部电源供给测试装置；外部驱动器7通过外接气压带动测试装置工作；支架板3位于升降座6的正下方并和升降座6固定连接，升降座6位于外部驱动器7 的下方，并和外部驱动器7固定连接，外部驱动器7可通过升降座6带动支架板3 相对于底座1做往复升降运动；上电电路板5位于支架板3正上方，并与支架板3 固定连接；多个所述探针阵列组4安装在支架板3和上电电路板5之间，支架板3 上设有多个供探针穿过的孔，多个所述探针阵列组4上的探针顶部与上电电路板 5对应位置电气连接，探针针尖从支架板3的孔伸出，可在测试时与LED板板底的灯珠引脚电气接触。
[0029]操作人员将待测试LED板放置在LED灯珠批量分选测试装置的底座1上，灯珠面朝下，通电引脚面朝上；接通电源，启动测试装置开关，外部驱动器7可带动支架板3往下运动靠近LED板；随着继续下压，多个所述探针阵列组4上的探针针尖与LED板上灯珠的引脚接触通电，对LED灯珠进行整板点亮；LED点亮后发出的光通过底座1的透光孔透出，对其进行点亮检测，测试完成后外部驱动器本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LED灯珠批量分选测试装置，其特征在于，包括用于放置待测试LED板的底座(1)、位于底座正上方的支架板(3)、多个探针阵列组(4)、上电电路板(5)、升降座(6)和外部驱动器(7)，所述底座(1)上设有和待测试LED板上灯珠对应的透光孔；所述支架板(3)位于所述升降座(6)正下方，并与其固定连接，所述升降座(6)位于所述外部驱动器(7)正下方，并与其固定连接，所述外部驱动器(7)可通过所述升降座(6)带动所述支架板(3)相对于底座(1)做往复升降运动；所述上电电路板(5)位于所述支架板(3)正上方，并与支架板(3)固定连接；多个所述探针阵列组(4)安装在所述支架板(3)和上电电路板(5)之间，支架板(3)上设有多个供探针穿过的孔，多个所述探针阵列组(4)上的探针顶部与所述上电电路板(5)对应位置电气连接，探针针尖从所述支架板(3)的孔伸出，可在测试时与放置于所述底座(1)上的待测试LED板板底的灯珠引脚电气接触。2.如权利要求1所述的LED灯珠批量分选测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括压紧固定板(2)，其设置于所述支架板(3)的正下方，可与所述支架板(3)贴合或分离，所述压紧固定板(2)中间设有供多个探针阵列组(4)上的探针伸缩的孔，其底部边缘设有朝所述底座(1)伸出的，且与待测试LED板板边第一对应孔(81)和第二对应孔(82)孔径相匹配的第一定位结构(21)和第二定位结构(22)。3.如权利要求2所述的LED灯珠批量分选测试装置，其特征在于，多个所述探针阵列组(4)中的探针的长度均为：在所述压紧固定板(2)与所述支架板(3)贴合时，多个所述探针阵列组(4)上的探针针尖可以伸出所述压紧固定板(...
【专利技术属性】
技术研发人员：王耀南，周显恩，李秦豫，吴成中，刘勇华，蒋海飞，朱青，邓述海，王飞文，
申请(专利权)人：江西省通讯终端产业技术研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。