信号干扰比测量设备制造技术

技术编号:3535643 阅读:157 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
SIR测量设备用于测量所需的信号功率与噪声功率的比的S/N比,或者所需的信号功率与干扰信号功率的比的S/I比,使用一个信号点位置改变单元用于得到接收信号的I分量(同相分量)和Q分量(正交分量)的绝对值以将接收的信号转换到在一个I-Q直角坐标系的第一象限的一个信号,并且用于平方转换的信号的平均值以得到第一平均功率(所需的功率)S,一个接收功率运算单元用于计算接收信号的平方的平均值以得到第二平均功率。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一个SIR设备用于测量所需的信号功率与噪声功率的比,即S/N比,或者所需的信号功率与干扰信号功率的比,即S/I比,包括: 用于转换一个包括I分量(同相分量)和Q分量(正交分量)的接收的信号到一个I-Q直角坐标系的第一象限的一个信号,并且平方转换的信号的平均值以得到第一平均功率的装置; 用于计算接收信号的平方的平均值以得到第二平均功率的装置; 用于从第二平均功率减去第一平均功率以得到噪声功率或干扰信号功率的装置;以及 用于采用第一平均功率作为所需的信号功率,从所需信号功率和噪声功率或干扰信号功率计算S/N比或S/I比,并输出计算的比值的装置。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:大石泰之长谷和男福政英伸浜田一浅野贤彦
申请(专利权)人:富士通株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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