一种拓扑信号发生设备检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种拓扑信号发生设备检测装置，包括上位机单元、中控处理器单元、温度采集单元、拓扑信号采集单元、可编程数字电源、EUT表位，所述上位机单元分别与所述中控处理器单元、所述可编程数字电源、所述EUT表位通讯连接，所述中控处理器单元分别与所述拓扑信号采集单元、所述温度采集单元电气连接，所述可编程数字电源与所述EUT表位电气连接。该装置组成简单，智能化，易操作，可靠性高，适合对各种拓扑信号发生设备进行黑盒方式的评测，评判各种拓扑信号发生设备的优劣。判各种拓扑信号发生设备的优劣。判各种拓扑信号发生设备的优劣。

【技术实现步骤摘要】
一种拓扑信号发生设备检测装置


[0001]本技术涉及电力配电网
，尤其涉及一种拓扑信号发生设备检测装置。

技术介绍

[0002]目前，基于工频注入特征电流方式的低压台区拓扑识别技术已经发展成熟，其技术实现原理为，拓扑信号发生设备利用专用电路在工频低压电力线缆注入(调制)特征频率且具有特征编码信息的拓扑信号，拓扑信号识别设备通过电流互感器，从电力线缆中识别(解析)出拓扑信号，进而实现拓扑关系识别。
[0003]随着拓扑信号发生设备的完善，相应技术标准及规范也逐步形成，在标准及规范中对拓扑信号的频率、幅值、占空比、设备温升有统一要求，但目前缺乏对拓扑信号发生设备性能进行检测的装置。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题是，提供一种能够对拓扑信号发生设备的拓扑信号频率、拓扑信号幅值、拓扑信号占空比、设备温升、高低压影响进行检测评估的装置。
[0005]为解决上述技术问题，本技术提供一种拓扑信号发生设备检测装置：包括上位机单元、中控处理器单元、温度采集单元、拓扑信号采集单元、可编程数字电源、EUT表位，所述上位机单元分别与所述中控处理器单元、所述可编程数字电源、所述EUT表位通讯连接，所述中控处理器单元分别与所述拓扑信号采集单元、所述温度采集单元电气连接，所述可编程数字电源与所述EUT表位电气连接；
[0006]所述上位机单元用于人机交互，设置电源电压、拓扑信号频率、拓扑信号占空比，查看检测结果，生成检测报告；
[0007]所述中控处理器单元用于采集并处理所述拓扑信号采集单元及所述温度采集单元的输出信号，将处理结果上传至上位机单元；
[0008]所述可编程数字电源用于根据上位机单元设置的电源电压向EUT表位输出电源；
[0009]所述拓扑信号采集单元用于采集电源线中的拓扑电流信号，对信号进行处理后输出至所述中控处理器单元；
[0010]所述温度采集单元用于采集被测拓扑信号发送设备的温度及环境温度，并输出至所述中控处理器单元；
[0011]所述EUT表位用于放置被测拓扑信号发送设备，为被测拓扑信号发送设备提供电源，与上位机单元通信，根据上位机单元设置配置被测拓扑信号发送设备的拓扑信号。
[0012]更进一步，所述拓扑信号采集单元包括第一运算放大器、第二运算放大器、第三运算放大器、第四运算放大器、霍尔传感器、采样电阻、第一反馈电阻、第二反馈电阻、第三反馈电阻、第四反馈电阻；
[0013]所述霍尔传感器信号输出端同时连接所述第一运算放大器同向输入端以及所述
第三运算放大器同向输入端并通过所述采样电阻接地，所述第一运算放大器反向输入端连接所述第一运算放大器输出端，所述第一运算放大器输出端通过所述第一反馈电阻连接所述第二运算放大器反向输入端，所述第二运算放大器反向输入端通过所述第二反馈电阻连接所述第二运算放大器输出端，所述第二运算放大器同向输入端接地，所述第三运算放大器反向输入端连接所述第三运算放大器输出端，所述第三运算放大器输出端连接所述第四运算放大器同向输入端，所述第四运算放大器反向输入端通过所述第三反馈电阻接地，所述第四运算放大器反向输入端通过所述第四反馈电阻连接所述第四运算放大器输出端。
[0014]更进一步，所述霍尔传感器为电流输出型，测量范围为0A
‑
1A，精度为0.8％，响应时间<1μs，变比为40。
[0015]更进一步，所述第一运算放大器、所述第二运算放大器、所述第三运算放大器、所述第四运算放大器为低噪声、高精度运算放大器。
[0016]更进一步，所述可编程数字电源为可编程数字直流电源，所述可编程数字电源与所述上位机单元通过RS232通信线相连，根据接收到的上位机单元指令输出与交流电源有效值等值的直流电源作为测试拓扑信号发生设备的工作电源。
[0017]更进一步，所述中控处理器单元为MCU系统板，所述MCU系统板包括UART接口、GPIO接口、ADC输入接口以及中断输入接口。
