一种高可靠性的过零检测电路制造技术

本发明专利技术的目的是提供一种高可靠性的过零检测电路，此电路结构简单且扎实可靠通过设置比较器、六个门电路同时采用高可靠性的电平信号，不仅使电机得到最大效率，并且降低了霍尔效应IC的位置要求以及制造工艺要求，同时有效地解决了窄脉冲信号有时会产生毛刺的现象，进而提高了电路的可靠性。而提高了电路的可靠性。而提高了电路的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种高可靠性的过零检测电路


[0001]本专利技术涉及电路检测
，特别涉及一种高可靠性的过零检测电路。

技术介绍

[0002]过零检测是输入信号在过零点处使得输出信号翻转，可用于寻找无刷电机最佳的换向时刻，使电机得到最大效率，并且降低了霍尔效应IC的位置要求以及制造工艺要求。
[0003]其中CN110398622A公开了过零检测电路和传感器装置，包括第一比较电路，被输入第1输入信号n1和第2输入信号n2而输出第一比较结果；第二比较电路，具有滞后功能，被输入第1输入信号n1和第2输入信号n2而输出第二比较结果；以及逻辑电路，基于第一比较结果和第二比较结果来输出过零检测信号。所述逻辑电路的特征在于，基于第一比较结果和第二比较结果来向第二比较电路输出反转信号。
[0004]但是仍存在问题，需要用宽度很窄的脉冲去传递信号，这种窄脉冲信号有时会产生毛刺、不可靠。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种高可靠性的过零检测电路，通过设置比较器、六个门电路同时采用高可靠性的电平信号，有效地解决了窄脉冲信号有时会产生毛刺的现象，进而提高了电路的可靠性，方便推广。
[0006]为了达到上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案为：
[0007]一种高可靠性的过零检测电路，所述检测电路包括比较器和六个门电路，所述比较器内设有V1、0和V2三种比较点，所述V1>0>V2。
[0008]进一步的，所述六个门电路包括两个Strong0_1门电路、两个Strong1_1门电路、一个Strong0_1t门电路和一个Weak0_1门电路。
[0009]进一步的，所述Strong0_1门电路检测到输入信号小于V2时为高，这个信号称为强0信号，此信号为高时，直接使得OUT为0。
[0010]进一步的，所述Strong1_1检测到输入信号大于V1时为高，这个信号称为强1信号，此信号为高时，直接使得OUT为1。
[0011]进一步的，所述Strong0_1t使其强0信号置一，强1信号使其清零，这个信号记录最近出现的强信号是强0还是强1。
[0012]进一步的，所述Weak0_1检测到输入信号大于0时，此信号为高(弱1信号)；输入信号小于0时，此信号为低(弱0信号)，弱0信号只有在最近出现的强信号是强1信号的情况下(即Strong0_1t＝0)才会使得OUT清零，弱1信号只有在最近出现的强信号是强0信号的情况下(即Strong0_1t＝1)才会使得OUT置一。
[0013]进一步的，所述OUT为最终的输出信号。
[0014]本专利技术的有益效果为：
[0015]本专利技术一种高可靠性的过零检测电路，此电路结构简单且扎实可靠通过设置比较
器、六个门电路同时采用高可靠性的电平信号，不仅使电机得到最大效率，并且降低了霍尔效应IC的位置要求以及制造工艺要求，同时有效地解决了窄脉冲信号有时会产生毛刺的现象，进而提高了电路的可靠性。
附图说明
[0016]图1为本专利技术一种高可靠性的过零检测电路整体结构示意图；
[0017]图2为本专利技术一种高可靠性的过零检测电路过零检测波形图；
[0018]图3为申请公布号CN110398622A的过零检测波形；
具体实施方式
[0019]下面结合附图来进一步说明本专利技术的具体实施方式。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
[0020]为了使本专利技术的内容更容易被清楚地理解，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。
[0021]如图1，此电路结构简单且扎实可靠，仅由3个比较器和6个门电路构成。V1,0,V2为三个比较点(V1>0>V2)。电路可以过滤掉幅值小于V1(或者0
‑
V2)的干扰信号。
[0022]当输入为正弦波时，输出波形占空比为50％，正常情况下都会在输入等于0时翻转，只有当0附近有干扰信号时，输出可能会在V1(或者V2)处翻转，但这不会明显影响到输出占空比。
[0023]关键信号解析：
[0024]Strong0_1：当输入信号小于V2时为高，这个信号称为强0信号，此信号为高时，直接使得OUT为0(如图2的a、g、k时间段)；
[0025]Strong1_1：当输入信号大于V1时为高，这个信号称为强1信号，此信号为高时，直接使得OUT为1(如图2的d、p、t时间段)；
[0026]Strong0_1t：强0信号使其置一，强1信号使其清零。这个信号记录最近出现的强信号是强0还是强1；
[0027]Weak0_1：当输入信号大于0时，此信号为高(弱1信号)；输入信号小于0时，此信号为低(弱0信号)。弱0信号只有在最近出现的强信号是强1信号的情况下(即Strong0_1t＝0)才会使得OUT清零。弱1信号只有在最近出现的强信号是强0信号的情况下(即Strong0_1t＝1)才会使得OUT置一。
[0028]OUT：此信号为最终的输出信号，由强0强1弱0弱1信号确定。
[0029]以上所述仅为本专利技术专利的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术专利，凡在本专利技术专利的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本专利技术专利的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述检测电路包括比较器和六个门电路，所述比较器内设有V1、0和V2三种比较点，所述V1>0>V2。2.根据权利要求1所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述六个门电路包括两个Strong0_1门电路、两个Strong1_1门电路、一个Strong0_1t门电路和一个Weak0_1门电路。3.根据权利要求2所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述Strong0_1门电路检测到输入信号小于V2时为高，这个信号称为强0信号，此信号为高时，直接使得OUT为0。4.根据权利要求3所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述Strong1_1检测到输入信号大于V1时为高，这个信号称为强1...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：上海雁芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：