一种光模块低温测试系统技术方案

本实用新型专利技术属于低温测试技术领域，尤其涉及一种光模块低温测试系统，所述光模块低温测试系统包括空气净化模块、测试平台、电控模块以及水冷机；所述空气净化模块的出气端与所述测试平台的进气口连接，用于去除空气中的水分；所述测试平台用于光模块的低温测试；所述电控模块与所述测试平台电连接，用于所述测试平台内的温度控制；所述水冷机与所述测试平台水路连接，用于测试平台内TEC制冷片的冷却。本实用新型专利技术提供的光模块低温测试系统通过设置空气净化模块可以去除空气中的水分，从而防止低温下产生凝露或者凝霜，保持了测试过程中环境条件的稳定，减少了不稳定因素，提高测试准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块低温测试系统


[0001]本技术属于低温测试
，尤其涉及一种光模块低温测试系统。

技术介绍

[0002]光模块是进行电光转换的光电子器件。光模块的发送端把电信号转换为光信号，接收端把光信号转换为电信号。光模块按照封装形式分类，常见的有SFP，SFP+，SFF，千兆以太网路界面转换器(GBIC)等。
[0003]光模块需要进行低温测试，由于光模块进行低温测试时的温度都在0℃以下，环境中的水分会在模块、测试板和降温装置上凝结，从而会导致以下几个问题：1、测试板和光模块可能会有短路的风险；2、导致光纤接口等接触不良，影响测试结果的准确性；3、测试完成后光模块表面的凝霜/凝露干燥后形成水渍，造成产品外光不良。
[0004]光模块低温测试设备使用TEC制冷片控制温度升降，但是没有解决凝霜/凝露的问题，造成TEC制冷模块、光模块与空气接触的部分形成凝霜/凝露，影响测试结果和测试板的使用寿命。