[0018]更进一步，所述温度采集单元包括温度采集芯片、上拉电阻，所述温度采集芯片的输出通过所述上拉电阻连接上拉电源。
[0019]更进一步，所述上位机单元为PC机或移动终端。
[0020]更进一步，所述MCU系统板包括ARM Corex
‑
M4微控制器。
[0021]更进一步，所述温度采集芯片型号为GX18B20。
[0022]本技术的有益效果在于：
[0023]本技术公开的拓扑信号发生设备检测装置技术方案具有组成简单，智能化，易操作，高可靠等优点，适合对各种拓扑信号发生设备进行黑盒方式的评测，评判各种拓扑信号发生设备的优劣。技术方案中采用与交流电源有效值等值的直流作为测试拓扑信号发生设备的工作电源，拓扑信号被转换为脉冲直流，经过采样电阻及运放后，可直接输入到处理器的中断输入引脚和ADC采样，而通常使用交流电源的技术方案拓扑信号为叠加在工频50Hz的交流脉冲信号，经过采样采样电阻后，为交流脉冲电压，无法直接输入处理器的中断输入和ADC采样。因此，本技术公开的技术方案相比通常的采用交流拓扑信号的技术方案，测试装置组成更加简单，测试精度和可靠性更高。
附图说明
[0024]图1是本技术实施方式的结构图。
[0025]图2是本技术实施方式上位机单元操作界面示意图。
[0026]图3是图1中中控处理器单元102的MCU系统板中处理器单元MCU电路图。
[0027]图4是图1中中控处理器单元102的MCU系统板中TTL转RS232电路图。
[0028]图5是图1中拓扑信号采集单元104的电路图。
具体实施方式
[0029]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0030]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0031]还应当进一步理解，在本技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0032]如图1所示，一种拓扑信号发生设备检测装置：包括上位机单元101、中控处理器单元102、温度采集单元105、拓扑信号采集单元104、可编程数字电源103、EUT表位106。其中，上位机单元101分别与中控处理器单元102、可编程数字电源103、EUT表位106通讯连接，该通讯连接可以是RS232串口连接，也可以是有线或无线网络连接。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种拓扑信号发生设备检测装置，其特征在于，包括上位机单元、中控处理器单元、温度采集单元、拓扑信号采集单元、可编程数字电源、EUT表位，所述上位机单元分别与所述中控处理器单元、所述可编程数字电源、所述EUT表位通讯连接，所述中控处理器单元分别与所述拓扑信号采集单元、所述温度采集单元电气连接，所述可编程数字电源与所述EUT表位电气连接；所述上位机单元用于人机交互，设置电源电压、拓扑信号频率、拓扑信号占空比，查看检测结果，生成检测报告；所述中控处理器单元用于采集并处理所述拓扑信号采集单元及所述温度采集单元的输出信号，将处理结果上传至上位机单元；所述可编程数字电源用于根据上位机单元设置的电源电压向EUT表位输出电源；所述拓扑信号采集单元用于采集电源线中的拓扑电流信号，对信号进行处理后输出至所述中控处理器单元；所述温度采集单元用于采集被测拓扑信号发送设备的温度及环境温度，并输出至所述中控处理器单元；所述EUT表位用于放置被测拓扑信号发送设备，为被测拓扑信号发送设备提供电源，与上位机单元通信，根据上位机单元设置配置被测拓扑信号发送设备的拓扑信号。2.根据权利要求1所述拓扑信号发生设备检测装置，其特征在于，所述拓扑信号采集单元包括第一运算放大器、第二运算放大器、第三运算放大器、第四运算放大器、霍尔传感器、采样电阻、第一反馈电阻、第二反馈电阻、第三反馈电阻、第四反馈电阻；所述霍尔传感器信号输出端同时连接所述第一运算放大器同向输入端以及所述第三运算放大器同向输入端并通过所述采样电阻接地，所述第一运算放大器反向输入端连接所述第一运算放大器输出端，所述第一运算放大器输出端通过所述第一反馈电阻连接所述第二运算放大器反向输入端，所述第二运算放大器反向输入端通过所述第二反馈电阻连接所述第二运算放大器输出端，所述第二运算放大器同向输入端接地，所述第三运...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡亮，陈圆，敬泽安，张武娟，刘志勇，李俊，汤可，周宇，
申请(专利权)人：威胜信息技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：