一种多相原位X射线衍射测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供的多相原位X射线衍射测试装置，涉及X射线衍射测试技术领域。该测试装置包括上盖部分、底座部分和固定件；上盖部分包括上盖本体、固定式窗片、引流导管和温度传感器，上盖本体具有通孔，固定式窗片嵌设于上盖本体的通孔，以使上盖本体形成腔体，固定式窗片用于供X射线射入腔体，引流导管与上盖本体连接，温度传感器与上盖本体连接；底座部分包括底座本体、温控模块，温控模块与底座本体连接，底座本体与上盖本体通过固定件固定连接，形成样品仓，温度传感器用于检测样品仓的温度，温控模块用于控制样品仓的温度。本实用新型专利技术的样品适用性强，X射线光路的稳定性；装置拆装便捷，操作方法简单；可实现低角度的X射线入射。射。射。

【技术实现步骤摘要】
一种多相原位X射线衍射测试装置


[0001]本技术涉及X射线衍射测试
，具体而言，涉及一种多相原位X射线衍射测试装置。

技术介绍

[0002]X射线是一种波长在埃量级的电磁波，当通过物质时，晶体内部独特的原子或分子成键及排布方式会产生不同程度的衍射现象，反映在特有的衍射图谱中。常规的X射线测试装置及方法不能满足物质在不同环境条件下结构性质变化过程的原位分析检测。特别是一些在低角度有特征衍射峰的样品，目前没有针对该类样品的原位X射线测试装置。基于上述原因，本申请的专利技术人开发设计了一种反射模式下可原位探测物质结构特征的测试装置及其测试方法。

技术实现思路

[0003]本技术的目的包括，例如，提供一种多相原位X射线衍射测试装置，其样品适用性强，X射线光路的稳定性；装置拆装便捷，操作方法简单；同时，可实现低角度的X射线入射，能够用在低角度有特征衍射峰的样品。
[0004]本技术的实施例可以这样实现：
[0005]本技术实施例提供一种多相原位X射线衍射测试装置，包括上盖部分、底座部分和固定件；r/>[0006]所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多相原位X射线衍射测试装置，其特征在于，包括上盖部分、底座部分和固定件(5)；所述上盖部分包括上盖本体(1)、固定式窗片(2)、引流导管和温度传感器(10)，所述上盖本体(1)具有通孔，且所述固定式窗片(2)嵌设于所述上盖本体(1)的通孔，以使所述上盖本体(1)形成腔体，所述固定式窗片(2)用于供X射线射入所述腔体，所述引流导管与所述上盖本体(1)连接，并与所述腔体连通，所述温度传感器(10)与所述上盖本体(1)连接；所述底座部分包括底座本体(7)、温控模块，所述温控模块与所述底座本体(7)连接，所述底座本体(7)与所述上盖本体(1)通过所述固定件(5)固定连接，所述底座本体(7)与所述上盖本体(1)的腔体形成样品仓，所述样品仓用于放置样品(9)，所述温度传感器(10)用于检测所述样品仓的温度，所述温控模块用于控制所述样品仓的温度。2.根据权利要求1所述的多相原位X射线衍射测试装置，其特征在于，所述引流导管包括第一导管(3)和第二导管(4)，所述第一导管(3)和所述第二导管(4)均与所述样品仓连通。3.根据权利要求2所述的多相原位X射线衍射测试装置，其特征在于，所述第一导管(3)与所述第二导管(4)平行且错位地设置。4.根据权利要求2或3所述的多相原位X射线衍射测试装置，其特征在于，所述上盖本体(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：王迎亚，王高锋，吴逍，魏景明，马灵涯，朱建喜，
申请(专利权)人：中国科学院广州地球化学研究所，
类型：新型
国别省市：