技术实现思路

[0005]本技术实施例的目的在于提供一种光模块低温测试系统，旨在解决现有光模块测试时在低温下容易产生凝露或者凝霜的问题。
[0006]本技术实施例是这样实现的，一种光模块低温测试系统，所述光模块低温测试系统包括空气净化模块、测试平台、电控模块以及水冷机；
[0007]所述空气净化模块的出气端与所述测试平台的进气口连接，用于去除空气中的水分；
[0008]所述测试平台用于光模块的低温测试；
[0009]所述电控模块与所述测试平台电连接，用于所述测试平台内的温度控制；
[0010]所述水冷机与所述测试平台水路连接，用于测试平台内TEC制冷片的冷却。
[0011]优选地，所述测试平台包括盒体以及设置于盒体内的下制冷模块、测试组件以及上制冷模块；
[0012]所述下制冷模块用于冷却光模块的下表面，所述上制冷模块用于冷却光模块的上表面，所述测试组件设置于下制冷模块与上制冷模块之间。
[0013]优选地，所述下制冷模块包括下水槽、下隔温板以及下导热板；
[0014]所述下水槽的一端设置有下水槽进水口，另一端设置有下水槽出水口，下水槽进水口与下水槽出水口之间设置有水道或者储水空间；
[0015]下隔温板设置于下水槽上部，其上固定有TEC制冷片，下隔温板与TEC制冷片的散热面接触；
[0016]TEC制冷片的制冷面与下导热板接触，下导热板用于连接TEC制冷片的制冷面和光模块的下表面，以将TEC制冷片的温度传导给光模块。
[0017]优选地，所述上制冷模块包括上水槽、上隔温板以及上导热板；
[0018]所述上水槽的一端设置有上水槽进水口，另一端设置有上水槽出水口，上水槽进水口与上水槽出水口之间设置有水道或者储水空间；
[0019]上隔温板设置于上水槽下部，其上固定有TEC制冷片，上隔温板与TEC制冷片的散热面接触；
[0020]TEC制冷片的制冷面与上导热板接触，上导热板用于连接TEC制冷片的制冷面和光模块的上表面，以将TEC制冷片的温度传导给光模块。
[0021]优选地，所述测试组件包括光模块测试板以及若干个测试位；
[0022]光模块测试板通过固定件与盒体固定连接；
[0023]测试位设置于下制冷模块与上制冷模块之间，用于测试过程中光模块的固定；盒体上设置有容光模块的插入端伸入的开孔。
[0024]优选地，所述盒体的背板上设置有进水口、出口水、干燥气进口、控制模块接口、报警信号接口以及测试线束接口。
[0025]优选地，所述空气净化模块包括油雾分离器以及干燥器，压缩空气先后经过油雾分离器以及干燥器，之后通入测试平台。
[0026]本技术提供的光模块低温测试系统通过设置空气净化模块可以去除空气中的水分，从而防止低温下产生凝露或者凝霜，保持了测试过程中环境条件的稳定，减少了环境条件里的不稳定因素，提高测试准确性。
附图说明
[0027]图1为本技术实施例提供的光模块低温测试系统的整体结构图；
[0028]图2为本技术实施例提供的测试平台的外部结构图；
[0029]图3为本技术实施例提供的测试平台内部结构图；
[0030]图4为本技术实施例提供的下制冷模块结构图；
[0031]图5为本技术实施例提供的上制冷模块结构图；
[0032]图6为本技术实施例提供的测试平台的后视图；
[0033]图7为本技术实施例提供的空气净化模块的结构图。
[0034]附图中：1、空气净化模块；2、测试平台；3、控制模块；4、水冷机；5、测试位；6、下制冷模块；7、上制冷模块；8、下水槽进水口；9、上水槽出水口；10、光模块测试板；11、固定件；12、下水槽；13、下隔温板；14、下导热板；15、上水槽；16、上隔温板；17、上导热板；18、前板；19、右侧板；20、顶板；21、背板；22、报警信号接口；23、控制模块接口；24、干燥气进口；25、进水口；26、测试线束接口；27、硅胶片；28、油雾分离器；29、干燥器。
具体实施方式
[0035]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0036]以下结合具体实施例对本技术的具体实现进行详细描述。
[0037]如图1所示，为本技术实施例提供的一种光模块低温测试系统的结构图，所述
光模块低温测试系统包括空气净化模块1、测试平台2、电控模块以及水冷机4；
[0038]所述空气净化模块1的出气端与所述测试平台2的进气口连接，用于去除空气中的水分；
[0039]所述测试平台2用于光模块的低温测试；
[0040]所述电控模块与所述测试平台2电连接，用于所述测试平台2内的温度控制；
[0041]所述水冷机4与所述测试平台2水路连接，用于测试平台2内TEC制冷片的冷却。
[0042]在本实施例中，空气净化模块1主要用于除去空气中的水分，从而防止低温下测试平台2内出现凝露或者凝霜。空气可以由空气压缩机提供，也可以由厂房中集中的气站提供，压缩空气通过空气净化模块1后进入到测试平台2内。
[0043]在本实施例中，光模块在测试平台2上进行测试。电控模块可以采用PLC作为控制器，通过PLC控制TEC制冷片工作，同时还可以与空气压缩机、水冷机4等连接，控制这些设备的工作；当然，空气压缩机以及水冷机4也可以通过各自独立的控制模块3进行控制。
[0044]在本实施例中，通过水冷机4可以对测试平台2内的TEC制冷片进行冷却。水冷机4属于现有设备，本技术实施例对此不再赘述。
[0045]本技术提供的光模块低温测试系统通过设置空气净化模块1可以去除空气中的水分，从而防止低温下产生凝露或者凝本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光模块低温测试系统，其特征在于，所述光模块低温测试系统包括空气净化模块、测试平台、电控模块以及水冷机；所述空气净化模块的出气端与所述测试平台的进气口连接，用于去除空气中的水分；所述测试平台用于光模块的低温测试；所述电控模块与所述测试平台电连接，用于所述测试平台内的温度控制；所述水冷机与所述测试平台水路连接，用于测试平台内TEC制冷片的冷却。2.根据权利要求1所述的光模块低温测试系统，其特征在于，所述测试平台包括盒体以及设置于盒体内的下制冷模块、测试组件以及上制冷模块；所述下制冷模块用于冷却光模块的下表面，所述上制冷模块用于冷却光模块的上表面，所述测试组件设置于下制冷模块与上制冷模块之间。3.根据权利要求2所述的光模块低温测试系统，其特征在于，所述下制冷模块包括下水槽、下隔温板以及下导热板；所述下水槽的一端设置有下水槽进水口，另一端设置有下水槽出水口，下水槽进水口与下水槽出水口之间设置有水道或者储水空间；下隔温板设置于下水槽上部，其上固定有TEC制冷片，下隔温板与TEC制冷片的散热面接触；TEC制冷片的制冷面与下导热板接触，下导热板用于连接TEC制冷片的制冷面和光模块的下表面，以将TEC制冷片的...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏涛，
申请(专利权)人：深圳市工匠自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：